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篤摯儀器(上海)有限公司
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- 產(chǎn)品型號
- Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
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- 上海市 所在地
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價(jià)格區(qū)間 | 1千-5千 |
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COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀
4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體。
Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀
菲希爾CMS2 STEP電位差庫侖儀
特性:
吸引人的設(shè)計(jì),,大的液晶顯示器和清晰安排的鍵盤,。
操作簡單,,菜單指引的操作提示,。
電解區(qū)域直徑從0.6 mm (24 mils) 至3.2 mm (128 mils),。
大約100個預(yù)先定義好的應(yīng)用程式適用于大多數(shù)的金屬鍍層,,包括測量線材,。
測量印刷線路板上剩余純錫的厚度
下面的公式適用于通過庫侖法電解腐蝕確定鍍層厚度:
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層,。 測量 面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定,。對不同的金屬 采用不同配方的電解液。通過載入電流開始電解過程,。 電解過程由 COULSCOPE 儀器的電子部分控制,, 用一 個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,保證電 解液*利用,。 根據(jù)測量區(qū)域的大小,,各種直徑的墊圈 可供選擇。
菲希爾CMS2 STEP電位差庫侖儀
校準(zhǔn) 校準(zhǔn)時會產(chǎn)生一個修正系數(shù) ,。這是由于測量槽密封墊子的制造公差,、鍍層密度的變化、合金成分的變化,,需要該修正系數(shù),。
作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一,庫侖法可以用于各種鍍層組合,。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu),, 當(dāng)允許破壞性測量時,它提供了一個比X射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法,。 應(yīng)用 強(qiáng)大并且用戶友好的COULOSCOPE CMS2適用于電鍍行業(yè)的生產(chǎn)監(jiān)控和成品的質(zhì)量檢驗(yàn),。
很多常見的單、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可以用CMS2簡單快速地測量,。這個方法為任何金屬鍍層提供了的測量,。在厚度范圍 0.05 - 50 μm內(nèi), 很多材料不需要預(yù)設(shè)定,;基材組成和幾何形狀對于測量都是無關(guān)緊要的,。
zui常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫,以確??珊感浴6噱儗永?Cr/ Ni/Cu在鐵或者塑料(ABS)基材上,,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,,也可以用這個方法進(jìn)行測量。
測量原理 這個系列儀器根據(jù)DIN EN ISO 2177標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法,。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,,通過在控制電流條件下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程。所載入的電流與要剝離的鍍層厚度是成正比的,,假如電流和剝離面積保持不變,,鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系。
測量槽------可比作微型電解缸------被用來剝離鍍層,。 測量面積由裝在測量槽上的墊圈尺寸來決定,。對不同的金屬采用不同配方的電解液,。通過載入電流開始電解過程。 電解過程由COULSCOPE儀器的電子部分控制,, 用一個泵攪拌電解液來使電解區(qū)域電解液平穩(wěn)腐蝕,,保證電解液*利用。 根據(jù)測量區(qū)域的大小,,各種直徑的墊圈 可供選擇,。
STEP Test是在允許腐蝕的情況下用來同時測量電位差和多層鎳的鍍層厚度,該方法是這個應(yīng)用領(lǐng)域的標(biāo)準(zhǔn),。 應(yīng)用
多層鎳鍍層的品質(zhì)控制需要能在電鍍完成后立刻檢查厚度和電位差的儀器,。 COULOSCOPE CMS2 STEP 就是為這個目的而設(shè)計(jì)的,它操作簡單,,參比電極使用起來也不復(fù)雜,,非常適合電鍍工廠苛刻環(huán)境下的這種應(yīng)用
電鍍鎳層用作電解保護(hù)和提高機(jī)器表面屬性,如硬度等,。 特別是汽車工業(yè)中,,電鍍鎳部件在防腐蝕方面要滿足很高的要求。單一鎳層無法滿足該要求,。因此,,目前正在開發(fā)非常復(fù)雜的鍍層系統(tǒng),其中包含兩層,、三層甚至四層鍍鎳層,,還有鉻或銅鍍層。
測量原理 STEP Test 是(Simultaneous Thickness and Electrochemi- cal Potential determination)(同時測量鍍層厚度和化學(xué)電位差)的簡寫,,是已經(jīng)標(biāo)準(zhǔn)化很久的測量方法,。它可以同時測量各鍍層厚度和多層鎳系統(tǒng)中兩層之間的電化學(xué)電位差。 厚度測量時用庫侖法來測量,,電位差通過外面鍍一層AgCl的銀參比電極來測量,。電壓曲線可以顯示在屏幕上,鍍層厚度和電位差可以在圖上讀出,。 為了獲得可以比較的穩(wěn)定電位差測量結(jié)果,,參比電極到工件的距離必須始終保持不變。這個問題通過特殊的測量槽得到解決,。
銀參比電極被設(shè)計(jì)成一個圓錐形的環(huán)狀電極,,并作為測量槽底部的外殼與測量槽蓋連接。測量槽的設(shè)計(jì)保證了參比電極與工件之間的距離始終不變,。
COULOSCOPE CMS STEP 雙層鎳鍍層測量版本
Couloscope CMS2 STEP 電解測厚儀
4種不同類型的測量臺適合于測量各種種類的被測物體,。
Couloscope CMS2 STEP 庫侖測電位差測厚儀
測量原理
這個系列儀器根據(jù) DIN EN ISO 2177 標(biāo)準(zhǔn)的庫侖法。 金屬或非金屬基材上的金屬鍍層,,通過在控制電流條件 下電解腐蝕--------實(shí)際上就是電鍍的反過程,。所載入的電 流與要剝離的鍍層厚度是成正比的,,假如電流和剝離面 積保持不變,鍍層厚度與電解時間就是成正比的關(guān)系,。
作為測量鍍層厚度zui簡單的方法之一,,庫侖法可以用于 各種鍍層組合。 尤其對于多鍍層結(jié)構(gòu),, 當(dāng)允許破壞性測 量時,,它提供了一個比 X 射線更經(jīng)濟(jì)的替代方法。
很多常見的單,、雙鍍層例如鐵鍍鋅或者銅鍍鎳鍍錫都可 以用 CMS2 簡單快速地測量,。這個方法為任何金屬鍍層 提供了的測量。在厚度范圍 0.05 - 50 μm 內(nèi),, 很多 材料不需要預(yù)設(shè)定,;基材組成和幾何形狀對于測量都 是無關(guān)緊要的。
zui常見的應(yīng)用之一就是測量線路板上剩余的純錫,,以確 ??珊感浴6噱儗永?Cr/ Ni/Cu 在鐵或者塑料(ABS) 基材上,,經(jīng)常被用于高品質(zhì)的浴室用品,,也可以用這個 方法進(jìn)行測量
COULOSCOPE CMS基本配置:
儀器: Couloscope CMS
測量臺: V24、V26,、V18 等
電解液: F1 ~ F22
COULOSCOPE CMS特征:
標(biāo)準(zhǔn):DIN EN ISO 2177 ,; ASTM B504
模擬輸出: 0 ~ -18V
輸入阻抗: > 2 KΩ
工作溫度: 10 ℃ ~ 40 ℃
儀器重量: 6 kg
電源: AC 220 V ,50-60 Hz,;zui大功耗 ≤ 85 VA
尺寸: 350W * 140H * 200D mm