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QNix 4500便攜新款膜厚儀

  尼克斯測厚儀檢測的方法
無損檢測技術(shù)是一門理論上綜合性較強,，又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學(xué)科。它涉及到材料的物理性質(zhì),、產(chǎn)品設(shè)計,、制造工藝、斷裂力學(xué)以及有限元計算等諸多方面,。
在化工、電子,、電力,、金屬等行業(yè)中,，為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用，通常要采用噴涂,、有色金屬覆蓋以及磷化,、陽極氧化處理等方法,，這樣，便出現(xiàn)了涂層,、鍍層、敷層,、貼層或化學(xué)生成膜等概念，我們稱之為“覆層”,。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質(zhì)量檢測*的zui重要的工序,。是產(chǎn)品達到優(yōu)質(zhì)標準的*手段,。
目前，國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度,，覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無損檢測方法,，主要有：楔切法、光截法,、電解法,、厚度差測量法,、稱重法,、X射線瑩光法,、β射線反射法、電容法,、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,，系有損檢測,，測量手段繁瑣,，速度慢，多適用于抽樣檢驗,。X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量，但裝置復(fù)雜昂貴,，測量范圍小,。因有放射源,，故使用者必須遵守射線防護規(guī)范，一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量,。電容法一般僅在很薄導(dǎo)電體的絕緣覆層厚度測試上應(yīng)用。磁性測量法及渦流測量法,，隨著技術(shù)的日益進步，特別是近年來引入微處理機技術(shù)后,，測厚儀向微型,、智能型,、多功能,、高精度、實用化方面邁進了一大步,。測量的分辨率已達0.1μm,，精度可達到1%,。又有適用范圍廣,，量程寬,、操作簡便,、價廉等特點,。是工業(yè)和科研使用zui廣泛的儀器。采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材,，檢測速度快，故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行,。

    測厚儀采用的電子技術(shù),能滿足各種不同的測量要求,。高精度的設(shè)備,堅固的結(jié)構(gòu)和便于使用等特點使得該儀器具有廣泛的應(yīng)用。 只要正確使用和維護,它的壽命會很長,。儀器需要保持清潔, 不要摔落, 避免與 潮氣,具有化學(xué)腐蝕性的物質(zhì)或氣 體接觸。使用完畢,儀器應(yīng)被放回具有保護性 和便于挪動的盒子中,。溫度的劇烈變化將影響測量結(jié)果,所以不要直接把儀器暴 露在強烈的陽光下或能引起溫度聚變的能量中。儀器對大多數(shù)溶劑具有抵抗性, 但不能保證極少數(shù)化學(xué)物質(zhì)的腐蝕,只有探針保持清潔,才能獲得準確的數(shù)據(jù),所 以要定期檢查探針,清理探針上殘留的污物諸如漆等,。儀器長期不被使用時, 為 避免因漏電而損壞,要取出電池。出現(xiàn)故障時,請不要自行修理,我們的維修部門 隨時竭誠為您服務(wù),。 產(chǎn)品從購買之日起保修一年，紅寶石磨損及其他人為因素造成儀器損壞不予 保修,。

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    可以測量磁性基體(Fe模式),；可以測量非磁性基體(NFe模式),；測量范圍：Fe:0-3000um,；NFe:0-3000um；顯示精度:0.1um,；精度:0-50um:≤±1um  50-1000um:≤±1.5%讀數(shù)  1000-3000um≤±3%讀數(shù)；zui小接觸面：10×10mm,；zui小曲率半徑:凸面：3mm,；凹面：25mm；zui小基體厚度:Fe:0.2mm/NFe:0.05mm,；溫度補償范圍:0-60℃；顯示:LCD液晶(帶背光),；探頭:紅寶石固定式,；電源：2×1.5V干電池,；尺寸：100×60×27mm；重量：110g

