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篤摯儀器(上海)有限公司

主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,,Taylor Hobson粗糙度儀,,德國馬爾粗糙度儀,Mahr,,三豐粗糙度儀代理,,霍梅爾Hommel

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英國泰勒霍普森 Taylor Hobson

德國馬爾 Mahr

德國艾達(dá)米克-霍梅爾Hommel

德國菲希爾Fischer測厚儀

德國Elektrophysik(EPK)

德國尼克斯QNix測厚儀

德國BYK光澤儀

日本三豐Mitutoyo

日本柯尼卡美能達(dá)

美國狄夫斯高Defelsko

美國GE通用電氣

美國zygo干涉儀

美國API激光干涉儀

美國OGP影像測量儀

美國康寧CORNING TROPEL

美國環(huán)球Universal

美國Mark-10測力計(jì)

斯派克SPECTRO光譜儀

森薩帕特sensopart傳感器

瑞士TRIMOS

瑞士TESA

瑞士Wyler水平儀

瑞士sylvac

瑞士博勢Proceq硬度計(jì)

奧地利EMCOTEST硬度計(jì)

表面處理層無損檢測系統(tǒng)

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菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
參考價(jià) 面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)
  • 型號
  • 品牌 Helmut Fischer/德國菲希爾
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 上海市

更新時(shí)間:2021-02-23 13:37:31瀏覽次數(shù):1636

聯(lián)系我們時(shí)請說明是化工儀器網(wǎng)上看到的信息,,謝謝!

【簡單介紹】
產(chǎn)地類別 進(jìn)口 價(jià)格區(qū)間 面議
應(yīng)用領(lǐng)域 電子,交通,冶金,航天,汽車
菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd
FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器,,這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下,,可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率,,從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測下限。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量,。
【詳細(xì)說明】

菲希爾x射線鍍層測厚儀fischer xdv-sdd

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FISCHERSCOPE X-RAY XDV-SDD型儀器配備了感應(yīng)區(qū)域大而分辨率良好的硅漂移接收器,,這樣在使用大準(zhǔn)直器的情況下,可以達(dá)到很高的計(jì)數(shù)率,,從而實(shí)現(xiàn)良好的重復(fù)精度和很低的檢測下限,。XDV-SDD非常適合痕量分析中非常薄鍍層的測量。由于提高了低能輻射的靈敏度,,同時(shí)可測元素的范圍也擴(kuò)大到更低原子序數(shù)的元素,,這樣就可以可靠測量空氣中的磷或鋁。為了使每次測量都能在*佳激勵(lì)條件下進(jìn)行,,XDV-SDD配備了可切換的準(zhǔn)直器和基本濾片,。

        XDV-SDD測量空間寬大,,樣品放置便捷,可以放置平整的樣品,,也可以放置形狀復(fù)雜的大樣品,。連續(xù)測試或鍍層厚度和元素分布的測量都可以方便地用快速可編程XY-工作臺完成。操作很人性化,,測量門開啟方便,,儀器前部控制面板具備多種功能,日常使用輕松便捷,。測量位置的準(zhǔn)確設(shè)定可以很方便地通過高分辨率和高放大倍數(shù)的攝像頭完成,,攝像頭可以在操作時(shí)準(zhǔn)確顯示測量位置。激光點(diǎn)作為輔助定位裝置進(jìn)一步方便了樣品的快速定位,。良好的性能和通用的設(shè)計(jì)使得XDV-SDD是研發(fā),、過程控制和實(shí)驗(yàn)室的理想選擇。同時(shí)基于其健壯設(shè)計(jì)和用戶友好,,它也是*和生產(chǎn)監(jiān)控*不可少的設(shè)備,。

特征:

  • ?帶有鈹窗口和鎢鈀的微聚焦X射線管。
  • ?*高工作條件: 50 kV, 50W
  • ?X射線探測器采用珀?duì)柼吕涞墓杵铺綔y器
  • ?準(zhǔn)直器:4個(gè),,可自動切換,,從直徑0.1mm到3mm
  • ?基本濾片:6個(gè),可自動切換
  • ?帶彈出功能的可編程XY平臺
  • ?視頻攝像頭可用來實(shí)時(shí)查看測量位置,,十字線上有經(jīng)過校準(zhǔn)的刻度標(biāo)設(shè)計(jì)獲得許可,,防護(hù)全面,符合德國X射線條例第4章第3節(jié)

典型應(yīng)用領(lǐng)域:

  • 測量超薄鍍層,,例如電子和半導(dǎo)體行業(yè)
  • 痕量分析,,例如按照RoHS,玩具和包材指
  • 令檢測有害物質(zhì)
  • 高精度黃金和貴金屬分析
  • 光伏行業(yè)
  • 測量NiP層的厚度和成分

應(yīng)用實(shí)例 :

法律條例嚴(yán)格限制多種有害物質(zhì)的含量,,例如電子元件,,玩具或包裝材料。XDV-SDD使得快速方便地檢測是否符合這些限制成為可能,。例如,,測量檢出限僅僅幾個(gè)ppm的特別重要的化學(xué)元素Pb、Hg和Cd等,。

金屬中的有害物質(zhì)如:鋁合金中的Pb,、 Cd

金屬中的有害物質(zhì)如:鋁合金中的Pb、 Cd

玩具:檢測其中的 Pb,、 Cd,、H

玩具:檢測其中的 Pb、 Cd、Hg

NiP/Fe: P含量分析以及鍍層厚度測量

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