二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 ?是一種優(yōu)良的電子顯微鏡,，其核心原理基于場(chǎng)發(fā)射電子源和電子光學(xué)系統(tǒng),。場(chǎng)發(fā)射電鏡利用強(qiáng)電場(chǎng)作用，使得電子通過(guò)量子隧道效應(yīng)逸出,，形成高亮度,、高相干性且能量分散小的電子束。這種電子源相比傳統(tǒng)的熱發(fā)射電子源,，具有更高的亮度和更小的電子束直徑,，從而實(shí)現(xiàn)更高的分辨率。

二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡 掃描電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用在納米技術(shù),、金屬,、半導(dǎo)體、陶瓷及醫(yī)學(xué)生物學(xué)等各種各樣領(lǐng)域里,，而且它的用途越來(lái)越廣,。為了對(duì)應(yīng)在高分辨條件下的材料微細(xì)結(jié)構(gòu)解析，提高JSM-7610F的分辨率,，對(duì)電子光學(xué)系統(tǒng)做了重新研究,。半浸沒(méi)式物鏡和大電流下高穩(wěn)定性的in-lens熱場(chǎng)發(fā)射電子槍的wan美組合，使得該設(shè)備兼具超高分辨率觀察和高空間分辨率分析的能力,。

二手 日本電子 JSM-7610F plus場(chǎng)發(fā)射電鏡主要特點(diǎn)

1.具有高分辨能力的半浸沒(méi)式物鏡（Semi-in-lens）

半浸沒(méi)式物鏡能將電子束收縮的很細(xì),，即使在低加速電壓下也能實(shí)現(xiàn)高分辨,。

2.采用GENTLEBEAM™模式，低加速電壓下的Z表面觀察

GENTLEBEAM™模式（GB mode）是通過(guò)給樣品加以偏壓使得電子束在到達(dá)樣品前減速的功能來(lái)實(shí)現(xiàn)低加速電壓下的有效觀察和分析,。

3.r-filter信號(hào)選擇

通過(guò)r-filter選擇樣品上產(chǎn)生的二次電子和背散射電子信號(hào)進(jìn)行檢測(cè),。

4.LABE探頭（可選件）檢測(cè)低角度背散射電子像

LABE（Low Angle BE）探頭檢測(cè)低角度的背散射電子，在低加速電壓下能觀 察樣品表面的微細(xì)的凹凸信息,，在高加速電壓下能觀察樣品的組成信息.

5.High Power Optics高能光學(xué)系統(tǒng)

大電流下高穩(wěn)定性的in-lens熱場(chǎng)發(fā)射電子槍和全電流范圍內(nèi)自動(dòng)優(yōu)化束徑的ACL的wan美組合,，能夠進(jìn)行穩(wěn)定的觀察和分析.

主要技術(shù)規(guī)格

分辨率（SEI）	0.8nm（15kV） 1.0nm（1kV， GB模式） 能譜分析時(shí),，3.0nm（15kV,、WD8mm、照射電流5nA）
倍率	×25～×19,000（LM模式） ×130～×1,000,000（SEM模式）
加速電壓	0.1kV～30kV
照射電流	數(shù) pA～200nA
電子槍	In-lens熱場(chǎng)發(fā)射電子槍

本公司售后服務(wù)保障

1,、零配件庫(kù)存充足,，對(duì)業(yè)務(wù)所及的儀器90%常見(jiàn)的故障準(zhǔn)備了庫(kù)存配件，同時(shí)和廠家保持良好的合作的關(guān)系,，零配件有充分的保障,。

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4,、不斷完善的服務(wù)體系,。每一次服務(wù)都能做到規(guī)范化，可跟蹤及持續(xù)性,，符合各行業(yè)的法規(guī)要求,。

5、專業(yè)的服務(wù)團(tuán)隊(duì),，工程師均是原廠工程師或經(jīng)原廠工程師專業(yè)培訓(xùn)過(guò)的,，通過(guò)考核后方可上崗為客戶提供服務(wù)。