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產(chǎn)品簡介
詳細介紹
OXFORD-243E手持式涂鍍層測厚儀優(yōu)勢：
1,、采用基于相位的電渦流技術(shù)，集測量精確,、價格合理,、質(zhì)量可靠的優(yōu)勢于一體的手持式測厚儀。
2,、專為金屬表面處理者設(shè)計,。配置的單探頭可測量，鐵質(zhì)底上所有金屬鍍層-即使在極小的,、形狀特殊的或表面粗糙的樣品上都可以進行測量,。
3、易于用戶控制,，并且可以同X線熒光測儀的準確性和精密性媲美,。
4、為了讓客戶能以低成本購買OXFORD-243E免去了對多探頭、操作培訓和持續(xù)保養(yǎng)的需要
OXFORD-243E手持式涂鍍層測厚儀技術(shù)參數(shù)
技術(shù)參數(shù)及功能：
準確度：相對標準片±3%
精確度：0.3%
分辨率：0.1μm
電渦流：遵循DIN50984, BS5411 Part 3, ISO 2360, ISO 21968草案, ASTM B499,及ASTM E376
存儲量：26,500 條存儲讀數(shù)
尺寸：14.9 x 7.94 x 3.02 cm
重量：0.26 kg 包括電池
單位：英制和公制的自動轉(zhuǎn)換
接口：RS-232串行接口,，波特率可調(diào),，用于下載至打印機或計算機
顯示屏：三位數(shù)LCD液晶顯示
電池：9伏堿性電池，65小時連續(xù)使用
*的ECP-M探頭
ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設(shè)計,，此單探頭可以測量
鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層,，例如鋅、鎳,、銅,、鉻和鎘。更小的探
針為極小的,、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量,。
測量范圍：
鐵上鍍層 鍍層厚度范圍 探頭
Zn 0–38μm ECP-M
Cd 0–38μm ECP-M
Cr 0–38μm ECP-M
Cu 0–10μm ECP-M
ECP-M探頭規(guī)格(mm)
***小凸面半徑 1.143
***小凹面半徑 1.524
測量高度 101.6
***小測量直徑 2.286
底材***小 304.8
OXFORD-243E涂層測厚儀標準配置
OXFORD-243E
標準配置
OXFORD-243E涂層測厚儀主機；
ECP-M探頭及拆除指南,；
Rs232串行電纜,；
校準用鐵上鍍鋅標準片組。
OXFORD-243E涂層測厚儀可選配
OXFORD-243E
OXFORD-243E功能與特點
測量技術(shù)：
一般的測試方法,，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式,，由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應，和由于測試件形狀和結(jié)構(gòu)導致的干擾,，都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應用到OXFORD-243E,使其達到了±3%以內(nèi)（對比標準片）的準確度和0.3% 以內(nèi)的精確度,。
牛津儀器對電渦流技術(shù)的*應用,，將底材效應***小化，使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響,。
另外,，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進行校準。
可選配
可單獨選配SMTP-1(磁感應探頭),。
OXFORD-243E涂層測厚儀其它說明-細節(jié)圖展示-牛津涂層標準樣樣塊-探頭
牛津儀器公司提供可靠的高一般的測試方法,，例如一般測厚儀制造商所采用的普通磁感應和渦流方式，由于探頭的" 升離效應" 導致的底材效應,，和由于測試件形狀和結(jié)構(gòu)導致的干擾,，都無法達到對金屬性鍍層厚度的精確測量。
