供應(yīng)標準試塊CSK-IIIA詳細介紹

CSK系列超聲波試塊

CSK系列超聲波試塊廣泛用于電力,、石化、機械等行業(yè)的無損檢測

CSK-IA,、CSK-IIA,、CSK-IIIA、CSK-IVA,、CSK-IB超聲波試塊,，同時供應(yīng)CSK-IA試塊支架，CSK-IIIA試塊翻轉(zhuǎn)架,、CSK-IB試塊支架,。 

(1):CSK-IA是我國鍋爐和鋼制壓力容器對焊縫超聲波探傷JB1152-81標準規(guī)定的標準試塊，是基于IIW試塊改進得到的,。

①,、臺階孔φ50、φ44,、φ40,，便于測定橫波斜探頭的分辨力；

②,、R100,、R50階梯圓弧，便于調(diào)整橫波掃描速度和探測范圍,；

③、標定的折射角開為K值（K=tgβ）,，可直接測出橫波斜探頭的K值,。

(2):CSK-IIA是國家行業(yè)標準試塊，CSK-IIA適用于壁厚范圍為8-120mm的焊縫,。

（3）CSK-IIIA超聲波標準試塊

型號:CSK-IIIA
材質(zhì):20#
公稱尺寸:(mm)300×150×30
行位公差(國標):±0.10×0.05×0.05
(⊥): ⊥＜0.05
(‖) :‖＜0.03
(Ra): Ra≤3.2
7-直徑1×6:行位公差±0.10
2-R10: 行位公差±0.10

V-1荷蘭試塊的詳細介紹

V-1荷蘭試塊

標準試塊   IS02400-1972E

IIW試塊（V-1試塊）也叫荷蘭試塊,。是由焊接學會（IIW）通過，標準化組織（ISO）推薦使用的標準試塊,。材質(zhì)：不銹鋼,、鋁合金

使用要點：

1、 利用試塊厚25mm可測定探傷儀的動態(tài)范圍,、水平線性及調(diào)整縱波探測范圍

2,、 利用Φ50和圓弧和Φ1.5通孔測定斜探頭折射角及縱波直探頭的靈敏度余量；還可粗略估計直探頭的盲區(qū)大小及測定儀器與探頭組合后的穿透能力

3,、 利用R100mm圓弧面測定斜探頭的入射點和盲區(qū),，并可校正時間軸比例和零點。

4,、 利用測距為85mm,、91mm和100mm三個槽口平面可測定直探頭的縱向分辨力

5,、 利用試塊的直角棱邊測定斜探頭聲束偏斜角

 RB-1、RB-2,、RB-3為系列試塊,，分別適合8-25、8-100和8-150mm的板厚,，其標準反射體為Φ3mm×40mm的橫通孔

RB-1,、RB-2、RB-3標準試塊 主要用途：

1,、 繪制距離—波幅曲線

2,、 調(diào)整探測范圍和掃描速度

3、 測定斜探頭的K值

CSK-IB試塊在原有CSK-IA的基礎(chǔ)上增加了測試探頭折射角的刻度面,。主要用途：

1.利用R100曲面測定斜探頭的入射點和前沿長度

2.利用Φ50和1.5mm圓孔測定斜探頭的折射角

3.利用試塊直角棱邊測定斜探頭聲束軸線的偏離情況

4.利用25mm厚度測定探傷儀水平線性,、垂直線性和動態(tài)范圍

5.利用25mm厚度調(diào)整縱波探測范圍和掃描速度

6.利用R50和100mm曲面調(diào)節(jié)橫波探測范圍和掃描速度

7.利用Φ50、44和40三個臺階孔測定斜探頭分辨力

超聲波探傷標準試塊  超聲波探傷標準試塊