在購買手持式XRF分析儀時,,確定需要硅漂移探測器(SDD)還是PIN探測器是您需要做出的首要選擇之一,。
奧林巴斯Vanta Element XRF系列中的兩款分析儀就配備了兩種不同的探測器:Vanta Element分析儀裝配有PIN探測器,,而Vanta Element-S分析儀裝配有SDD探測器。
SDD對比PIN:它們之間有什么差別,?
硅漂移檢測器(SDD)是一種較新的技術(shù),,其每秒鐘的X射線計數(shù)率比PIN探測器大約多10倍。SDD探測器的分辨率也比PIN探測器大約低40 eV,。不過,,伴隨著SDD性能的提高是成本的增加。
在確定哪種探測器更適合您的時候,,您需要考慮打算如何使用XRF分析儀,。在此要問您兩個重要的問題:
1、您是否需要測量一些輕元素,,如:鎂(Mg),、鋁(Al)、硅(Si),、磷(P),、硫(S)、氯(Cl),、鉀(K)或鈣(Ca)?
這些較輕元素的定量性檢測只能由裝配有SDD探測器的分析儀完成。許多人因此錯誤地認(rèn)為不能使用裝配了PIN探測器的分析儀對鋁合金進(jìn)行分揀,。但是,,配備了PIN探測器的分析儀可以基于較重元素(如:銅、鉻或鐵)的含量對許多鋁合金的牌號進(jìn)行分揀,。當(dāng)然要進(jìn)行更細(xì)微的區(qū)分,,如:鎂含量不同的6061鋁和6063鋁,需要使用配備了SDD探測器的分析儀,。
2,、您是否需要較低的檢出限?
SDD探測器的檢出限(LOD)通常比PIN探測器低約3倍,。SDD探測器也比PIN探測器的計數(shù)率高,,因此具有更高的精密度和靈敏度。
我們希望上面的問題已經(jīng)幫助您確定了使用哪種探測器,,這意味著您向購買一款合適分析儀的目標(biāo)又邁近了一步。
如果您需要SDD探測器,,那么您可能需要詳細(xì)了解我們的Vanta Element-S手持式XRF分析儀,,這款價格實惠的分析儀可以探測輕元素,并對合金進(jìn)行辨別,。
這款分析儀可以在幾秒鐘之內(nèi)快速,、準(zhǔn)確地辨別鎂(Mg),、鋁(Al)和硅(Si)元素。分析儀的SDD探測器還可以區(qū)分相似的牌號,,如:303和304不銹鋼,,6061和1100鋁,以及6063和1100鋁,。這款分析儀可以有效地測量黑色金屬,、鋁、銅,、不銹鋼,、鎳和金的含量,是完成廢料回收,、基本PMI(材料成分辨別),、金屬制造和貴金屬識別等應(yīng)用的理想工具。
Vanta Element-S分析儀
如果您需要PIN探測器,,那么請您仔細(xì)了解一下我們的初級Vanta Element分析儀,,這款價格實惠的分析儀可以對合金進(jìn)行辨別。
無論您選擇哪款分析儀,,您都可以放心使用,,因為兩款分析儀都具有使Vanta系列分析儀聲名遠(yuǎn)揚的基本特性:檢測迅速,結(jié)果可靠,,堅固耐用,,連通性好,而且其操作便捷性堪比智能手機(jī),。
兩款分析儀都具有以下優(yōu)勢特性:
符合IP54評級標(biāo)準(zhǔn),,具有防塵、防潮的特性,。
通過了墜落測試(MIL-STD-810G),,可避免分析儀在墜落時受到損壞,從而減少了對分析儀進(jìn)行高成本維修的需求,。
Axon技術(shù)有助于迅速可靠地完成檢測,。
借助奧林巴斯科學(xué)云系統(tǒng) ,可以實現(xiàn)云連接和現(xiàn)代化的數(shù)據(jù)共享,。
如果您還是不太確定SDD和PIN探測器之間的差別,,或者對XRF技術(shù)還有其他疑問,請不要遲疑,,向我們尋求幫助,!
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