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當前位置：> 供求商機> 測厚儀elektrophysik德國EPK MiniTest 730
貨物所在地：上海上海市
產(chǎn)地：德國
更新時間：2024-03-26 09:27:32
有效期：2024年3月26日 -- 2025年3月26日
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測厚儀elektrophysik德國EPK MiniTest 730涂層測厚儀技術數(shù)據(jù)表
SIDSP探頭
探頭 特性 | F1.5,，N0.7,，F(xiàn)N1.5 | F2 | F5，N2.5,，F(xiàn)N5 | F15 | ||
F | N | F | F | N | F | |
測量范圍 | 0-1.5mm | 0-0.7mm | 0-2mm | 0-5mm | 0-2.5mm | 0-15mm |
使用范圍 | 小工件,，薄涂層，跟測量支架一起使用 | 粗糙表面 | 標準探頭,，使用廣泛 | 厚涂層 | ||
測量原理 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 | 磁感應 | 電渦流 | 磁感應 |
信號處理 | 探頭內(nèi)部32位信號處理（SIDSP） | |||||
度 | ±（1μm+0.75%讀值） | ±（1.5μm+0.75%讀值） | ±（5μm+0.75%讀值） | |||
重復性 | ±（0.5μm+0.5%讀值） | ±（0.8μm+0.5%讀值） | ±（2.5μm+0.5%讀值） | |||
低端分辨率 | 0.05μm | 0.1μm | 1μm | |||
zui小曲率半徑（凸） | 1.0mm | 1.5mm | 5mm | |||
zui小曲率半徑（凹，外置探頭） | 7.5mm | 10mm | 25mm | |||
zui小曲率半徑（凹,，內(nèi)置探頭） | 30mm | 30mm | 30mm | |||
zui小測量面積 | Φ5mm | Φ10mm | Φ25mm | |||
zui小基體厚度 | 0.3mm | 40μm | 0.5mm | 0.5mm | 40μm | 1mm |
連續(xù)模式下測量速度 | 每秒20個讀數(shù) | |||||
單值模式下zui大測量速度 | 每分鐘70個讀數(shù) | |||||
測厚儀elektrophysik德國EPK MiniTest 730優(yōu)點一覽：
-SIDSP使測量不受干擾,，測值更加
-可更換探頭使用更加靈活（MINITEST 740探頭可由內(nèi)置換為外置）
-FN探頭自動識別基體,，使測量更迅速，避免操作錯誤
-溫度補償功能避免溫度變化引起的錯誤
-生產(chǎn)過程中50點校準使儀器獲得高度的特征曲線
-大存儲量,，能存儲10或100組多達100,000個讀數(shù)
-讀數(shù)和統(tǒng)計值能單獨調(diào)出
-超大,，背光顯示屏，顯示內(nèi)容可180度旋轉(zhuǎn)
-菜單指引操作,，25種語言可選
-帶IrDA接口,，紅外線傳輸數(shù)據(jù)到打印機和PC
-可下載更新軟件
標準配置： 推薦配件:
帶塑料手提箱，內(nèi)含： -F1.5/N0.7/FN1.5探頭用測量支架
-MiniTest 720(內(nèi)置探頭)
--或MiniTest 730（外置探頭）
--或MiniTest 740主機（不含探頭,，有各種探頭可選）
-校準套裝含校準片和零板
-操作使用說明CD,，德語、英語,、法語,、西班牙語
-2節(jié)AA電池
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