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膜厚儀在運用涂層測厚儀測量時盡量運用被測材質來作為調(diào)零的基體,，以防止因為不同的材質而致使導磁性不同,，而呈現(xiàn)測量誤差。等到在被測材質的同一部位調(diào)零以后,，再實行一樣部位的測量,，如在側臉工件邊緣及中間部分時當分別調(diào)零。
在應用膜厚儀儀實行測量時還該當注意探頭和被測料面維持垂直,，以免發(fā)生大的誤差,。若是測量的同一個點，可將探頭每次都離開10公分以上,，間隔幾秒后再實行測量,，以免被測材質探頭磁化而影響測量結果。
膜厚儀作為調(diào)零用的外表面須要盡量維持光滑,，假如外表面不光滑,，該當視狀況取平均值，由于外表面粗糙度對測量的數(shù)值影響較大,。構造不同應分別實行調(diào)零測量,，平面調(diào)零側臉平面，測量凹面調(diào)零后測量,，測量凸面調(diào)零后實行測量,，防止因為構造不同而在測量上發(fā)生誤差。
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