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有的人又把膜厚儀稱為膜厚測量儀,，主要分為兩種類型,，一種類型是手持式與臺式兩種，手持式的膜厚測量儀又有好幾種類型,，比如說電渦流鍍層測厚儀,，熒光X射線鍍層膜厚測量儀。手持式的測量儀采用的測量原理是利用探頭經(jīng)過非鐵磁覆蓋二流入鐵磁基體磁通的大小,。對于,，膜厚儀很多人對它測量原理是非常感興趣的，我們一起來了解一下它的測量原理,。
我們已經(jīng)學(xué)習(xí)了手持膜厚儀的測量原理,，接著我們再來學(xué)習(xí)一下臺式測厚儀的測量原理。一些技術(shù)人員告訴我們,，臺式的熒光X射線膜厚儀,，是一種通過一次X射線穿透金屬元素樣品的而產(chǎn)生的低能量的光子，這種低能量的光子又被稱為二次熒光,?？梢酝ㄟ^高級計算機對這種能量進(jìn)行計算，這種能量計算出來的值可以對厚度進(jìn)行一定的衡量,。
在膜厚儀中,，比較流行的測量原理就是電渦流測量原理，我們一起來對電渦流測量原理進(jìn)行比較詳盡的學(xué)習(xí),，高頻的交流信號一般會在側(cè)頭線圈中產(chǎn)生一定的電磁場,，當(dāng)測試的探頭靠近導(dǎo)體的時候，就會在它的附加產(chǎn)生渦流,。如果測試探頭離導(dǎo)體的基體越近,，它的渦流就會越大，反射阻抗肯定也會更大,。事實上,，這是一個反饋作用的過程,，這個過程中表征了測試探頭與導(dǎo)電基體之間距離的大小，換句話說,，這就是導(dǎo)體導(dǎo)電基體上非導(dǎo)電覆層厚度的大小,。
采用電渦流測試的原理，原則上需要對導(dǎo)體上的非導(dǎo)電體覆蓋層均可以進(jìn)行測量,，技術(shù)人員告訴我們,，覆層材料是有一定的導(dǎo)電性的，通過校準(zhǔn)也是可以同時進(jìn)行測量的,，不過在這其中,，有一個比較明顯的要求就是兩個的導(dǎo)電率最好是相差3到5倍左右。
這就是跟朋友們介紹分享的膜厚儀一些測量基本原理,，本文主要介紹了手持式膜厚測試儀的測量原理,、臺式膜厚測試儀的測量原理，及其在膜厚測試儀比較流行的測量原理,，這種測量原理就是電渦流測量原理。在測量原理中,，鋼鐵經(jīng)常作為基體的導(dǎo)電體,。
