詳細(xì)介紹
掃描電鏡出租高清晰度
無(wú)需蒸金等前處理即可觀(guān)察所有測(cè)試材料的zui表面部分
無(wú)需蒸金等前處理即可觀(guān)察
掃描電鏡出租使用以往的 SEM 進(jìn)行觀(guān)察時(shí)需要進(jìn)行蒸金等前處理,,因其會(huì)破壞測(cè)試材料,,所以不能用于觀(guān)察正在進(jìn)行評(píng)價(jià)的試作品。另外,,蒸金等前處理可能會(huì)導(dǎo)致測(cè)試材料變質(zhì),,有時(shí)不能進(jìn)行正確觀(guān)察。VE 系列則無(wú)需蒸金等前處理就可輕松進(jìn)行正確觀(guān)察,。
醫(yī)藥品顆粒
晶片電子零件
毛紡物
復(fù)印碳粉
可清晰觀(guān)察測(cè)試材料zui表面部分
除可使用高加速電壓外,,還可使用低加速電壓進(jìn)行觀(guān)察
使用低能量的電子光束觀(guān)察測(cè)試材料表面,所獲得的圖像可不受測(cè)試材料內(nèi)部的組成和材質(zhì)影響,,正確再現(xiàn)測(cè)試材料表面,。被高能量的電子光束消除的細(xì)微形狀也可清晰捕捉,從而進(jìn)行更詳細(xì)的解析,。
將測(cè)試材料的損傷降至zui小
盡可能抑制變形或?qū)Σ牧系膿p傷,,可進(jìn)行更正確的觀(guān)察
用于觀(guān)察的電子光束的能量很低,,所以可以將對(duì)測(cè)試材料的損傷或變形降至zui小。這對(duì)怕熱和含水分的測(cè)試材料觀(guān)察特別有效,,不僅可以詳細(xì)觀(guān)察表面形狀,,也可正確觀(guān)察其初始狀態(tài)。
“消除帶電功能” 可實(shí)現(xiàn)非蒸金等前處理的觀(guān)察
通過(guò)除去測(cè)試材料所帶電荷,,可大大提高觀(guān)察效率
如果要觀(guān)察的材料是非導(dǎo)體,,通過(guò)電子光束,測(cè)試材料可以會(huì)帶電,。帶電會(huì)導(dǎo)致觀(guān)察圖像歪曲,,顯示錯(cuò)誤的反差,妨礙正確的觀(guān)察,。VE系列帶有消除帶電功能,,按一個(gè)按鈕,即可瞬間除去所帶電荷,,輕松實(shí)現(xiàn)非蒸金等前處理,,并能觀(guān)察至zui表面部分。
掃描電子顯微鏡表面分析儀優(yōu)點(diǎn):
①有較高的放大倍數(shù),,幾萬(wàn)~幾十萬(wàn)倍之間連續(xù)可調(diào),;
②有很大的景深,視野大,,成像富有立體感,,可直接觀(guān)察各種試樣凹凸不平表面的細(xì)微結(jié)構(gòu);
③試樣制備簡(jiǎn)單,。 目前的掃描電鏡都配有X射線(xiàn)能譜儀裝置,,這樣可以同時(shí)進(jìn)行顯微組織性貌的觀(guān)察和微區(qū)成分分析,因此它是當(dāng)今十分有用的科學(xué)研究?jī)x器,。