安捷倫（2手）ICP-MS光譜：可即刻運行的 Agilent 7500 ICP-MS 結合穩(wěn)定的硬件配置、自動優(yōu)化工具與預設方法簡化常規(guī)分析,。硬件具有高基體耐受能力,、寬動態(tài)范圍并能對多原子干擾進行有效控制，可消除復雜多變的樣品基體帶來的不確定性,。7500 ICP-MS 極易設置和使用,，因此您可以快速獲得多種樣品類型的可靠結果。

安捷倫（2手）ICP-MS光譜產品特性：

 ● 快速提高常規(guī)金屬分析效率 — ICP-MS MassHunter 軟件包含預定義設置的可簡便加載和運行的預設方法,，預定義設置涉及從等離子體條件到分析物積分時間及內標,。對于新方法，方法向導將根據(jù)樣品類型和應用建立方法,。了解關于飲用水,、環(huán)境廢棄物和制藥產品解決方案中元素雜質的更多信息。

 

● 減少樣品前處理 — 7500 ICP-MS 標配*的耐高鹽進樣 (HMI) 技術,，無需稀釋即可分析總溶解固體 (TDS) 含量高達 3% 的樣品,，減少了樣品前處理并節(jié)省了時間。 

 

● 大限度減小信號抑制 — HMI 能減少信號抑制,，因此可以準確測定高基體樣品而無需標樣的基體匹配,。

 

● 有效去除干擾，確保數(shù)據(jù)準確性 — 氦氣 (He) 碰撞模式可在同一套質譜條件下去除所有多原子離子干擾,，簡化了方法開發(fā)與日常操作,。He 模式無需基體特異性或分析物特異性反應池條件。 

 

● 在一次運行中同時分析常量和痕量元素 — 寬動態(tài)范圍正交檢測器系統(tǒng) (ODS) 可在一次運行中實現(xiàn)常量元素（數(shù)百或數(shù)千 ppm）與痕量元素（ppt 或亞 ppt 級）的直接分析,。較高的上限濃度可減少由超量程結果造成的樣品再運行,。

 

● 提高通量和分析效率 — 可選的集成式進樣系統(tǒng) (ISIS 3) 和 SPS 4 自動進樣器可在不影響數(shù)據(jù)質量的前提下降低每個樣品的分析成本。

 

 安捷倫（2手）ICP-MS光譜主要參數(shù)

1.  敏度：
低質量數(shù) Li(7): 3 50 Mcps/ppm,；
中質量數(shù) Y(89): 3 160 Mcps/ppm（7700x),； 240 Mcps/ppm(7700s) ；
高質量數(shù) Tl(205): 3 80 Mcps/ppm(7700x),； 120 Mcps/ppm(7700s),；
根據(jù)用戶特 需求，可提供   敏度功能
2. 檢測限：
低質量數(shù) Be(9): ￡ 0.5 ppt,；
中質量數(shù) In(115): ￡ 0.1 ppt
高質量數(shù) Bi(209): ￡ 0.1 ppt
3. 氧化物干擾: CeO+/Ce+:￡ 1.5 %(7700x),； 3.0 %(7700s)；
4. 雙電荷干擾: Ce2+/Ce+:￡ 3.0 %
5. 同位素比精度: RSD(107Ag/109Ag) ￡0.1  
6. 質譜范圍：2 - 260 amu,；
7 豐度 敏度 ：
低質量端: ￡ 5 x 10-7
高質量端: ￡ 1 x 10-7