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[供應(yīng)]KSC-230-美國(guó)磁通QQI 磁粉探傷試片: 舉報(bào)
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貨物所在地：: 江蘇徐州市
更新時(shí)間：: 2024-09-22 21:00:05
有效期：: 2024年9月22日 -- 2025年3月22日
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介

美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片。用于：將激磁次數(shù)降至Z少,，以提高生產(chǎn)效率,；確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度；平衡多向磁場(chǎng),。

詳細(xì)介紹

美國(guó)磁通I 磁粉探傷試片

I試片
定量品質(zhì)試片
I是帶有人工缺陷的標(biāo)準(zhǔn)磁粉檢測(cè)試片,。用于：將激磁次數(shù)降至zui少，以提高生產(chǎn)效率,；確定磁場(chǎng)方向和相對(duì)的磁場(chǎng)強(qiáng)度,；平衡多向磁場(chǎng)。
標(biāo)準(zhǔn)I試片
缺陷成基園和十字交叉條形,，用于縱向和軸向磁場(chǎng),。
型號(hào)：KSC-430 標(biāo)準(zhǔn)I試片，缺陷深度為試片厚度的30%,，試片厚度為0.004英寸,。

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