二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡利用聚焦的很窄的高能電子束來掃描樣品, 通過光束與物質間的相互作用, 來激發(fā)各種物理信息, 對這些信息收集、放大,、再成像以達到對物質微觀形貌表征的目的,。

• M-IT200是一款更簡潔、更易于使用的掃描電子顯微鏡,。
  使用初學者易懂的樣品交換導航,，可以輕松地從樣品臺搜索視野并開始觀察SEM圖像。Zeromag能像光鏡一樣直觀地搜索視野,，Live Analysis*2可以不用特意分析就能實時獲取元素分析結果,，SMILE VIEWTM Lab能綜合編輯觀察和分析報告等,，使它成為一個分析業(yè)務的軟件。
  立即觀察,！立即分析,！立即報告！

  
  

  
  

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• 二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡詳細介紹

• 和機型具有相同的功能,，更簡練易用,。

  ■主窗口 ーZeromag觀察ー 使用主窗口顯示的樣品架示意圖和光學CCD 圖像*1，能尋找視野和分析

  位置,。

  
  

  ■ 顯示譜圖和顯示元素 ー Live Analysis 分析 *2ー 通過顯示譜圖和顯示元素,，能確認正在觀察中的視野的譜圖及主要元素。

  
  

  ■ 數(shù)據(jù)管理圖標 ー SMILE VIEWTM Lab 數(shù)據(jù)集中管理 ー 點擊數(shù)據(jù)管理圖標并顯示數(shù)據(jù)管理窗口后,，從SEM 圖像到分析,，對全部數(shù)據(jù) 能創(chuàng)建批量報告、查看數(shù)據(jù),。并重新分析數(shù)據(jù),。

  *1 拍攝CCD 圖像，需要SNS(選配件) *2 適合(A)Analysis /(LA)Low Vacuum & Analysis 配置

  Ze romag功能將與樣品臺位置關聯(lián)的樣品架示意圖,、CCD圖像*(光學圖像)和 SEM 圖像

  實現(xiàn)了聯(lián)動,。可以直觀地尋找分析區(qū)域,，只需放大光學圖像就可以過渡到 SEM 圖像,，因 只需放大光學圖像，就可以過渡到SEM圖像! 而能防止弄錯觀察目標和樣品,。

  
  

二手 日本電子JSM IT-200掃描電子顯微鏡售后服務保障

1,、零配件庫存充足，對業(yè)務所及的儀器90%常見的故障準備了庫存配件,，同時和廠家保持良好的合作的關系,，零配件有充分的保障。

2,、我們全力打造“快而靈活"的專業(yè)服務,。到目前為止所有現(xiàn)場服務需求，我們都能夠4小時內線上響應,， 48小時內到達現(xiàn)場,。

3、利用現(xiàn)代信息技術,，我們?yōu)槊恳晃豢蛻籼峁┗ヂ?lián)網(wǎng)在線支持，遠程快速診斷及排除故障,，大大縮短儀器停機時間,，提高客戶的工作效率,。對路途遠及初期客戶對儀器不熟悉是一個特別有力的支持。

4,、不斷完善的服務體系,。每一次服務都能做到規(guī)范化，可跟蹤及持續(xù)性,，符合各行業(yè)的法規(guī)要求,。

5、專業(yè)的服務團隊,，工程師均是原廠工程師或經原廠工程師專業(yè)培訓過的,，通過考核后方可上崗為客戶提供服務。