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當(dāng)含有細(xì)小顆粒的懸浮液靜置不動時(shí),，由于力場的作用使得懸浮的顆粒逐漸下沉。粒子越,，下沉越快,，反之密度比液體小的粒子會上浮。微粒在力場下移動的速度與微粒的大小,、形態(tài)和密度有關(guān),，并且又與力場的強(qiáng)度及液體的粘度有關(guān),。象紅血球大小的顆粒，直徑為數(shù)微米,，可以在通常力作用下觀察到它們的沉降過程,。
ARM7的程序是基于uc/OS-II操作系統(tǒng)平臺開發(fā)的，程序簡單易讀,，可移植性較好,，便于產(chǎn)品的后續(xù)升級工作。整個(gè)系統(tǒng)的軟件大致要完成3個(gè)部分的工作：系統(tǒng)的初始化代碼,、uc/OS-II操作系統(tǒng)移植,、應(yīng)用任務(wù)的編寫。法描述基于上述的模塊化設(shè)計(jì)理念,，充分考慮了數(shù)字信號處理器的強(qiáng)大的數(shù)值計(jì)算功能,，讓其完成了所有的計(jì)算變換等功能；具體包括電壓,、電流有效值,、有功、無功功率,、視在功率,、功率因數(shù)、有功,、無功,、視在電能的累計(jì)、電能質(zhì)量指標(biāo)的計(jì)算,。
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HIOKI3455-2兆歐表在電線電纜緣電阻的測試方法HIOKI3455-2兆歐表測量緣電阻是反映電線電纜產(chǎn)品緣特性的主要指標(biāo),，它反映了線纜產(chǎn)品承受電擊穿或熱擊穿能力的大小，與緣的介質(zhì)損耗以及緣材料在工作狀態(tài)下的逐步劣化等均存在著極為密切的關(guān)系,。產(chǎn)品的緣電阻主要取決于所選用的緣材料,，但工藝水平對緣電阻的影響很大，因此測定緣電阻是監(jiān)督材料質(zhì)量和工藝水平的一種方法,。測定緣電阻可以發(fā)現(xiàn)工藝的缺陷,，同時(shí)也是研究緣材料的品質(zhì)和特性，研究緣結(jié)構(gòu)以及產(chǎn)品在運(yùn)行條件下的使用性能等各方面的要手段,，對于已投入運(yùn)行的產(chǎn)品,，緣電阻是判斷產(chǎn)品品質(zhì)變化的要依據(jù)。
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