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[供應(yīng)]XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計(jì)量儀器 返回列表頁
貨物所在地:北京北京市
更新時(shí)間:2024-11-25 21:00:07
有效期:2024年11月25日 -- 2025年5月25日
已獲點(diǎn)擊:64
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XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計(jì)量儀器
在儀器測定波長名義值(589nm,、880nm、882nm)上下10nm范圍內(nèi),,對于衰減比為10%,、1%,其衰減相對變化不超過±20%,。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值,。
技術(shù)參數(shù)
在儀器測定波長名義值(589nm、880nm,、882nm)上下10 nm范圍內(nèi),,對于衰減比為10%、1%,,其衰減相對變化不超過±20%,。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
在儀器測定波長名義值(589nm,、880nm,、882nm)上下10nm范圍內(nèi),對于衰減比為10%,、1%,,其衰減相對變化不超過±20%,。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值。
技術(shù)參數(shù)
在儀器測定波長名義值(589nm,、880nm,、882nm)上下10 nm范圍內(nèi),對于衰減比為10%,、1%,,其衰減相對變化不超過±20%。透過率光譜中性衰減模擬器的內(nèi)應(yīng)力對旋光度影響不超過儀器的最小分度示值,。
XGT型光譜中性衰減低透過率模擬器 計(jì)量儀器
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