    通過與工藝,，行業(yè)和服務(wù)行業(yè)的用戶密切合作，已經(jīng)創(chuàng)建了一個模塊化涂層厚度計,，將各種經(jīng)過驗證的QNix量規(guī)的許多特性結(jié)合在一個設(shè)備中。模塊化測量系統(tǒng)是一種特別小巧便利的涂層厚度計,，可直接插入微型探頭,。為了靈活使用，微型探頭也可以連接到延長電纜,。模塊化測量系統(tǒng)提供高達5000μm的移動性，高測量精度,，易于處理和不同尋常的應(yīng)用,。 是一種特別小巧便利的測量儀,，用于對所有Fe和NFe襯底上的涂層厚度進行非破壞性測量。可以通過直接插入微型探頭或?qū)⑻筋^連接到插入的延長電纜上使用,。

QNix 4500便攜式膜厚儀

儀器使用：

1.開機： 裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實,，儀器將 自動開機,。（使用時務(wù)必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實，禁止接觸狀態(tài)下 橫向滑動探頭,，以免劃傷探頭前端紅寶石,。每次測量后將儀器拿起，離開被測物 10cm 以上,，再進行下次測量。）
2.設(shè)置： 開機后按紅色按鍵進入菜單,，QNix®4500 為 4 個選項,，QNix®4500 為 2 個選 項,，見下圖：
選擇基體 選擇基體 Fe NFe Fe/NFe 取平均值 QNix®4500 QNix®4200
“Fe”為磁性金屬基體模式， “NFe”為非磁性金屬基體模式（僅 QNix®4500）,， “Fe/NFe”為自動識別基體模式（僅 QNix®4500）， “取平均值”為儀器自動顯示 zui后三次讀數(shù)的平均值（包括本次測量）,。
按紅鍵進入菜單后,，繼續(xù)按紅鍵進行選擇,，將光標在選項上停留 2 秒后，進 入所選項目,。如在“Fe”選項上停留 2 秒后,，儀器顯示如下：
Fe 測量模式
這時儀器進入 Fe（磁性金屬基體）模式下工作。QNix®4500 也可選擇 NFe（非 磁性金屬基體）,、Fe/NFe（磁性非磁性基體自動識別）模式下工作,。
進入“取平均值”選項后，儀器顯示如下
取平均值 關(guān) 開
在“開”選項上停留 2 秒后,，取平均值開啟，測量時顯示數(shù)據(jù)為zui后三次讀
數(shù)的平均值（包括本次測量），測量時在屏幕右上角出現(xiàn)“
— X ”符號時表示取平
均值開啟,，如不需要請關(guān)閉（在取平均值選項里選擇“關(guān)”）即可。

3.測量： （1）調(diào)零： 儀器在測量前,，應(yīng)在基體上取零位作基準。建議用未噴涂的同一種工件表面 調(diào)零,，因為材料之間導(dǎo)磁性和導(dǎo)電性不同,，會造成一定誤差,。 選擇相應(yīng) Fe 或 NFe 模式后，將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上,， 不要抬起，按一下儀器上的紅鍵松開,，儀器依次顯示“零位參照,、放置探頭”,、 “零位參照，拿起探頭”或聽到儀器響聲后,，拿起儀器，出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響 聲后,，液晶顯示 0，調(diào)零完畢,。
注意：由于工件表面粗糙度等原因,，調(diào)零后,，再測時不一定是的零位， 這是正?，F(xiàn)象,。
（2）測量 將儀器探頭垂直接觸被測物的表面,，儀器將自動測出并顯示數(shù)據(jù),。（建議用 拇指和食指拿住儀器凹槽處使用,，分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用）

4.分體型說明： QNix®4200P、QNix®4200P5,、QNix®4500P、QNix®4500P5 采用有線分體型設(shè) 計,，測量方便,、穩(wěn)定,、準確，探頭連接線堅固耐用,，還可滿足一些狹小空間的測 量。探頭線和探頭可更換,。