 |
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀,，德國(guó)馬爾粗糙度儀,，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
會(huì)員.png)
10
聯(lián)系電話
|
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀,，德國(guó)馬爾粗糙度儀,，Mahr，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
聯(lián)系電話
| 參考價(jià) | 面議 |
更新時(shí)間：2020-12-28 13:46:28瀏覽次數(shù)：1790
聯(lián)系我們時(shí)請(qǐng)說(shuō)明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息，謝謝!
| 價(jià)格區(qū)間 | 面議 | 行業(yè)專用類型 | 有色金屬 |
|---|---|---|---|
| 儀器種類 | 臺(tái)式/落地式 | 應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,交通,冶金,航天,汽車 |
FISCHERSCOPE X-RAY XUV儀器配有一個(gè)可抽真空的大型測(cè)量箱,。其所裝備的大面積硅漂移探測(cè)器能夠探測(cè)低至1 keV的熒光輻射能量,，從而能夠有效地測(cè)量元素Na、Mg以及元素Zn,、Cu,、Ni的L輻射。大孔徑準(zhǔn)直器的使用大幅提高了信號(hào)計(jì)數(shù)率,，使儀器可以達(dá)到很小的重復(fù)精度和很低的測(cè)量下限,。XUV非常適合測(cè)量很薄的鍍層和痕量分析。
采用不同的準(zhǔn)直器和基本濾片組合,，能夠保證每一次的測(cè)量都在*佳的條件下完成,。在測(cè)量的同時(shí)，可以直觀地查看測(cè)量點(diǎn)的影像,。儀器測(cè)量空間寬大,，樣品放置便捷，配合可編程的XYZ軸工作臺(tái),，既適合測(cè)量平面,、大型板材類樣品，也適合形狀復(fù)雜的樣品,。并且使得連續(xù)測(cè)量分析鍍層厚度或元素分析也變得直觀而簡(jiǎn)單,。儀器配有一個(gè)激光定位點(diǎn)作為輔助定位裝置，進(jìn)一步方便了樣品的快速定位基于儀器的通用設(shè)計(jì)以及真空測(cè)量箱所帶來(lái)的擴(kuò)展的測(cè)量能力,，使得FISCHERSCOPE X-RAY XUV不僅可用于研究和開發(fā),，也非常適合過(guò)程控制和實(shí)驗(yàn)室使用。
主要特征：
• 帶鈹窗口的微聚焦X射線銠管,，可選鎢管和鉬管,。*高工作條件：50 kV, 50W
• X射線探測(cè)器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y(cè)器
• 準(zhǔn)直器：4個(gè)，可自動(dòng)切換,，從直徑0.1mm到3mm
• 基本濾片：6個(gè),，可自動(dòng)切換
• 可編程XYZ工作臺(tái)
• 攝像頭用來(lái)查看基本射線軸向方向的測(cè)量位置?？潭染€經(jīng)過(guò)校準(zhǔn),，顯示實(shí)際測(cè)量點(diǎn)大小。
• 可在真空,，空氣或者氦氣的環(huán)境下工作
• 測(cè)量輕元素
• 測(cè)量超薄鍍層和痕量分析
• 常規(guī)金屬分析鑒定
• 非破壞式寶石分析
• 太陽(yáng)能光伏產(chǎn)業(yè)
應(yīng)用實(shí)例：
種類,、來(lái)源和真實(shí)性，是評(píng)估寶石價(jià)值的本質(zhì)特征,；而寶石材質(zhì)的分析結(jié)果則是影響判斷的決定性因素,。通常，寶石的主要成份是鋁和硅的氧化物，還會(huì)伴隨有鎂和鈉等元素,。另外,， Cr、Fe,、Ga等微量元素也是很重要的,。XUV可以分析所有必要元素的光譜圖。在多個(gè)領(lǐng)域的應(yīng)用中,，非常薄的Al鍍層,、Si鍍層、氧化鋁鍍層和氧化硅鍍層正在變得原來(lái)越重要,。在真空環(huán)境中鍍層厚度的測(cè)量結(jié)果有顯著的提高,。使用XUV來(lái)測(cè)量這些鍍層，重復(fù)精度僅幾個(gè)納米
| 通用規(guī)格 | |
| 設(shè)計(jì)用途 | 能量色散X射線熒光光譜儀（EDXRF）用于確定薄涂層,，小結(jié)構(gòu),，痕跡和合金。 |
| 元素范圍 | 鈉（11）到鈾U（92）–同時(shí)*多24種元素 |
| 設(shè)計(jì)理念 | 臺(tái)式單元,，帶電動(dòng)開口圓柱形真空室;外部真空泵;可編程電動(dòng)X / Y / Z樣品臺(tái);高分辨率彩色攝像機(jī),，放大范圍廣 |
| 測(cè)量方向 | 向下 |
| X射線源 | |
| X射線管 | 帶銠靶的微焦點(diǎn)X射線管（可選用鎢，鉬或其他靶材） |
| 高壓 | 8 kV … 50 kV |
| 孔徑（準(zhǔn)直器） | 4倍可更改：Ø0.1毫米; Ø0.6毫米 Ø1毫米,； Ø3 mm（其他按需提供） |
| X射線探測(cè) | |
| X射線接收器 | 硅漂移探測(cè)器 |
| 電氣參數(shù) | |
| 電源要求 | AC 115 V or AC 230 V 50 / 60 Hz |
| 功率 | max. 120 W (XUV 773 without evaluation PC and vacuum pump) |
| 保護(hù)等級(jí): | IP40 |
| 尺寸規(guī)格 | |
| 外部尺寸 | 寬×深×高[mm]：640 x 640 x 760 mm |
| 內(nèi)部測(cè)量室尺寸 | 寬×深×高[mm]：400 x 390 |
| 重量 | ca. 120 kg |
| 環(huán)境要求 | |
| 使用時(shí)溫度 | 10° C – 40°C / 50°F – 104°F |
| 存儲(chǔ)或運(yùn)輸時(shí)溫度 | 0° C – 50°C / 32°F – 122°F |
| 空氣相對(duì)濕度 | ≤ 95 %,，無(wú)結(jié)露 |
| 工作臺(tái) | |
| 設(shè)計(jì) | 電動(dòng)和快速可編程X / Y / Z樣品臺(tái) |
| 行程 | X-/ Y-/ Z-axis [mm]:100 x 100 x 100 |
| 重復(fù)性X / Y / Z | ≤ 0,01 mm (uni-directional) |
| 可用樣品放置區(qū) | Width x depth [mm]: 135 x 135 |
| 樣品*大重量 | ≤ 1 kg |
| 樣品*大高度 | 100 mm |
。
