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貨物所在地：上海上海市
更新時(shí)間：2024/11/19 9:03:59
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EPK麥考特MIKROTEST G6準(zhǔn)確測(cè)量
測(cè)厚儀按照測(cè)量的方式不同,，可大致分為：
1、接觸式測(cè)厚儀
接觸面積大小劃分：點(diǎn)接觸式測(cè)厚儀,；面接觸時(shí)測(cè)厚儀
2,、非接觸式測(cè)厚儀
非接觸式測(cè)厚儀根據(jù)其測(cè)試原理不同，又可分為以下幾種：激光測(cè)厚儀,；超聲波測(cè)厚儀,；涂層測(cè)厚儀；X射線測(cè)厚儀,；白光干涉測(cè)厚儀,；電解式測(cè)厚儀,；管厚規(guī)。
EPK麥考特MIKROTEST G6屬于涂層測(cè)厚儀：
涂層測(cè)厚儀：
涂層測(cè)厚儀采用電磁感應(yīng)法測(cè)量涂層的厚度,。位于部件表面的探頭產(chǎn)生一個(gè)閉合的磁回路,，隨著探頭與鐵磁性材料間的距離的改變，該磁回路將不同程度的改變,，引起磁阻及探頭線圈電感的變化,。利用這一原理可以地測(cè)量探頭與鐵磁性材料間的距離，即涂層厚度,。
涂層測(cè)厚儀具有兩種測(cè)量方式：連續(xù)測(cè)量方式（CONTINUE）和單次測(cè)量方式（SINGLE）,；具有兩種工作方式：直接方式（DIRECT）和成組方式（APPL）；設(shè)有五個(gè)統(tǒng)計(jì)量：平均值（MEAN）,、zui大值（MAX）,、zui小值（MIN）、測(cè)試次數(shù)（NO．）,、標(biāo)準(zhǔn)偏差（S．DEV）
涂鍍層測(cè)厚儀測(cè)量原理：
1.磁性測(cè)厚法：適用導(dǎo)磁材料上的非導(dǎo)磁層厚度測(cè)量,。導(dǎo)磁材料一般為：鋼，鐵,，銀,，鎳。此種方法測(cè)量精度高,。
EPK麥考特MIKROTEST G6準(zhǔn)確測(cè)量
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