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篤摯儀器（上海）有限公司
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FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測厚儀
| 參考價: | 面議 |
具體成交價以合同協(xié)議為準- 產(chǎn)品型號
- Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
- 代理商 廠商性質
- 上海市 所在地
訪問次數(shù)：3061更新時間：2024-09-27 07:31:10
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產(chǎn)品簡介
| 價格區(qū)間 | 面議 | 應用領域 | 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件 |
|---|
來自德國菲希爾的X射線熒光測量儀,，帶有快速可編程的XY平臺和Z軸,，可自動測量薄涂層厚度和進行材料分析,。 FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。
產(chǎn)品介紹
FISCHERSCOPE XDAL237 x射線鍍層測厚儀
一 一 一 X射線熒光測量儀,，帶有快速可編程的XY平臺和Z軸,，可自動測量薄涂層厚度和進行材料分析
FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量。在這一- 應用中,，首先要準確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求,，為避免裂紋的出現(xiàn),，合金中Pb的含量至少必須在3%以上。另一方面,，對于日常使用的電子產(chǎn)品,，根據(jù)RoHS指令要求，Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm.盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度,，但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低,，可以很輕易達到以上的測量需求。
憑借電機驅動（可選）與自上而下的測量方向,，XDL系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試,。提供 X 射線源、濾波器,、準直器以及探測器不同組合的多種型號,，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇適合的 X 射線儀器。在設計上,，F(xiàn)ISCHERSCOPE XRAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應,。區(qū)別在于使用的探測器類型不同。在XDAL上,，使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器,，從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而，這臺儀器適合于一般材料分析,，痕量元素分析及測量薄鍍層厚度,。
X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管。然而,，由于相對較小的探測器有效接收面積(相比較比例計數(shù)器探測器來說),，信號強度低，故XDAL有限適用于極微小結構和測量點的測量,。和XDLM類似,，準直器和基本濾片是可自動切換，以便為不同測量程式創(chuàng)造良好的激勵條件,。FISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器的測量空間寬大,，可以用于測量復雜幾何形狀的各種樣品。馬達驅動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置z高可達140mm高度的樣品,。C型槽設計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品,。
典型應用領域：
• 鍍層與合金的材料分析（包括薄鍍層以及低含量）。來料檢驗,，生產(chǎn)監(jiān)控,。
• 研發(fā)項目
• 電子行業(yè)
• 接插件和觸點
• 黃金、珠寶及手表行業(yè)
• 測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd鍍層
• 痕量分析
• 根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
• 分析硬質鍍層材料
PCB裝配：含鉛量測試
高速鍋貼頭: TiN/Fe
特性：
X 射線熒光儀器可配備多種硬件組合,，可完成各種測量任務
由于測量距離可以調(diào)節(jié)（大可達 80 mm）,，適用于測試已布元器件的電路板或腔體結構的部件
通過可編程 XY 工作臺與 Z 軸（可選）實現(xiàn)自動化的批量測試
使用具有高能量分辨率的硅漂移探測器，非常適用于測量超薄鍍層（XDAL 設備）
應用：
鍍層厚度測量：
大型電路板與柔性電路板上的鍍層測量
電路板上較薄的導電層和/或隔離層
復雜幾何形狀產(chǎn)品上的鍍層
鉻鍍層,，如經(jīng)過裝飾性鍍鉻處理的塑料制品
氮化鉻 (CrN),、氮化鈦 (TiN) 或氮碳化鈦 (TiCN) 等硬質涂層厚度測量
材料分析：
電鍍槽液分析
電子和半導體行業(yè)中的功能性鍍層分析
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