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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀，德國馬爾粗糙度儀,，Mahr，三豐粗糙度儀代理,，霍梅爾Hommel |
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聯(lián)系電話
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Talysurf CCI三維非接觸形貌儀采用CCI干涉原理，可高精度測量表面形貌,、表面粗糙度及關(guān)鍵尺寸,，并計算關(guān)鍵部位的面積和體積。主要應(yīng)用于數(shù)據(jù)存儲器件,，半導(dǎo)體器件,，光學(xué)加工以及MEMS/MOEMS技術(shù)以及材料分析領(lǐng)域,。CCI2000 采用了良好的白光干涉技術(shù)。創(chuàng)新的**相關(guān)相干算法,，通過建立模板,，能夠計算出帶光源相干峰與相位的位置。無論是拋光表面還是粗糙表面,，只要反射率超過 0.5%，就能夠被檢測,。在非接觸表面三維測量中,，CCI2000以100μm范圍內(nèi)0.1nm的高分辨帶來不凡的立體成像效果。
高精度,、低噪音、百萬數(shù)據(jù)點(diǎn),、數(shù)字技術(shù),，泰勒霍普森公司白光干涉儀的問世，宣告著微 觀世界表面三維形貌時代到來,。對于光學(xué)、半導(dǎo)體,、微納米機(jī)械,、汽車,、醫(yī)藥、軸承等工業(yè) 而言,，如果您需要非接觸的方法來檢測物體的三維表面形貌,、表面粗糙度,、臺階高度、微觀 三維尺寸,，CCI2000 提供了完美的側(cè)向精度,、納米級的分辨率、非接觸測量,、三維形貌顯示,， 是您理想的選擇。每當(dāng)需要進(jìn)行非接觸式高精度計量的理想方法來進(jìn)行粗糙度,，臺階高度或微觀尺寸測量時，泰勒·霍普森（Taylor Hobson）都能提供您期望的結(jié)果,。 Talysurf CCI 2000具有寬的橫向范圍和埃分辨率,，可為光學(xué)，MEMS,，半導(dǎo)體,，汽車，醫(yī)療和軸承行業(yè)的研究和制造提供無損3D測量,。
。 以新參數(shù)定義的二維及三維數(shù)據(jù)顯示,。
。 面積與體積參數(shù)
,。 二維參數(shù) 120 個
,。 三維參數(shù) 40 個
。 數(shù)據(jù)處理
,。 自動的臺階高度計算
。 我們采用可以溯源的樣塊,，對側(cè)面方向與垂直方向進(jìn)行標(biāo)定,。
。 對于我們所測量的幾何的,，空間的各種數(shù)據(jù),，都可以得到認(rèn)證。
篤摯儀器（上海）有限公司專業(yè)代理英國泰勒Taylor Hobson粗糙度儀,、輪廓儀,、圓度儀,、圓柱度儀等，篤摯技術(shù)服務(wù)部與匯聚**資源的合作品牌一起,，以共同對計量及試驗技術(shù)的專注和專業(yè),，致力于在質(zhì)量檢測領(lǐng)域，為客戶提供區(qū)域化和**化的廣泛而**的技術(shù)支持服務(wù),，確保操作和維護(hù)儀器的總體有效性和成本優(yōu)化，增強(qiáng)您測量和檢測的可靠性和性能,。歡迎留言或電話咨詢,，或進(jìn)入篤摯網(wǎng)上儀器展廳瀏覽更多便攜式粗糙度儀Surtronic DUO和Surtronic 25的詳情。
