首頁 >> 供求商機
貨物所在地:北京北京市
更新時間:2024-09-17 21:00:05
瀏覽次數(shù):655
在線詢價收藏產(chǎn)品( 聯(lián)系我們,,請說明是在 化工儀器網(wǎng) 上看到的信息,,謝謝?。?/p>
輕松檢測85° 尖銳角
![]() 有尖銳角的樣品(剃刀) | 激光共焦顯微鏡采用了有著高N.A. 的物鏡和光學系統(tǒng)(能zui大限度發(fā)揮405 nm 激光性能),,LEXT OLS4100 可以精確地測量一直以來無法測量的有尖銳角的樣品。這有利于粗糙度的測量,。 |
![]() LEXT 物鏡 | ![]() 使用物鏡時的zui小象差 |
高度分辨率10 nm,,輕松測量微小輪廓
![]() (MPLAPON50XLEXT) 高度差標準 類型B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany, 6 nm 高度測量中的檢測 | 由于采用405 nm 的短波長激光和更高數(shù)值孔徑的物鏡,OLS4100 達到了0.12 μm 的平面分辨率,。因此,,可以對樣品的表面進行亞微米的測量。結(jié)合高精度的0.8 nm 的光柵讀取能力和軟件算法,例如奧林巴斯開創(chuàng)的I-Z 曲線(請參閱第23 頁),,OLS4100 可以分辨出10 nm 的高度差,。 |
克服反射率的差異
![]() 鉆石電鍍工具 物鏡:MPLAPON50XLEXT | OLS4100 采用了雙共焦系統(tǒng),結(jié)合高靈敏度的探測器,,那些具有不同反射率材料的樣品,,也能在OLS4100 上獲得鮮明的影像。 |
適用于透明層
多層模式
LEXT OLS4100 全新的多層模式則可以識別多層樣品各層上反射光強度的峰值區(qū)域,,并將各層設為焦點,,這樣即可實現(xiàn)對透明樣品上表面的觀察和測量,而且也可以對多層樣品的各層進行分析和厚度測量,。
觀察/測量透明材料的各個層
多層模式可實現(xiàn)對透明樣品的頂部的透明層進行觀察和測量,。即使在玻璃基片上覆有一層透明樹脂層,也可測量出各層的形狀和粗糙度以及表面覆膜的厚度,。
![]() | 通常表示測量儀器的測量精度的,,有2 個指標:"正確性",即測量值與真正值的接近程度,,和"重復性",,即多次測量值的偏差程度。OLS4100 是業(yè)界*同時保證了"正確性"和"重復性"的激光掃描顯微鏡,。 |
![]() | OLS4100 從物鏡制造到成品全部在奧林巴斯工廠內(nèi)完成,,并按照一系列嚴格的標準進行全面的檢驗并確保產(chǎn)品的質(zhì)量后方才出廠 。交付產(chǎn)品時,,由選拔出來的技術(shù)人員,,在實際使用環(huán)境中執(zhí)行校正和zui后的調(diào)整。 |
高度測量 ![]() 可以測量輪廓截面上任意兩點之間的高低差異,。 | 表面粗糙度測量 ![]() 可以測量線粗糙度,,以及平面整體的面粗糙度。 |
面積/體積測量 ![]() 根據(jù)設置在輪廓截面上的任意閾值,,可以測量其上部或下部的體積,。 | 粒子測量 (選購件) ![]() 可以通過分離功能使粒子自動分離,設置閾值,,根據(jù)ROI 設置檢測范圍,。 |
幾何測量 ![]() 可以測量影像上任意兩點之間的距離。還可以測量任意區(qū)域的面積,。 | 膜厚測量 (選購件) ![]() 可以根據(jù)測出的對焦位置,,測量透明介質(zhì)的膜厚。 |
自動尋邊測量 (選購件) ![]() 可以自動尋邊,,測量線寬和圓,,減少人為的測量誤差,。 |
工作流程解決方案,實現(xiàn)了優(yōu)秀的圖像分析性能
對于粒子尺寸分析或非金屬夾雜物級別的測量,,可以使用OLYMPUS Stream 顯微圖像軟件,,該軟件可以從OLS4100 直接上傳。
想了解更多OLYMPUS Stream相關內(nèi)容 >
LEXT OLS4100 激光共焦顯微鏡參數(shù)
作為表面粗糙度測量的新標準,,奧林巴斯開發(fā)了LEXT OLS4100,。對LEXT OLS4100 進行了與接觸式表面粗糙度測量儀同樣的校正,并在LEXT OLS4100 上配置了幾乎所有必要的粗糙度參數(shù)和濾鏡,。這樣,,對于使用接觸式表面粗糙度測量儀的用戶來說,能得到操作性和互換性良好的輸出結(jié)果,。另外,,還搭載了粗糙度模式,可以用自動拼接功能測量樣品表面直線距離zui長為100 mm 的粗糙度,。 OLS4100 具有與接觸式表面粗糙度測量儀相同的表面輪廓參數(shù),,因此具有相互兼容的操作性和測量結(jié)果。
