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儀景通光學(xué)科技(上海)有限公司
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首頁 >> 技術(shù)文章 >> 設(shè)計旨在提升半導(dǎo)體檢測通量的物鏡透鏡
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克服半導(dǎo)體晶圓檢測的通量限制
用于高通量檢測的MXPLFLN物鏡系列簡介
左圖:LMPLFLN100X(0.8 NA,,3.4 mm WD)
右圖:MXPLFLN50X(0.8 NA,,3 mm WD)
比較視場。MXPLFLN50X物鏡(右側(cè),,50倍放大倍率)比LMPLFLN100X物鏡(左側(cè),,100倍放大倍率)具有更寬的視場,因此可實現(xiàn)更快的圖像拼接。
MXPLFLN物鏡系列背后的先進制造技術(shù)
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