MINITEST1100/2100有以下五種不同的校準方式:
標準校準:適合平整光滑的表面和大致的測量,。例如,，低于一點校準精度要求的場合,。
一點校準:置零,，不用標準箔,。用于允許誤差超過3%的場合,。
二點校準:置零,， 用一片標準箔。用于誤差范圍在1-3%(* 大)之間的測量,。探頭誤差范圍應(yīng)另考慮,。
二點校準:置零，用二片標準箔,。用于以下場合:
A).在粗糙表面測讀;
B).厚度在兩片箔厚之間的平滑表面的精確測量,。
透過厚度未知涂層的校準:用箔校準(僅適用于F06、F1.6,、F3,、作F用的FN2測頭,，以及F1.6/90、F2/90,、F10,、F20、F50探頭),。如果被測樣本在校準時,，沒有無涂層的用于比較的樣本，應(yīng)當采用此法校準,。注意:校準箔是指所有的校準標準,，包括2mm，5mm,，10mm 厚的標準板,。

保存校準值
儀器在條件下校準，其校準值即存入內(nèi)存,，直到再次校準(見3.1.8),。若使用同一個探頭，要改變校準值,，只需重新做一次校準,，這樣就自動.刪除先前的校準值，存入新值備用,。
注意:在校準過程中出現(xiàn)下列情況必須重新校準:
?        讀入錯誤讀數(shù)
?        輸入錯誤命令
?        儀器關(guān)機

校準舉例
精確的測量必須校準,，校準樣本越接近被測樣本，校準和測量就越準確,。例如:如果被測樣本是一個直徑為6mm的低碳鋼柱,，那么無涂層校準樣本的直徑和材料也必須相同。校準樣本必須在下列幾點上與被測樣本相符:
?        表面曲率半徑
?        基體材料
?        基體厚度
?        被測面積
校準樣本上,，校準點位置必須與產(chǎn)品的測量點一致,。如果測量小樣本或邊角位置，建議用精密支架定位,。

基體厚度的影響：
只要鋼基體厚度大于探頭的量程,，對測量就沒有影響。
對于有色金屬,，基體厚度大于40μm就足夠了,。但要保證基體在探頭接觸壓力下不變形，例如可以把一塊薄鋁片放在硬質(zhì)基體.上測量,。隨附的鋼,、鋁零板僅用于測試，一般不用于校準,。除非待測樣本表面平滑并具備以下條件,，零板方可用于校準:
1) 鋼部件厚度超過1mm,， 可以把零板放在被測樣本上校準。
2) 鋁部件厚度超過40μm,，所附鋁箔可用于校準,。測量時要把鋁箔緊貼在一塊硬質(zhì)基體_上。

校準分述.
基本步驟如下:
1) 按相關(guān)的校準鍵(ZERO,CAL或CTC)開始校準;
2) 將探頭置于試板上,，
3) 再按校準鍵(ZERO,，|CAL， CTC)停止校準,。
使用標準校準
標準校準適用于除CN02外的所有探頭,。方法如下:
1) 按ZERO鍵
2) 按CLEAR鍵
3) 讀數(shù)
存儲在儀器中的標準校準僅只適用于平滑表面的測量，例如:
a).生鐵,， b).鋁材.上,。
注意:重要的是記錄下多個物涂層樣本上的精確的零讀數(shù)。否則,，須使用一點或兩點校準.

無箔的一點校準
(只校零,，適用于除CNO2外的所有探頭)， 步驟如下:
1) 按ZERO鍵,，啟動零校準,。顯示屏將顯示ZERO(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN表示顯示的是平均值,。
2) 將探頭置于無涂層樣本上(即零測厚),，嘀一聲后再抬起探頭。重復(fù)多次,，顯示器始終顯示先前讀數(shù)的平均值,。
3) 按ZERO鍵,，ZERO字樣停止閃爍,。
4) 校準完成，開始測量,。
5) 若要消除零校準,，方法有二:
a) 按ZERO+CLEAR鍵，即刪除零校準和任何存在的校準值,。注意:這樣須重新使用平滑表面的標準校準,。
b) 重復(fù)以上1-3步，重新開始零校準,。

