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Elektrophysik上海代理MiniTest4100測厚儀

參考價面議
具體成交價以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號:

品       牌: ElektroPhysik/德國EPK

廠商性質(zhì):代理商

所  在  地:上海市

更新時間:2023-11-08 09:57:34瀏覽次數(shù):812

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Elektrophysik上海代理MiniTest4100測厚儀
提供不同的處理測量值的可能性??梢赃B接不同的探頭,??赏ㄟ^紅外連接口傳輸處理數(shù)據(jù),,連接打印機和計算機,。適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭,,所有的探頭都配備了耐磨桿,,確保使用壽命長,也適用于磨料基板,。

Elektrophysik上海代理MiniTest4100測厚儀

 

 

EPK測厚儀MiniTest4100提供不同的處理測量值的可能性,。可以連接不同的探頭,??赏ㄟ^紅外連接口傳輸處理數(shù)據(jù),連接打印機和計算機,。適用于多種應(yīng)用的耐磨探頭,,所有的探頭都配備了耐磨桿,確保使用壽命長,,也適用于磨料基板,。可以透過涂層進行校準(zhǔn)(CTC) ,,在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) ,,利用計算機進行基礎(chǔ)校準(zhǔn) 

 

校準(zhǔn)和測量

EPK測厚儀MiniTest4100透過涂層進行校準(zhǔn)(CTC) ,在粗糙表面上作平均零校準(zhǔn) ,,利用計算機進行基礎(chǔ)校準(zhǔn) ,,補償一個常數(shù)(Offset) ,外設(shè)的讀值傳輸存儲功能 ,,保護并鎖定校準(zhǔn)設(shè)置 ,,更換電池是存儲數(shù)值 ,設(shè)置極限值 ,公英制轉(zhuǎn)換 ,,連續(xù)測量模式快速測量,,通過模擬柱識別zui大zui小值 ,連續(xù)測量模式中測量穩(wěn)定后顯示讀數(shù) ,,浮點和定點方式數(shù)據(jù)傳送 ,,組內(nèi)單值延遲顯示 ,連續(xù)測量模式中顯示zui小值 

 

技術(shù)參數(shù)

型號

1100

2100

3100

4100

MINITEST 存儲的數(shù)據(jù)量

應(yīng)用行數(shù)(根據(jù)不同探頭或測試條件而記憶的校準(zhǔn)基礎(chǔ)數(shù)據(jù)數(shù))

1

1

10

99

每個應(yīng)用行下的組(BATCH)數(shù)(對組內(nèi)數(shù)據(jù)自動統(tǒng)計,,可設(shè)寬容度極限值)

-

1

10

99

可用各自的日期和時間標(biāo)識特性的組數(shù)

-

1

500

500

數(shù)據(jù)總量

1

10000

10000

10000

為了選擇“正確的”探頭,,要測量的涂層的厚度以及基底的厚度并且必須考慮幾何形狀。 ElektroPhysik提供一系列適用于標(biāo)準(zhǔn)和特殊應(yīng)用的探頭,。對于鋼的測量,,使用磁感應(yīng)原理,允許測量所有絕緣涂層,, G,,油漆,搪瓷等,,以及鋼鐵和黑色金屬上的有色金屬,。以磁感應(yīng)原理工作的探頭稱為F探頭。對于有色金屬上的絕緣涂層的測量,,使用渦流原理,。根據(jù)該原理工作的探針稱為N-探頭。除了不同型號的常規(guī)探頭外,,還可以根據(jù)要求提供特殊的探頭型號包括在潮濕地區(qū)使用的*密封探頭,;和溫度高達250°C和350°C適用的耐熱探頭。

非破壞性測量覆蓋以下測量范圍:

0 - 50mm鋼無磁性涂料
0 - 100mm有色金屬絕緣涂層
10-200µM絕緣基材銅層
0 - 1600µM鋼和有色金屬粉末涂料

EPK測厚儀MiniTest4100,,所有探頭都可配合任一主機使用,。在選擇zui適用的探頭時需要考慮覆層厚度,基體材料以及基體的形狀,、厚度,、大小、幾何尺寸等因素,。
F型探頭:測量鋼鐵基體上的非磁性覆層
N型探頭:測量有色金屬基體上的絕緣覆層
FN兩用探頭:同時具備F型和N性探頭的功能

探頭量程低端
分辨率
誤差zui小曲率
半徑(凸/凹)
zui小測量
區(qū)域直徑
zui小基
體厚度
探頭尺寸


應(yīng)
F050-500μm0.1μm±(1%±0.7μm)1/5mm3mm0.2mmφ15x62mm
F1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/6mm5mm0.5mmφ8x8x170mm
F30-3000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mm0.5mmφ15x62mm
F100-10mm5μm±(1%±10μm)5/16mm20mm1mmφ25x46mm
F200-20mm10μm±(1%±10μm)10/30mm40mm2mmφ40x66mm
F500-50mm10μm±(3%±50μm)50/200mm300mm2mmφ45x70mm

