GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀法拉第原理

GalvanoTest 精密測(cè)厚儀，測(cè)量涂層厚度的設(shè)備,，根據(jù)庫(kù)侖法原理，用于幾乎所有電鍍單層或多層涂料：電鍍涂層如鉻,、鎳,、鎘、銅,、黃銅,、銀、金,、錫,、鋅可以測(cè)量金屬或非金屬。
陽(yáng)極溶解的方法,也稱(chēng)為法拉第的電量的方法,在電鍍工藝的線(xiàn)路上運(yùn)作:通過(guò)電解質(zhì)的電流從襯底上分離單個(gè)金屬涂層,。通過(guò)分別測(cè)量電流和時(shí)間的電化學(xué)測(cè)試確定涂層的厚度,。

Galvano涂層測(cè)厚儀 有兩種模型:

• GalvanoTest 2000:電解液靠波輪式噴嘴提供動(dòng)力
• GalvanoTest 3000:大量電解液靠循環(huán)泵提供動(dòng)力，從而保證了快速連續(xù)測(cè)量,。適合用于測(cè)量非常小的部部件和測(cè)量金層,。

GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀特點(diǎn)是： 可測(cè)實(shí)際應(yīng)用的所有鍍層 利用庫(kù)侖電量分析原理，測(cè)量鍍層,、多層鍍層 符合標(biāo)準(zhǔn)：DIN EN ISO 2177 電解測(cè)厚法：此方法有別于以上三種,，不屬于無(wú)損檢測(cè)，需要破壞涂鍍層,，一般精度也不高,。測(cè)量起來(lái)比較其他幾種麻煩。 德國(guó)EPK （Elektrophysik）公司GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀利用庫(kù)侖電量分析原理,，測(cè)量鍍層,、多層鍍層厚度。 可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合 可以測(cè)量平面,、曲面上的鍍層 可以測(cè)量小零件,、導(dǎo)線(xiàn)、線(xiàn)狀零件 預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻,、Ni鎳,、Cu銅、黃銅、Zn鋅,、Ag銀,、Sn 錫、Pb鉛,、Cd鎘,。 用戶(hù)可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)				德國(guó)EPK(Elektrophysik)公司庫(kù)侖鍍層測(cè)厚儀GalvanoTest 2000，應(yīng)用庫(kù)侖電量分析原理,。其過(guò)程類(lèi)似于電鍍,，但電化學(xué)反應(yīng)的方向相反，是電解除鍍,?？梢杂糜跍y(cè)量幾乎所有基體上的電鍍層厚度?；w包括鋼鐵,、有色金屬以及絕緣材料。例如鐵上鑷,、鐵上鋅,、銅上銀、環(huán)氧樹(shù)脂上的銅等,。 測(cè)量時(shí)只需去除幾乎看不到的一小塊面積的鍍層金屬,，而基體不受影響。庫(kù)侖法確保測(cè)量結(jié)果準(zhǔn)確,、可靠,，儀器使用簡(jiǎn)便。測(cè)量操作由儀器的指令自主完成,，操作者不需要專(zhuān)業(yè)知識(shí)
				GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀用于外設(shè)的計(jì)算機(jī)接口： MINIPRINT 微型打印機(jī)接口 RS-232,，PC計(jì)算機(jī)接口 連接x-t計(jì)錄儀模擬電壓輸出接口 測(cè)量范圍：zui大測(cè)量范圍：0.05-75μm
				統(tǒng)計(jì)計(jì)算 顯示6種統(tǒng)計(jì)值：均值、標(biāo)準(zhǔn)偏差,、變異系數(shù),、zui大、zui小值,、讀數(shù)個(gè)數(shù) 立即或稍后顯示統(tǒng)計(jì)值 顯示,、打印年、月,、日,、時(shí)、分
				GalvanoTest 2000庫(kù)倫測(cè)厚儀存儲(chǔ) 可存儲(chǔ)不同金屬測(cè)量參數(shù)的數(shù)目 可存儲(chǔ)2000個(gè)讀數(shù)和統(tǒng)計(jì)值  儀器斷電后可保持所有校準(zhǔn)值,、讀數(shù),、統(tǒng)計(jì)值。
				可測(cè)基體 可以測(cè)量70種以上鍍層/基體組合 可以測(cè)量平面、曲面上的鍍層 可以測(cè)量小零件,、導(dǎo)線(xiàn),、線(xiàn)狀零件 預(yù)置9種金屬的測(cè)量參數(shù)：Cr鉻、Ni鎳,、Cu銅,、黃銅、Zn鋅,、Ag銀,、Sn 錫、Pb鉛,、Cd鎘,。 用戶(hù)可另設(shè)置1種金屬的測(cè)量參數(shù)

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