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篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,,Taylor Hobson粗糙度儀,,德國馬爾粗糙度儀,,Mahr,,三豐粗糙度儀代理,,霍梅爾Hommel |

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2017-9-29 閱讀(1450)
典型的范圍和精度
下圖顯示了標準目標的典型范圍和準確性。 更大的目標通??梢蕴峁└蟮臏y量范圍以及較薄測量的*精度,。 選擇目標時應(yīng)考慮以下因素:
材料的zui小曲率
zui大厚度測量
測量所需的精度
材料的壓縮性(較大或磁珠會壓縮材料,然后較小或無磁性靶球)
表面硬度:磁性目標球不會像滾動的非磁性靶球一樣沿著表面滑動,。 使用磁珠時,,用戶要小心,,確保材料表面不會被磁性目標球劃傷,。
一般來說,通過使用在測試件中自由移動的zui大目標球,,將獲得的結(jié)果,。
校準:霍爾效應(yīng)儀器必須在使用前進行校準,使用與測量相同的探頭和靶標,。這是通過無目標的讀數(shù)來實現(xiàn)的,,目標接觸探針(零厚度),并在兩個或更多個參考厚度。這允許儀器產(chǎn)生一個校準表,,其中繪制電壓變化與厚度的關(guān)系,。校準將每個使用的目標與本機的內(nèi)存查找表進行匹配。校準還可以測量目標可能位置的兩個極值(“球開”和“球關(guān)”),,并將這些端點分配給查找表,。已知厚度的附加校準點用于微調(diào)表格以獲得*精度。在操作過程中,,每當(dāng)探頭方向或環(huán)境溫度變化時,,應(yīng)進行校準。
MagnaMike 8600圖示目標球的自由運動:由于霍爾效應(yīng)測量儀測量探頭和目標之間的距離,,球的幾何阻塞將導(dǎo)致不準確的測量,。類似地,探針必須與部件緊密接觸,。當(dāng)表面幾何形狀限制接觸面積時,,應(yīng)使用鑿點磨損帽。
附近的磁性物體和磁場:探頭不應(yīng)用于鐵質(zhì)材料,,如碳鋼長凳,,貨架,支架,,支架,,手表或首飾,或靠近電動機或類似的電磁干擾源,。它應(yīng)該保持至少8英寸(200毫米)從電腦,。所有這些都會影響探頭的磁場,導(dǎo)致不準確的測量,。當(dāng)測量每個目標類型的zui大厚度附近時,,這一點尤為重要。
探測方向:由于Magna-Mike 8600通過監(jiān)測磁場的小變化來測量厚度,,其校準過程包括對地球磁場的影響的自動補償,。zui常見的是,探針以一個恒定的方向被保持在一個立場上,。然而,,在探針以不同的方向(例如水平保持)使用的情況下,或者當(dāng)在掃描彎曲部分的外部方向改變時,,必須更新校準,。在Magna-Mike 8600中,Q-Cal功能用于進行此更正,。當(dāng)測量每個目標類型的zui大厚度附近時,,這一點尤為重要,。只需移除目標物并按住Q-Cal鍵,同時將探頭保持在所需的方向,。
粗糙或垂直的測試表面:當(dāng)探頭被掃描時,,表面粗糙度或凹槽可導(dǎo)致目標球暫時掛起,從而增加表觀厚度,。當(dāng)使用探頭測量水平方向的垂直表面時,,重力會導(dǎo)致目標球從探頭的中心線掉落。在這些情況下,,MIN Capture模式應(yīng)用于確保真實zui小厚度的測量,。
導(dǎo)線目標:使用導(dǎo)線目標時,探針必須至少距離導(dǎo)線末端1英寸(25毫米),。在測量點,,必須將電線牢固地按壓在測試片上,因為與任何其他目標一樣,,麥格納 - 邁克實際上正在測量與目標的距離,,而不是直徑的壁厚。必須保持探針和導(dǎo)線之間的角度對準(通常是垂直的),,因為導(dǎo)線傾斜會影響讀數(shù),。電線目標不應(yīng)扭曲或彎曲。
介紹:奧林巴斯Magna-Mike 8600霍爾效應(yīng)測厚儀是小型,,輕便的儀器,,旨在對非磁性材料(如塑料,玻璃,,復(fù)合材料,,鋁和鈦)進行快速,準確和可重復(fù)的測量,。奧林巴斯Magna-Mike 8600提供兩種類型的探頭,,兩種類型的耐磨帽和四種類型的目標,以適應(yīng)一系列厚度以及各種各樣的試樣幾何形狀,。探頭類型 - 直角和直角探頭可用,。 在探頭架上垂直固定的直式探頭zui常用于臺面檢查。 直角探頭設(shè)計用于部件幾何形狀限制訪問的情況,,如在涉及有色鑄件的一些測試中,。