FN1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μm
φ15x62mm
FN1.6P0-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面30mmF0.5mm
N50μm
φ21x89mm
FN20-2000μm0.2μm±(1%±1μm)1.5/10mm5mmF0.5mm
N50μm
φ15x62mm



N020-200μm0.1μm±(1%±0.5μm)1/10mm2mm50μmφ16x70mm
N.08Cr0-80μm0.1μm±(1%±1μm)2.5mm2mm100μmφ15x62mm
N1.60-1600μm0.1μm±(1%±1μm)1.5/10mm2mm50μmφ15x62mm
N1.6/900-1600μm0.1μm±(1%±1μm)平面/10mm5mm50μmφ13x13x170mm
N100-10mm10μm±(1%±25μm)25/100mm50mm50μmφ60x50mm
N200-20mm10μm±(1%±50μm)25/100mm70mm50μmφ65x75mm
N1000-100mm100μm±(1%±0.3mm)100mm/平面200mm50μmφ126x155mm
CN0210-200μm0.2μm±(1%±1μm)平面7mm無限制φ17x80mm
注:F1.6/90,、F2/90、N1.6/90,、N2/90為直角探頭,,用于管內(nèi)測量。
N.08Cr適合銅上鉻,,F(xiàn)N2也適合銅上鉻,。
CN02用于絕緣體上的有色金屬覆層,。

 

FN1.6
0~1600μm,φ5mm
兩用測頭,可測銅鐵基體上的非磁性覆層與有色金屬 基體上的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

FN1.6P

0~1600μm,φ30mm
兩用測頭,, 特別適合測粉末狀的覆層厚度

F05
0~500μm,φ3mm
磁性測頭,,適于測量細(xì)小鋼鐵物體的薄覆層,如金屬鍍層,,氧化層等
量程低端分辨宰很高(0.1μm)

F1.6
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F3

0~3000μm,φ5mm
磁性測頭
可用于較厚的覆層

F1.6/90
0~1600μm,φ5mm
90度磁性測頭
尤其適合于在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

F10
0~10mm,φ20mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱,、管道等)上的防腐覆層,如玻璃,、塑膠,、混凝土等

F20
0~20mm,φ40mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱、管道等)上的防腐覆層,,如玻璃,、塑膠、混凝土等

F50
0~50mm,φ300mm
適合測量鋼結(jié)構(gòu)(如水箱,、管道等)上的防腐覆層的隔音覆層

N02
0~200μm,φ2mm
非磁性測頭,,尤其適合測量有色金屬基體上的氧化層等很薄的絕緣覆層
量程低端分辨率很高(0.1μm)

N0.8Cr
0~80μm,φ2mm
適用于測量銅、鋁,、黃銅上的極薄鍍鉻層

N1.6
0~1600μm,φ2mm
非磁性測頭,,適于測量有色金屬基體上的較薄的絕緣覆層

 

N10
0~10mm,φ50mm
非磁性測頭,適于測量較厚的絕緣覆層,,如橡膠玻璃等

N20
0~20mm,φ70mm
非磁性測頭,,適于測量較厚的絕緣覆層,,如橡膠玻璃等

N100
0~100mm,200mm
非磁性測頭,,適于測量較厚的絕緣覆層,如橡膠玻璃等

CN02
10~200μm,φ7mm
用于測量絕緣材料上的有色金屬覆層,,如覆銅板

量程低端分辨率很高(0.1μm)

N1.6/90
0~1600μm,φ5mm
磁性測頭,,適于測量較薄的絕緣覆層
尤其適合在管內(nèi)壁測量
量程低端分辨率很高(0.1μm)

 

測量注意事項

1.為了減少測量體材質(zhì)對測量精度的影響。建議采用不帶涂層的測量體或與測量體材質(zhì)相同的標(biāo)準(zhǔn)試塊作為校準(zhǔn)用基準(zhǔn)塊,。

2.測量完畢,,輕按一下電源鍵,關(guān)斷整機電源,,并在測量頭的觸頭及基準(zhǔn)塊上涂少許油脂以防生銹,。

3.本儀器有自動關(guān)機功能如不進行任何操作大約一分鐘后就自動關(guān)機。

4.儀器應(yīng)防止劇烈震動,、撞擊,。使用后應(yīng)擦凈儀器表面油污放入儀器箱內(nèi)妥善保存。

5.嚴(yán)禁敲擊或碰撞探頭以免影響探頭性能,;嚴(yán)禁捏住探頭尾部測量,。

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