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篤摯儀器（上海）有限公司
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FISCHER 的臺式涂鍍層測厚儀使用 X 射線熒光法或多探頭的接觸式測量技術,，能提供的性能和靈活性,。由于運用了各種測量技術,，因此能夠為任何測量任務提供合適的解決方案,。臺式儀器可以通過軟件和硬件接口輕松集成到生產(chǎn)和質(zhì)量管理系統(tǒng)中,。
FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀一臺儀器,，三種作業(yè)模式：FISCHERSCOPE X-RAY XAN500菲希爾X射線測厚儀不只是一臺手持便攜式XRF設備,，它還可以轉變?yōu)榕_式儀器或者整合到生產(chǎn)線中,。
FISCHERSCOPE MMS PC2采用不同測量技術的模塊化系統(tǒng)：非常適用于與涂鍍層厚度測量和材料測試相關的各種需求。
COULOSCOPE CMS2臺式測厚儀,，幾乎可測量金屬或非金屬底材上所有金屬鍍層（包括多鍍層）的厚度,。
GOLDSCOPEGOLDSCOPE系列X射線熒光儀器是專為分析黃金和其他貴金屬而設計的XAN用于快速、高效地測量鍍層厚度及材料成分分析的測量儀器,。XUL / XULM基于 X 射線熒光法的測試儀器,，堅固耐用，快速,、高效地測量鍍層厚度,，特別適合電鍍行業(yè)。
XDL / XDLM / XDAL功能強大：XDL 系列儀器具有全面的配置方案,，可手動或自動測試,，是鍍層厚度測量與材料成分分析的理想之選。XDV-SDDFISCHERSCOPE® XDV-SDD專為滿足要求的鍍層厚度測量和材料分析而設計XDV-μFISCHER的XDV-μ型系列儀器,，可用于測量電子或珠寶等行業(yè)中*微小結構的產(chǎn)品XUVX 射線熒光儀器,，配有用于分析輕元素的真空測量室。XDL / XDLM / XDAL憑借電機驅(qū)動（可選）與自上而下的測量方向,，XDL® 系列測量儀器能夠進行自動化的批量測試,。提供 X 射線源、濾波器,、準直器以及探測器不同組合的多種型號,，從而能夠根據(jù)不同的測量需求選擇*適合的 X 射線儀器,。