截面曲線 | Pp, Pv, Pz, Pc, Pt, Pa, Pq, Psk, Pku, Psm, PΔq, Pmr(c), Pδc, Pmr |
粗糙度曲線 | Rp, Rv, Rz, Rc, Rt, Ra, Rq, Rsk, Rku, Rsm, RΔq, Rmr(c),Rδc, Rmr, RZJIS, Ra75 |
波動曲線 | Wp, Wv, Wz, Wc, Wt, Wa, Wq, Wsk, Wku, Wsm, WΔq, Wmr(c), Wδc, Wmr |
負荷曲線 | Rk, Rpk, Rvk, Mr1, Mr2 |
基本圖形 | R, Rx, AR, W, , AW, Wte |
粗糙度 (JIS1994) | Ra(JIS1994), Ry, Rz(JIS1994), Sm, S, tp |
其他 | R3z, P3z, PeakCount |
適應下一代參數(shù)
OLS4100 激光共焦顯微鏡具有符合ISO25178 的粗糙度(3D)參數(shù),。通過評估平面區(qū)域,可以進行高可靠性的分析,。
振幅參數(shù) | Sq, Ssk, Sku, Sp, Sv, Sz, Sa |
功能參數(shù) | Smr(c), Sdc(mr), Sk, Spk, Svk, SMr1, SMr2, Sxp |
體積參數(shù) | Vv(p), Vvv, Vvc, Vm(p), Vmp, Vmc |
橫向參數(shù) | Sal, Str |
• LEXT OLS4100 與表面粗糙度測量儀的結(jié)果相兼容,。
微細粗糙度
使用接觸式表面粗糙度測量儀,無法測量比探針的針尖直徑更細微的表面輪廓,。而OLS4100 有著微小的激光光斑直徑,,所以能夠?qū)ξ⒓毿螤钸M行高分辨率的粗糙度測量。
非接觸式測量 使用接觸式表面粗糙度測量儀測量柔軟的樣品時,,樣品容易受到探針損傷而變形,。另外,帶有粘性的樣品會粘在探針上,,無法得到正確的測量結(jié)果,。而非接觸式的激光顯微鏡OLS4100,不會影響樣品的表面狀態(tài),,可以準確的測量樣品的表面粗糙度,。 | |
![]() 高分子薄膜3D 影像(上)和粗糙度測量結(jié)果(左) | ![]() |
柔軟的樣品
帶有粘性的樣品
微米級特征的測量
使用接觸式表面粗糙度測量儀,其探針無法進入微米級的區(qū)域,,所以不能對這些區(qū)域的特征進行測量,。而OLS4100 可以正確定位,能輕松測量出特定微小區(qū)域的粗糙度,。
![]() 焊線 | ![]() |
激光共焦顯微鏡三種類型的綜合影像
![]() 真彩3D 影像 | LEXT OLS4100 可以同時獲取三種不同類型的影像信息:真彩3D 影像,、激光全焦點3D 影像和高度信息影像,。 |
![]() 激光全焦點3D 影像 | ![]() 高度信息影像 |
再現(xiàn)自然色 OLS4100 采用了白色的LED 光源和高色彩保真度的CCD 照相裝置以生成清晰、色彩自然的影像,,所得影像可以與高級的激光共焦顯微鏡相媲美,。 | |
![]() 2D 彩色影像(紙張上的墨點、物鏡20x) | ![]() 3D 彩色影像(紙張上的墨點,、物鏡20x) |
微分干涉觀察是超越了激光共焦顯微鏡的分辨率,、可以觀察到納米以下微小表面輪廓的觀察方法。LEXT OLS4100 通過安裝在物鏡上方的DIC 分光棱鏡,,將照明光橫向分為兩束光線來照射樣品,。獲取由樣品直接反射回來的兩束光線的差,生成明暗對比,,從而實現(xiàn)對微小凹凸的立體觀察,。LEXTOLS4100 擁有DIC 激光模式,即使是低倍率的動態(tài)觀察,,也能得到接近電子顯微鏡分辨率的影像,。
![]() 無DIC 的激光影像(高分子薄膜) | ![]() 有DIC 的激光影像(高分子薄膜) | |
![]() 無DIC 的激光影像(5x 物鏡) 高度差標準 類型 B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany | ![]() 有DIC 的激光影像(5x 物鏡) 高度差標準 類型 B, PTB-5, Institut für Mikroelektronik, Germany, 實際高度:6 nm |
