雙電測四探針測試儀  

產品介紹

AA54-SDY-5型雙電測四探針測試儀采用了四探針雙位組合測量技術,利用電流探針,、電壓探針的變換，進行兩次電測量,，能自動消除樣品幾何尺寸,、邊界效應以及探針不等距和機械游移等因素對測量結果的影響，從而提高了測量結果的準確度,。

使用本儀器進行測量時,，由于不需要進行幾何邊界條件和探針間距的修正，因而對各種形狀的薄膜材料及片狀材料有廣泛的適用性,。儀器特別適用于測量片狀半導體材料電阻率以及硅擴散層,、離子注入層,、異型外延層等半導體器件和液晶片導電膜、電熱膜等薄層(膜)的方塊電阻,。  

儀器以大規(guī)模集成電路為核心部件,特別采用了平面輕觸式開關設計和各種工作狀態(tài)LED指示.并應用了微計算機技術,利用HQ-710F型微計算機作為測量控制及數(shù)據(jù)處理器,使得測量,、計算、讀數(shù)更加直觀,、快速,，并能打印全部預置和測量數(shù)據(jù)。  

技術指標：  

1,、測量范圍：電阻率：0.001－200Ω.cm(可擴展)  

薄層電阻:0.01-2000Ω/口(可擴展)  

可測晶片厚度：≤3.00mm  

2,、恒流電源:電流分為100mA、1mA,、10mA,、100ma四檔；連續(xù)可調,；穩(wěn)定度優(yōu)于0.3%  

3,、數(shù)字電壓表：量程：0－199.99mV;分辨率：0.01mV精度：±0.1%  

顯示：四位半紅色發(fā)光管數(shù)字顯示。極性,、小數(shù)點,、超量程自動顯示；  

4,、模擬電路測試誤差：(用1,、10、100,、1000?精密電阻測量)≤±0.3%±1字;  

5,、整機準確度：(用0.01至180Ω.cm硅標樣片測試)≤4%  

6、微計算機功能：  

A鍵盤控制測量取數(shù),，自動控制電流換向和電流,、電壓探針的變換，并進行正,、反向電流下的測量,，顯示出平均值  

B鍵盤控制數(shù)據(jù)處理，按內存公式計算出薄層電阻或電阻率平均值以及百分變化,。  

C鍵盤控制打印全部測量數(shù)據(jù),。包括測量條件，各次測量平均值,、zui大值,、zui小值，百分變化等數(shù)據(jù)。  

7,、外形尺寸：電氣主機：360mm×320mm×100mm；微計算機：300mm×210mm×105mm  

8,、儀器重量：電氣主機：約4kg,；測試架(J-2A型):約5kg;微計算機:約2.5kg;  

9、電源：AC220V±10%,50Hz,功率<25W  

10,、測試環(huán)境：溫度23±2℃,；相對濕度≤65％；無高頻干擾,；無強光照射,。