牛津儀器將的基于相位的電渦流技術(shù)應用到OXFORD-243E,使其達到了±3%以內(nèi)（對比標準片）的準確度和0.3% 以內(nèi)的精確度,。牛津儀器對電渦流技術(shù)的*應用,，將底材效應***小化，使得測量精準且不受零件的幾何形狀影響,。另外,，儀器一般不需要在鐵質(zhì)底材上進行校準。
ECP-M探頭專為較難測量的金屬覆層設(shè)計，此單探頭可以測量鐵質(zhì)底材上幾乎所有金屬覆層,，例如鋅,、鎳、銅,、鉻和鎘,。更小的探針為極小的、形狀特殊的或表面粗糙的零件提供了便捷的測量,。
涂層測厚儀· 產(chǎn)品list
- 涂層測厚儀TT210,；
- 涂層測厚儀TT220；
- 涂層測厚儀TT220G,；
- 涂層測厚儀TT230,；
- 涂層測厚儀TT230G；
- 涂層測厚儀TT240,；
- 涂層測厚儀TT260,；
- 涂層測厚儀TT270。
涂層測厚儀· 探頭參數(shù)表
| 探頭 | F400 | F1 | F1/90 | F10 | N1 | CN02 | |
| 工作原理 | 磁感應 | 電渦流 | |||||
| 測量范圍（um） | 0-400 | 0-1250 | 0-10000 | 0-1250(銅上鍍鉻0-40um) | 10-200 | ||
| 低限分辨力(um) | 0.1 | 0.1 | 10 | 0.1 | 1 | ||
| 示值誤差 | 一點校準(um) | ±[3%H+1] | ±[3%H+10] | ±[3%H+1.5] | ±[3%H+1] | ||
| 兩點校準(um) | ±[(1～3)%H+0.7] | ±[(1～3)%H+1] | ±[(1～3)%H+10] | ±[(1～3)%H+1.5] | - | ||
| 測量條件 | ***小曲率半徑(mm) | 凸 1 | 凸1.5 | 平直 | 10 | 3 | 平直 |
| 基體***小面積的直徑(mm) | ф3 | ф7 | ф7 | ф40 | ф5 | ф7 | |
| ***小臨界厚度(mm) | 0.2 | 0.5 | 0.5 | 2 | 0.3 | 無限制 | |
涂層測厚儀· 探頭選擇參考表
| 基體與覆蓋層 | 有機材料等非磁性覆蓋層 (如:漆料,、涂漆,、琺瑯、搪瓷,、塑料和陽極化處理等) | 非磁性的有色金屬覆蓋層 (如:鉻,、鋅,、鋁,、銅、錫,、銀等) | |||
| 覆蓋層厚度 不超過100µm | 覆蓋層厚度 超過100µm | 覆蓋層厚度 不超過100µm | 覆蓋層厚度 超過100µm | ||
| 磁性金屬 如 鐵,、鋼 等 | 被測面積的直徑 大于30mm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | F1 型測頭 0～1250µm F10 型測頭 0～10mm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | F1 型測頭 0～1250µm F10 型測頭 0～10mm |
| 被測面積的直徑 小于30mm | F400 型測頭 0～400µm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | F400 型測頭 0～400µm | F400 型測頭 0～400µm F1 型測頭 0～1250µm | |
| 有色金屬 如銅 ,、鋁 、黃銅 ,、鋅 ,、錫 等 | 被測面積的直徑 大于5mm | N1 型測頭 0～1250µm | 僅用于銅上鍍鉻N1 型測頭 0～40µm | ||
| 非金屬基體 塑料、印刷線路 | 被測面積的直徑 大于7mm | - | - | CN02 型測頭10～200µm | |
F型（磁感應）：
測量鋼,、鐵等鐵磁性金屬基體上的非磁性涂鍍層的厚度,，如：油漆、粉末,、各種防腐涂層,、塑料、橡膠,、合成材料,、磷化層、鉻、鋅,、鉛,、錫、鎘等,；
N型（電渦流）：
測量銅,、鋁、不銹鋼等非鐵磁性基體上的所有非導電層的厚度,，如：油漆,、粉末、各種防腐涂層,、塑料,、橡膠、合成材料,、磷化層,、氧化層等；
F/NF型：
它是以上F型和N型的組合,。