OLS4100 的高動態(tài)范圍(HDR)功能結(jié)合了多張以不同曝光率獲取的光學顯微鏡影像,并且分別控制著亮度,、對比度,、紋理和飽和度,因此HDR 可以以寬動態(tài)范圍處理影像,。OLS4100 尤其可以對紋理不明顯的樣品的彩色影像進行清晰地觀察,。
![]() 無HDR 的彩色影像 (致密的織物、物鏡20x,、變焦1x) | ![]() 有HDR 的彩色影像 (致密的織物,、物鏡20x、變焦1x) |
![]() 算法 |
![]() 復合減震機構(gòu) | 為了排除來自外部的影響,,穩(wěn)定測量和成像,,OLS4100 機座內(nèi)置了由螺旋彈簧和阻尼橡膠組成的"復合減震機構(gòu)"以穩(wěn)定操作環(huán)境。所以,,可以把OLS4100 放在普通的桌子進行測量作業(yè),,不需要的防震平臺。 |
使用LEXT OLS4100,,只需將樣品放置在載物臺上之后即可立即開始觀察/測量,。由于采用了簡易的三步流程——成像、測量和報表——即使用戶不熟悉激光共焦顯微鏡,,也可以快速掌握測量的流程,。
宏觀圖功能
OLS4100 激光共焦顯微鏡的宏觀圖功能可以以低倍率顯示大范圍影像,并在宏觀影像上顯示一個矩形觀察標記,。該視場可以通過拼圖設置為傳統(tǒng)視場的441 倍,。當配合電動六孔物鏡轉(zhuǎn)換器時,,宏觀圖功能可以對載物臺移動和倍率更改實現(xiàn)平滑、便捷的一鍵操作,???br />以精確預設齊焦和確定物鏡的中心,并可通過一鍵移動載物臺和調(diào)整倍率進行同步,。
快速的宏觀圖拼接
![]() | 掃描大面積區(qū)域時有兩種拼接方法可用:獲取實時影像時的手動模式和快速獲取影像時的自動模式,。操作非常快速簡單——2D 拼接只需一鍵操作即可開始,,并且可立即獲得大面積的拼接影像,。自動模式下有五級拼接尺寸可用,分別為:3×3,、5×5,、7×7、9×9 和21×21,。對于影像上不需要的部分,,可以使用簡單的鼠標或控制桿操作手動刪除。 |
自動3D 影像獲取
傳統(tǒng)的3D 掃描需要復雜的設置,,這對新手來說非常困難,。LEXT OLS4100 采用了全新的智能掃描模式,即使是初次使用的用戶也只需一鍵操作即可快速獲取3D 影像,。除了上下限的設置,,系統(tǒng)也會根據(jù)要獲取的影像自動設置合適的亮度。這讓即使是初次使用的用戶也能獲得精確的高度測量和優(yōu)質(zhì)的影像,。
激光共焦顯微鏡 3D 成像
自動亮度控制 | |
![]() | |
平面上的亮度控制 | 一定高度范圍內(nèi)的亮度控制,。 |
大大縮短了獲取時間
更快的掃描速度
新的超快模式獲取掃描影像的速度是傳統(tǒng)快速模式的2 倍,,約是精細模式的9 倍,。因此,對于那些需要非常精細的Z 軸移動和*的放大倍率的樣品,,該模式就非常地適用,,例如對刀具的*進行檢測。
相同時間內(nèi)獲取的影像數(shù)量:
實際的掃描時間根據(jù)所用倍率和Z 獲取范圍而有所不同,。
只在所需區(qū)域進行高速獲取
OLS4100 還配備了帶寬掃描模式,,用于測量有限的目標區(qū)域,測量性能比傳統(tǒng)模式快1/8,。
![]() 全局掃描獲取 | ![]() 帶寬掃描獲?。?/8) |
從大范圍拼接影像中目標區(qū)域
在宏觀圖中,要觀察的區(qū)域可以從大范圍的視圖中進行,。在自動模式中,,通過設置zui多625 幅影像的矩形拼接尺寸,,可以自動生成區(qū)域圖,所需的時間大約只需要通常的一半,。下一步,,在區(qū)域圖上所需的影像并立即開始觀察。
![]() 拼接區(qū)域:方形(21×3)63 片 | ![]() 拼接區(qū)域:圓形(3 點) |
手動所需的影像區(qū)域
在實時模式中,,通過在屏幕上跟蹤所需的區(qū)域,,可以手動選擇要觀察的區(qū)域。當觀察的樣品具有不規(guī)則的形狀時,,該功能非常實用,。
快速影像拼接
要使用智能掃描模式獲取影像時,只需一鍵操作即可,。由于智能掃描會自動調(diào)整Z 軸方向的設置,,Z 軸方向的影像獲取可以僅局限在所需的區(qū)域,因此可以在進行大范圍大功率觀察時節(jié)省很多時間,。
![]() 智能掃描模式 | ![]() 傳統(tǒng)獲取模式 |
OLS4100 激光共焦顯微鏡在測量后可使用一鍵操作創(chuàng)建報表,,而且使用編輯功能可以定制各個報表模板。將測量結(jié)果復制和粘貼到Word 或表格應用程序也非常簡單,,就像從數(shù)據(jù)庫取回所需的影像和報表一樣,。
為用戶設計的詳細的向?qū)Чδ苋∠巳唛L的培訓,讓新手也能快速簡單地進行操作,。