兩點校準(帶有一片校準箔的零校準)
適用于所有探頭(CNO2除外)的高精度測量,，小部件測量和硬的低合金鋼。
1) 按ZERO鍵,，開始零校準,，顯示屏將顯示ZERO(閃)和MEAN(不閃),,、MEAN'表 示讀數(shù)是平均值。
2) 將探頭置于無涂層樣板上,，“嘀”一聲后抬起探頭,。如此若干次。顯示器總是顯示先前讀數(shù)的平均值,。按CLEAR中止零校準,。
3) 按ZERO鍵，‘“ZERO”停止閃爍,。
4) 按CAL鍵開始用箔校準,，顯示器上出現(xiàn)CAL(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN'表示讀數(shù)是平均值,。
5) 將校準箔置于無涂層樣本上,，放上探頭， “嘀”聲后抬起探頭,。如此數(shù)次,。所選箔的厚度應(yīng)大致與被測涂層厚度相當。按CLEAR鍵中止校準,。
6) 用,，箭頭鍵將讀數(shù)調(diào)節(jié)至表明的箔厚。
7) 按CAL鍵,，“CAL”停止閃爍,。校準完畢，開始測量,。
8) 將探頭置于未知涂層上測讀,， “嘀”一聲后抬起探頭。
9) 必要時候,，例如輸入了錯誤的數(shù)據(jù),，可刪除CAL校準值。方法有二:
a) 按CAL, CLEAR鍵,，清除校準和所有零校準,。注意:這將重新激活用于平滑表面的默認的校準值。
b) 重復(fù)以上步驟4-7,，重新啟動CAL校準,。這樣就可以自動覆蓋老的校準值，存入新值,。
注意:無論是在直接或是批處理方式測讀,，箔校準都可根據(jù)需要隨時進行。老的校準值將被覆蓋，零校則保存在內(nèi)存中,。特別注意,，用F10，F(xiàn)20 探頭測量金屬覆層,，校準時,，校準標準必須與實際覆層是同種金屬。

兩點校準(用兩片箔)
適用于除CN02外的所有探頭
兩點校準僅適用于非連續(xù)測量模式,。測量模式可用2.5.9中的方式轉(zhuǎn)換,。這種方法要用兩片厚度至少相差2倍的校準箔。被測樣本覆層預(yù)計厚度,，在這兩片校準箔之間,。這種方法尤其適用于粗糙的噴砂表面和高精度測量。校準時采用多次測讀取平均值的方法,，可以大大地減少高低值校準時出現(xiàn)的波動帶來的影響,。
兩點校準(用兩片箔)步驟如下:
1) 按ZERO鍵， 置探頭于無覆層的樣本上,，再按ZERO鍵,。得到一個大概的零點。校準箔可以任何順序使用,。
2) 按CAL鍵開始用箔校準,，顯示器上出現(xiàn)CAL(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN'表示讀數(shù)是平均值,。
3) 用較薄的一片校準箔(比如,，大約10-30u)置于無涂層樣本上，置上探頭,，"嘀"聲后抬起探頭,。如此若干次。按CLEAR鍵,，終止校準,。
4) 鍵調(diào)整讀數(shù)至標準箔厚度。
5) 按CAL鍵,，“CAL” 停止閃爍,。儀器接受了第1個校準值。
6) 按CAL]鍵開始校準,。此步須緊跟第5步以后，儀器在按CAL鍵以前不接受讀數(shù),。顯示器上出現(xiàn)CAL(閃)和MEAN(不閃)字樣,。'MEAN'表示讀數(shù)是平均值。
7) 用較厚的一片校準箔(至少是薄的2倍)置于無涂層樣本上，置上探頭,，"嘀"聲后抬起探頭,。如此若干次。按CLEAR鍵,，終止校準,。
8) 用、鍵調(diào)整讀數(shù)至標準箔厚度,。
9) 按CAL鍵,CAL”停止閃爍,。
10) 校準完畢，開始測量
11) 需要時(例如輸入錯誤數(shù)據(jù))可刪除CAL校準值,。方法有二:
a) 按|CAL,， CLEAR鍵，清除校準值,。注意:這將重新激活用于平滑表面的默認的校準值,。
b) 重復(fù)2-9步驟，重新開始CAL校準,。將會自動覆蓋老的校準值,，存入新值。

透過鍍層校準：
若校零時鍍層不能移開,，用CTC方式特別方便,。CTC僅適用于F06,FN2(F部分)，F(xiàn)2,， F2/90,， F10， F20 和F50等探頭,。CTC模式僅適用于校準點涂層光滑,，并且測量值可重現(xiàn)的場合。CTC .不能用于有織構(gòu)的酥松的覆層,。
1) 按FUNC+CAL/CTC鍵,開始CTC校準,。顯示CTC(閃)和MEAN(不閃)字樣。MEAN'表 示讀數(shù)是平均值,。
2) 測讀,。將探頭置于被測樣本的校準點，'嘀'一 聲后抬起探頭,。如此數(shù)次,。
3) 按CAL鍵。
4) 將校準箔置于同一點,，置探頭其上,，'嘀'一聲 后抬起探頭,。如此數(shù)次。按CLEAR鍵,，終止校準,。所選箔厚應(yīng)該大致等同于預(yù)計的覆層厚度。
5) 用,、鍵調(diào)整讀數(shù)至標準箔厚度,。
6) 按CAL鍵，CTC 停止閃爍,。
7) 校準完畢,，開始測量
8) 必要時，可刪除CTC校準,。方法有二,。
a) 按FUNC+CAL / CTC+CLEAR鍵，刪除CTC校準,。注意:這將會激活用于平滑表面的默認的標準校準值,。
b)重復(fù)以上1-6步，重新開始CTC校準,，老的校準值被自動覆蓋,，新值存入。