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篤摯儀器（上海）有限公司
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Dualscope MP*解決
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具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)- 產(chǎn)品型號(hào)
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訪問次數(shù)：1020更新時(shí)間：2024-09-23 15:04:24
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產(chǎn)品簡(jiǎn)介
產(chǎn)品介紹
Dualscope MP*解決
1 常見故障及處理方法.
1.儀器不開機(jī)
①請(qǐng)檢查確認(rèn)電池是否有電，或更換新的電池,。
②請(qǐng)檢查電池是否接觸良好,，且電極片沒有氧化或生銹等（如生銹可用工具刮掉氧化層）.
③請(qǐng)檢查按鍵是否按壓到位,，且按鍵正常有彈性。
④其它主機(jī)線路故障,，咨詢公司售后服務(wù)或返廠檢修.
2.儀器測(cè)量不準(zhǔn)
①請(qǐng)先行系統(tǒng)校準(zhǔn)儀器,，標(biāo)定，使之符合誤差范圍,。誤差遵循≦3%(厚度值）,，如需測(cè)試更加精準(zhǔn)請(qǐng)?jiān)诒粶y(cè)工件的光滑裸基上（未涂裝的基體上）進(jìn)行系統(tǒng)校準(zhǔn)。
②請(qǐng)檢查探頭前端是否磨損,，是否變形,，有附著物質(zhì)等,，探頭外護(hù)套是否不在水平等,變形可適當(dāng)用砂紙打磨修正,，處理干凈.
③被測(cè)件基材表面粗糙度影響，引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,，測(cè)量時(shí)在不同位置增加測(cè)量次數(shù),，克服偶然誤差?；蛴蒙凹埓蚰セ闹匦滦?duì)儀器零點(diǎn),。
④測(cè)量手法以及探頭的放置，測(cè)試的時(shí)候需保持探頭與試樣垂直
⑤被測(cè)件曲度,，在該探頭所適應(yīng)的曲率半徑下,，重新校準(zhǔn)。尤其管道凸面,，注意探頭V型卡槽穩(wěn)定放置,。
3.儀器無(wú)法測(cè)量
①檢查探頭是否連接良好，插到位.
②檢查探頭線是否有斷的地方,，重點(diǎn)檢查探頭接插件處（接頭處可以旋鈕擰開查看）
③探頭頻繁大量使用,，傳感器老化或損壞，燙傷等
④其它主機(jī)線路元件故障
4.測(cè)量無(wú)數(shù)據(jù)變化
①探頭是否連接良好探頭是否損壞等
2 故障查找
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er1 | 內(nèi)部錯(cuò)誤,。 | 進(jìn)行歸零步驟,。 如錯(cuò)誤重復(fù)出現(xiàn)，聯(lián)絡(luò)Fischer維修部,。 |
Er4 | 內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)儲(chǔ)存滿,。 | 刪除內(nèi)存測(cè)量數(shù)據(jù)。 |
Er5 | 無(wú)法確定底材值,。
| 用合適的標(biāo)準(zhǔn)片校正,。 校正標(biāo)準(zhǔn)片至少要有實(shí)際工件涂鍍層的1/2厚(在涂層上校正時(shí))。
|
信息 | 解釋 / 可能原因 | 解決方法 |
Er6
| 超出測(cè)量范圍,，不能顯示讀數(shù),。 原因: 涂鍍層太厚,。 原因: 不正確測(cè)量。 原因: 歸零或校正方法有誤,。 | 涂鍍層厚度在儀器測(cè)量范圍內(nèi),。 正確測(cè)量 (例如: 在測(cè)量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊,；在測(cè)量后不要太快提起儀器),。 |
Er7 | 歸零或校正時(shí)，非正常值被認(rèn)可了,。 - 不正確測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片,。
- 要求測(cè)量底材時(shí)卻測(cè)量了標(biāo)準(zhǔn)片。 - 測(cè)量有折痕的標(biāo)準(zhǔn)片,。 - 測(cè)量時(shí),，儀器沒有平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。 | 刪除內(nèi)存數(shù)據(jù),，重新測(cè)量,。 重新正確歸零或校正 (例如:在測(cè)量前或后，不要把儀器放在工件上徘徊,；在測(cè)量后不要太快提起儀器),。
在同一工件上測(cè)量多次取其平均值歸零。 更換標(biāo)準(zhǔn)片,。 正確測(cè)量,，將儀器平放在工件或標(biāo)準(zhǔn)片上。 |
Er12 | 校正時(shí)測(cè)量標(biāo)準(zhǔn)片順序錯(cuò)誤,。 | 按正確的順序重新校正,。 |
Er13 | 主校準(zhǔn)時(shí)，標(biāo)準(zhǔn)片的間隔不在允許范圍內(nèi),。
使用了錯(cuò)誤的標(biāo)準(zhǔn)片,。
誤操作，在標(biāo)準(zhǔn)片上而不是在底材上歸零,。 | 通知客戶服務(wù)部門,。
使用正確的標(biāo)準(zhǔn)片。
在底材上歸零,。 |
Er14 | 儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算主校準(zhǔn)參數(shù),。原始主校準(zhǔn)參數(shù)被保留。 | 重做主校正,。 |
Er15 | 無(wú)法儲(chǔ)存主校準(zhǔn)參數(shù)。 | 客戶服務(wù)部門,。 |
Er17 | 讀數(shù)不夠,， 因此無(wú)法結(jié)束一個(gè)組 。 | 再測(cè)幾個(gè)數(shù)據(jù),，直到*組可以結(jié)束,，然后產(chǎn)生一個(gè)新的統(tǒng)計(jì)值。 |
Er22 | 儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 錯(cuò)誤訪問內(nèi)存或EEPROM,。
| 客戶服務(wù)部門,。
|
Er28 | 儀器內(nèi)部錯(cuò)誤: 無(wú)法計(jì)算測(cè)量數(shù)據(jù)。 | 客戶服務(wù)部門,。 |
Dualscope MP0
技術(shù)規(guī)格：
量 程：0～2000μm,。
精 度：1μm（0～50μm）；2%（50μm～1000μm）,；3%（1000μm～2000μm）,。
重復(fù)精度： ±0.5μm（0～100μm）； ±0.5%（＞100μm）,。
zui小測(cè)量曲率直徑：在精度范圍內(nèi),，鐵基φ35mm，非鐵基φ50mm,；
（在允許誤差＜10%時(shí)，鐵基為φ10mm,，非鐵基為φ2mm）,。
zui小測(cè)量面積直徑：φ4mm（在允許誤差＜10%時(shí)，為φ2mm）,。
zui小基體厚度：鐵基0.2mm（誤差＜10%時(shí)）,；非鐵基0.09mm（誤差＜10%時(shí)）。
重 量：60g（不含電池）,。
外形尺寸：64mm×30m×85mm,。
電 源：兩節(jié)5號(hào)電池。
