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X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量
參考價: 面議
具體成交價以合同協(xié)議為準
  • 產(chǎn)品型號
  • Helmut Fischer/德國菲希爾 品牌
  • 代理商 廠商性質(zhì)
  • 上海市 所在地

訪問次數(shù):1753更新時間:2024-09-22 19:05:05

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產(chǎn)品簡介
產(chǎn)地類別 進口 價格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,道路/軌道/船舶,鋼鐵/金屬,航空航天,汽車及零部件
X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量
德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大,可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品,。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置Z高可達140mm高度的樣品,。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。
產(chǎn)品介紹

X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量

X-Ray菲希爾X熒光射線測厚儀多鍍層可測量

 德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大,,可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品,。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置Z高可達140mm高度的樣品。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品,。

 德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀
產(chǎn)品描述:
在設(shè)計上,,F(xiàn)ISCHERSCOPE X-RAY XDAL型儀器和XDLM型儀器相對應(yīng)。區(qū)別在于使用的探測器類型不同,。在德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀使用了帕爾貼制冷的硅PIN探測器,從而有了遠好于XDLM使用的比例計數(shù)器的能量分辨率。因而,,這臺儀器適合于一般材料分析,,痕量元素分析及測量薄鍍層厚度。
X射線源是一個能產(chǎn)生很小光斑面積的微聚焦X射線管,。然而,,由于相對較小的探測器有效接收面積(相比較比例計數(shù)器探測器來說),信號強度低,,故XDAL有限適用于極微小結(jié)構(gòu)和測量點的測量,。和XDLM類似,準直器和基本濾片是可自動切換,,以便為不同測量程式創(chuàng)造激勵條件,。
德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀的測量空間寬大,可以用于測量復(fù)雜幾何形狀的各種樣品,。馬達驅(qū)動可調(diào)節(jié)的Z軸允許放置高可達140mm高度的樣品,。C型槽設(shè)計可以方便地測量諸如印刷線路板等大平面樣品。
測量系統(tǒng)配有快速可編程的XY平臺,,因而可以方便地按照預(yù)定程序掃描檢查樣品表面,。此外,在如引線框架等樣品上進行多點測量,,或是在多個不同樣品上進行批量測量,,都可以通過快速編程自動化地完成。
由于XY平臺在艙門打開時,,能自動彈出到加載樣品位置,,故而樣品放置定位變得十分簡便。激光點標示處就是樣品的測量位置,。
產(chǎn)品特征:
帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管,。高工作條件: 50 kV, 50W
X射線探測器采用珀爾帖致冷的硅PIN二極管
準直器:4個,可自動切換,,從直徑? 0.1mm 到 ? 0.6 mm
基本濾片:3個,,可自動切換
測量距離可在0—80mm范圍內(nèi)調(diào)節(jié)
可編程XY平臺
視頻攝像頭可用來實時查看測量位置,十字線上有經(jīng)過校準的刻度標尺,,而測量點實際大小也在圖像中顯示,。
設(shè)計獲得許可,防護全面,,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)
典型應(yīng)用領(lǐng)域:
鍍層與合金的材料分析(包括薄鍍層以及低含量),。來料檢驗,生產(chǎn)監(jiān)控,。
研發(fā)項目
電子行業(yè)
接插件和觸點
黃金,、珠寶及手表行業(yè)
測量印刷線路板上僅數(shù)個納米的Au和Pd
鍍層
痕量分析
根據(jù)高可靠性要求測量鉛Pb含量
分析硬質(zhì)鍍層材料
應(yīng)用實例:
德國菲希爾XDAL X射線熒光測厚儀可以用來測量SnPb焊層中的鉛含量,。在這一應(yīng)用中,首先要準確測量SnPb的厚度以便分析Pb的含量,。按照航空航天工業(yè)中高可靠性的要求,,為避免裂紋的出現(xiàn),合金中Pb的含量至少必須在3%以上,。另一方面,,對于日常使用的電子產(chǎn)品,根據(jù)RoHS指令要求,,Pb在焊料中的含量多不能超過1000ppm,。盡管XDAL測量Pb含量的測量下限取決于SnPb鍍層的厚度,但是通常情況下XDAL的測量下限足夠低,,可以很輕易達到以上的測量需求,。

 

 



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