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篤摯儀器（上海）有限公司
主營產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀,，德國馬爾粗糙度儀,，Mahr,，三豐粗糙度儀代理,，霍梅爾Hommel |
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2017-9-29 閱讀(1450)
典型的范圍和精度
下圖顯示了標準目標的典型范圍和準確性。 更大的目標通?？梢蕴峁└蟮臏y量范圍以及較薄測量的*精度,。 選擇目標時應(yīng)考慮以下因素：
材料的zui小曲率
zui大厚度測量
測量所需的精度
材料的壓縮性（較大或磁珠會壓縮材料，然后較小或無磁性靶球）
表面硬度：磁性目標球不會像滾動的非磁性靶球一樣沿著表面滑動,。 使用磁珠時,，用戶要小心,，確保材料表面不會被磁性目標球劃傷,。
一般來說，通過使用在測試件中自由移動的zui大目標球,，將獲得的結(jié)果,。
校準：霍爾效應(yīng)儀器必須在使用前進行校準，使用與測量相同的探頭和靶標,。這是通過無目標的讀數(shù)來實現(xiàn)的,，目標接觸探針（零厚度），并在兩個或更多個參考厚度。這允許儀器產(chǎn)生一個校準表,，其中繪制電壓變化與厚度的關(guān)系,。校準將每個使用的目標與本機的內(nèi)存查找表進行匹配。校準還可以測量目標可能位置的兩個極值（“球開”和“球關(guān)”）,，并將這些端點分配給查找表,。已知厚度的附加校準點用于微調(diào)表格以獲得*精度。在操作過程中,，每當(dāng)探頭方向或環(huán)境溫度變化時,，應(yīng)進行校準。
MagnaMike 8600圖示目標球的自由運動：由于霍爾效應(yīng)測量儀測量探頭和目標之間的距離,，球的幾何阻塞將導(dǎo)致不準確的測量,。類似地，探針必須與部件緊密接觸,。當(dāng)表面幾何形狀限制接觸面積時,，應(yīng)使用鑿點磨損帽。
附近的磁性物體和磁場：探頭不應(yīng)用于鐵質(zhì)材料,，如碳鋼長凳,，貨架，支架,，支架,，手表或首飾，或靠近電動機或類似的電磁干擾源,。它應(yīng)該保持至少8英寸（200毫米）從電腦,。所有這些都會影響探頭的磁場，導(dǎo)致不準確的測量,。當(dāng)測量每個目標類型的zui大厚度附近時,，這一點尤為重要。
探測方向：由于Magna-Mike 8600通過監(jiān)測磁場的小變化來測量厚度,，其校準過程包括對地球磁場的影響的自動補償,。zui常見的是，探針以一個恒定的方向被保持在一個立場上,。然而,，在探針以不同的方向（例如水平保持）使用的情況下，或者當(dāng)在掃描彎曲部分的外部方向改變時,，必須更新校準,。在Magna-Mike 8600中，Q-Cal功能用于進行此更正,。當(dāng)測量每個目標類型的zui大厚度附近時,，這一點尤為重要,。只需移除目標物并按住Q-Cal鍵，同時將探頭保持在所需的方向,。
粗糙或垂直的測試表面：當(dāng)探頭被掃描時,，表面粗糙度或凹槽可導(dǎo)致目標球暫時掛起，從而增加表觀厚度,。當(dāng)使用探頭測量水平方向的垂直表面時,，重力會導(dǎo)致目標球從探頭的中心線掉落。在這些情況下,，MIN Capture模式應(yīng)用于確保真實zui小厚度的測量,。
導(dǎo)線目標：使用導(dǎo)線目標時，探針必須至少距離導(dǎo)線末端1英寸（25毫米）,。在測量點,，必須將電線牢固地按壓在測試片上，因為與任何其他目標一樣,，麥格納 - 邁克實際上正在測量與目標的距離,，而不是直徑的壁厚。必須保持探針和導(dǎo)線之間的角度對準（通常是垂直的）,，因為導(dǎo)線傾斜會影響讀數(shù),。電線目標不應(yīng)扭曲或彎曲。
介紹：奧林巴斯Magna-Mike 8600霍爾效應(yīng)測厚儀是小型,，輕便的儀器,，旨在對非磁性材料（如塑料，玻璃,，復(fù)合材料,，鋁和鈦）進行快速，準確和可重復(fù)的測量,。奧林巴斯Magna-Mike 8600提供兩種類型的探頭,，兩種類型的耐磨帽和四種類型的目標，以適應(yīng)一系列厚度以及各種各樣的試樣幾何形狀,。探頭類型 - 直角和直角探頭可用,。 在探頭架上垂直固定的直式探頭zui常用于臺面檢查。 直角探頭設(shè)計用于部件幾何形狀限制訪問的情況,，如在涉及有色鑄件的一些測試中,。
