篤摯儀器(上海)有限公司
主營產(chǎn)品: 泰勒霍普森代理,Taylor Hobson粗糙度儀,,德國馬爾粗糙度儀,,Mahr,,三豐粗糙度儀代理,,霍梅爾Hommel |
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2020-8-19 閱讀(2201)
涂層測厚儀4500精度和測量范圍,測量范圍Fe:0-3000μm型和Fe:0-5000μm型,,和Fe/NFe:0-3000μm,,精度±(2+3%)μm≤2000μm;±(2+5%)μm>2000μm
型號:
型號 | 型式 | 量程 | 基體 |
QNix4200 | 一體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix4200P | 分體 | Fe:0-3000μm | Fe |
QNix4200/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix4200P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe |
QNix4500 | 一體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500P | 分體 | Fe/NFe:0-3000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500/5 | 一體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe 雙用 |
QNix4500P5 | 分體 | Fe:0-5000μm | Fe/NFe 雙用 |
產(chǎn)品型號 | QNix4200 | QNix4500 | |
適合基體 | 磁性基體 | 磁性基體/非磁性基體 | |
探頭類型 | Fe | Fe/ NFe | |
測量范圍 | Fe:0-3000um | Fe: 0-3000um或0-5000um | |
顯示范圍 | 0-99.9μm:0.1μm | ||
精度 | ±(2+3%)μm≤2000μm | ||
*小接觸面 | Fe:10×10mm²,,NFe:6×6mm² | ||
*小曲率半徑 | 凸半徑:5mm,,凹半徑:25mm | ||
*小基體厚度 | Fe:0.2mm/NFe:0.05mm | ||
溫度補償范圍 | 0-50℃ | ||
測量溫度范圍 | -10℃-60℃ | ||
分體型連接線長度 | 1m | ||
顯示 | LCD液晶(帶背光) | ||
探頭 | 紅寶石固定式 | ||
電源 | 2×1.5V干電池 | ||
尺寸 | 100×60×27mm | ||
重量 | 一體型:105g,分體型:147g | ||
標準配置 | 主機,、探頭,、基體、包裝盒,、隨機資料 | ||
可選配置 | 標準膜厚片,、探頭導線 |
儀器使用:
1.開機:
裝入電池后按紅色按鍵或?qū)x器探頭垂直接觸被測物體表面并壓實,儀器將自動開機,。(使用時務必要使探頭垂直接觸被測物表面并壓實,,禁止接觸狀態(tài)下橫向滑動探頭,以免劃傷探頭前端紅寶石,。每次測量后將儀器拿起,,離開被測物10cm以上,再進行下次測量,。)
2.設置:
開機后按紅色按鍵進入菜單,,QNix®4500為4個選項,,QNix®4500為2個選項,見下圖:
“Fe”為磁性金屬基體模式,,“NFe”為非磁性金屬基體模式(僅QNix®4500),,“Fe/NFe”為自動識別基體模式(僅QNix®4500),“取平均值”為儀器自動顯示后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測量),。
按紅鍵進入菜單后,,繼續(xù)按紅鍵進行選擇,將光標在選項上停留2秒后,,進入所選項目,。如在“Fe”選項上停留2秒后,儀器顯示如下:
這時儀器進入Fe(磁性金屬基體)模式下工作,。QNix®4500也可選擇NFe(非磁性金屬基體),、Fe/NFe(磁性非磁性基體自動識別)模式下工作。進入“取平均值”選項后,,儀器顯示如下
在“開”選項上停留2秒后,,取平均值開啟,測量時顯示數(shù)據(jù)為后三次讀數(shù)的平均值(包括本次測量),,測量時在屏幕右上角出現(xiàn)“ X— ”符號時表示取平均值開啟,如不需要請關閉(在取平均值選項里選擇“關”)即可,。
3.測量:
(1)調(diào)零:
儀器在測量前,,應在基體上取零位作基準。建議用未噴涂的同一種工件表面調(diào)零,,因為材料之間導磁性和導電性不同,,會造成一定誤差。選擇相應Fe或NFe模式后,,將儀器探頭壓在調(diào)零板或未噴涂的工件表面上,,不要抬起,按一下儀器上的紅鍵松開,,儀器依次顯示“零位參照,、放置探頭”、“零位參照,,拿起探頭”或聽到儀器響聲后,,拿起儀器,出現(xiàn)一組數(shù)據(jù)或聽到響聲后,,液晶顯示0,,調(diào)零完畢。
注意:由于工件表面粗糙度等原因,,調(diào)零后,,再測時不一定是的零位,,這是正常現(xiàn)象,。
(2)測量
將儀器探頭垂直接觸被測物的表面,,儀器將自動測出并顯示數(shù)據(jù)。(建議用拇指和食指拿住儀器凹槽處使用,,分體型用拇指和食指拿住探頭凹槽處使用)
注意:測量時務必要使探頭垂直接觸被測物表面,、并壓實,每測量一次后將儀器拿起,,離開被測物10㎝以上,,再進行下一點測量。