 |
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀,，德國(guó)馬爾粗糙度儀，Mahr,，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
會(huì)員.png)
10
聯(lián)系電話(huà)
|
篤摯儀器（上海）有限公司
主營(yíng)產(chǎn)品： 泰勒霍普森代理,，Taylor Hobson粗糙度儀,，德國(guó)馬爾粗糙度儀，Mahr,，三豐粗糙度儀代理，霍梅爾Hommel |
聯(lián)系電話(huà)
2017-9-29 閱讀(1295)
典型的范圍和精度
下圖顯示了標(biāo)準(zhǔn)目標(biāo)的典型范圍和準(zhǔn)確性。 更大的目標(biāo)通?？梢蕴峁└蟮臏y(cè)量范圍以及較薄測(cè)量的*精度,。 選擇目標(biāo)時(shí)應(yīng)考慮以下因素：
材料的zui小曲率
zui大厚度測(cè)量
測(cè)量所需的精度
材料的壓縮性（較大或磁珠會(huì)壓縮材料,，然后較小或無(wú)磁性靶球）
表面硬度：磁性目標(biāo)球不會(huì)像滾動(dòng)的非磁性靶球一樣沿著表面滑動(dòng),。 使用磁珠時(shí),，用戶(hù)要小心,，確保材料表面不會(huì)被磁性目標(biāo)球劃傷,。
一般來(lái)說(shuō),，通過(guò)使用在測(cè)試件中自由移動(dòng)的zui大目標(biāo)球，將獲得的結(jié)果,。
校準(zhǔn)：霍爾效應(yīng)儀器必須在使用前進(jìn)行校準(zhǔn),，使用與測(cè)量相同的探頭和靶標(biāo)。這是通過(guò)無(wú)目標(biāo)的讀數(shù)來(lái)實(shí)現(xiàn)的,，目標(biāo)接觸探針（零厚度），并在兩個(gè)或更多個(gè)參考厚度,。這允許儀器產(chǎn)生一個(gè)校準(zhǔn)表,，其中繪制電壓變化與厚度的關(guān)系。校準(zhǔn)將每個(gè)使用的目標(biāo)與本機(jī)的內(nèi)存查找表進(jìn)行匹配,。校準(zhǔn)還可以測(cè)量目標(biāo)可能位置的兩個(gè)極值（“球開(kāi)”和“球關(guān)”）,，并將這些端點(diǎn)分配給查找表,。已知厚度的附加校準(zhǔn)點(diǎn)用于微調(diào)表格以獲得*精度,。在操作過(guò)程中,，每當(dāng)探頭方向或環(huán)境溫度變化時(shí),，應(yīng)進(jìn)行校準(zhǔn),。
MagnaMike 8600圖示目標(biāo)球的自由運(yùn)動(dòng)：由于霍爾效應(yīng)測(cè)量?jī)x測(cè)量探頭和目標(biāo)之間的距離,，球的幾何阻塞將導(dǎo)致不準(zhǔn)確的測(cè)量,。類(lèi)似地，探針必須與部件緊密接觸,。當(dāng)表面幾何形狀限制接觸面積時(shí),，應(yīng)使用鑿點(diǎn)磨損帽,。
附近的磁性物體和磁場(chǎng)：探頭不應(yīng)用于鐵質(zhì)材料,，如碳鋼長(zhǎng)凳，貨架,，支架,，支架，手表或首飾,，或靠近電動(dòng)機(jī)或類(lèi)似的電磁干擾源。它應(yīng)該保持至少8英寸（200毫米）從電腦,。所有這些都會(huì)影響探頭的磁場(chǎng),，導(dǎo)致不準(zhǔn)確的測(cè)量,。當(dāng)測(cè)量每個(gè)目標(biāo)類(lèi)型的zui大厚度附近時(shí),，這一點(diǎn)尤為重要。
探測(cè)方向：由于Magna-Mike 8600通過(guò)監(jiān)測(cè)磁場(chǎng)的小變化來(lái)測(cè)量厚度，其校準(zhǔn)過(guò)程包括對(duì)地球磁場(chǎng)的影響的自動(dòng)補(bǔ)償,。zui常見(jiàn)的是，探針以一個(gè)恒定的方向被保持在一個(gè)立場(chǎng)上,。然而，在探針以不同的方向（例如水平保持）使用的情況下,，或者當(dāng)在掃描彎曲部分的外部方向改變時(shí),，必須更新校準(zhǔn)。在Magna-Mike 8600中,，Q-Cal功能用于進(jìn)行此更正。當(dāng)測(cè)量每個(gè)目標(biāo)類(lèi)型的zui大厚度附近時(shí),，這一點(diǎn)尤為重要,。只需移除目標(biāo)物并按住Q-Cal鍵，同時(shí)將探頭保持在所需的方向,。
粗糙或垂直的測(cè)試表面：當(dāng)探頭被掃描時(shí),，表面粗糙度或凹槽可導(dǎo)致目標(biāo)球暫時(shí)掛起，從而增加表觀厚度,。當(dāng)使用探頭測(cè)量水平方向的垂直表面時(shí),，重力會(huì)導(dǎo)致目標(biāo)球從探頭的中心線(xiàn)掉落。在這些情況下,，MIN Capture模式應(yīng)用于確保真實(shí)zui小厚度的測(cè)量,。
導(dǎo)線(xiàn)目標(biāo)：使用導(dǎo)線(xiàn)目標(biāo)時(shí)，探針必須至少距離導(dǎo)線(xiàn)末端1英寸（25毫米）,。在測(cè)量點(diǎn),，必須將電線(xiàn)牢固地按壓在測(cè)試片上,，因?yàn)榕c任何其他目標(biāo)一樣，麥格納 - 邁克實(shí)際上正在測(cè)量與目標(biāo)的距離,，而不是直徑的壁厚,。必須保持探針和導(dǎo)線(xiàn)之間的角度對(duì)準(zhǔn)（通常是垂直的）,，因?yàn)閷?dǎo)線(xiàn)傾斜會(huì)影響讀數(shù)。電線(xiàn)目標(biāo)不應(yīng)扭曲或彎曲。
介紹：奧林巴斯Magna-Mike 8600霍爾效應(yīng)測(cè)厚儀是小型,，輕便的儀器，旨在對(duì)非磁性材料（如塑料,，玻璃,，復(fù)合材料，鋁和鈦）進(jìn)行快速,，準(zhǔn)確和可重復(fù)的測(cè)量,。奧林巴斯Magna-Mike 8600提供兩種類(lèi)型的探頭,，兩種類(lèi)型的耐磨帽和四種類(lèi)型的目標(biāo),，以適應(yīng)一系列厚度以及各種各樣的試樣幾何形狀,。探頭類(lèi)型 - 直角和直角探頭可用。 在探頭架上垂直固定的直式探頭zui常用于臺(tái)面檢查,。 直角探頭設(shè)計(jì)用于部件幾何形狀限制訪(fǎng)問(wèn)的情況，如在涉及有色鑄件的一些測(cè)試中,。
