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TDTF-3000 Analyzer 型擴(kuò)展型鐵電分析儀 

關(guān)鍵詞：鐵電，電滯回線,，脈沖,，疲勞

TDT-3000 Analyzer型擴(kuò)展型鐵電分析儀 是一款的高速型模塊化鐵電壓電分析儀，具備鐵電,、壓電,、熱釋電材料所有基本特性測(cè)試功能，可與激光干涉儀和SPM掃描探針顯微鏡等微位移傳感器聯(lián)用,，可廣泛地應(yīng)用于如各種鐵電/壓電/熱釋電薄膜,、厚膜、體材料和電子陶瓷,、鐵電傳感器/執(zhí)行器/存儲(chǔ)器等領(lǐng)域的研究,。
模塊化設(shè)計(jì)的TDT-3000型鐵電分析儀 具有優(yōu)異的擴(kuò)展性，提供高達(dá)15中測(cè)試功能

TDTF-3000 Analyzer主要模塊標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試功能：
1,、Dynamic Hysteresis 動(dòng)態(tài)電滯回線測(cè)試頻率（增強(qiáng)型FE模塊250kHz,，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz）； 
2,、Static Hysterestic 靜態(tài)電滯回線測(cè)試,； 
3、PUND 脈沖測(cè)試,；
4,、Fatigue 疲勞測(cè)試；
5,、Retention 保持力,；
6、Imprint 印跡,；
7,、Leakage current漏電流測(cè)試；
8,、Thermo Measurement 變溫測(cè)試功能,。

9、TSDC熱釋電測(cè)試功能

10,、ECM電卡功能

11,、RT電阻測(cè)量

12、POM油浴極化

• FE模塊-鐵電標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試,；

• MR模塊-磁阻和鐵性材料測(cè)試,；

• RX模塊-弛豫電流測(cè)試；

• DR模塊-自放電測(cè)試,。

測(cè)試基本單元：包括內(nèi)置完整的專用計(jì)算機(jī)主機(jī)和測(cè)試版路,、運(yùn)算放大器、數(shù)據(jù)處理單元等,，Windows 10操作系統(tǒng),、鐵電分析儀專用測(cè)試軟件等。

升級(jí)擴(kuò)展FE模塊可選測(cè)試功能：
C-V curve電容-電壓曲線,； 
Piezo Measurement壓電性能測(cè)試,； 
Pyroelectric Measurement熱釋電性能測(cè)試； 
In-situ Compensation 原位補(bǔ)償；
DLCC 動(dòng)態(tài)漏電流補(bǔ)償功能,；
Impedance Measurement 阻抗測(cè)試 (僅適用于高速增強(qiáng)型),。

主要技術(shù)技術(shù)說明：
電壓范圍： +/- 25 V（可選的附加高壓放大器可擴(kuò)展至+/- 10KV，20KV）,； 

電荷測(cè)量解析度范圍: 0.80pC~5.26mC,；

電荷分辨率：1u

材料測(cè)量面積解析度范圍0.080μm² ~50cm²；

在使用外部高壓電源時(shí),，測(cè)量電荷的最大解析度為526mC,。
電滯頻率：增強(qiáng)型FE模塊250kHz，高速增強(qiáng)型FE模塊1MHz,；
最小脈沖寬度：50ns,；
最小上升時(shí)間：10ns；
最大疲勞頻率：16MHz,；
電流放大范圍：1pA～1A,；
最大負(fù)荷電容：1nF；
輸出電流峰值：+/-1 A,。
輸入阻抗：等效阻抗

小信號(hào)頻率：500KHZ

大信號(hào)頻率：1MHZ

信號(hào)轉(zhuǎn)換效率：28位(高精度采集)


MR模塊是用來研究磁阻和鐵性材料的,。
此模塊提供連續(xù)電流激勵(lì)和測(cè)試，樣品上的電壓降通過高精度四點(diǎn)測(cè)試,。

RX模塊是用來研究介電體和鐵電材料的極化和去極化電流的,，即施加電壓階躍后的電流響應(yīng)。
該測(cè)試能將材料的馳豫電流和漏電流分開,，并可記錄極化響應(yīng)電流和去極化響應(yīng)電流,。

DR模塊用于研究電介質(zhì)材料的自漏電性。
由于測(cè)試條件非常接近實(shí)際情況,，因此通過這種方式可容易地測(cè)試應(yīng)用于DRAM材料的合適性,。

針對(duì)工業(yè)方面的應(yīng)用，TDTF-3000 Analyzer提供了256個(gè)自動(dòng)測(cè)試的通道,，大大擴(kuò)展了該儀器的測(cè)試功能,。

以上所有的模塊可根據(jù)您的測(cè)試需求以及科研方向進(jìn)行獨(dú)立選擇或者任意組合。

優(yōu)勢(shì)：

1,、高集成電路模塊,，采集電壓電流各項(xiàng)指標(biāo)，運(yùn)行速度快,，采集率高提供了高集成電路陶瓷基板技術(shù)（HCT）,，為NASA提供了解決方案。在可承受平流層的特殊環(huán)境而且耐用的氧化鋁基板上,，我們運(yùn)用氮化鉭實(shí)現(xiàn)了20μm寬度的高精密電路

2,、全面的測(cè)試功能

3,、

DH動(dòng)態(tài)電滯回線功能，SH靜態(tài)電滯回線功能,，PUND 脈沖測(cè)試,，Retention 保持力，Leakage current漏電流測(cè)試

4,、 全過程質(zhì)量管理與測(cè)試

原材料和外購件的質(zhì)量控制-嚴(yán)肅工藝紀(jì)律-驗(yàn)證工序能力-工序檢驗(yàn)-驗(yàn)證狀態(tài)的控制-儀器合格

優(yōu)勢(shì)五,、完善的售后服務(wù)體系

產(chǎn)品保修5年,，終身維護(hù),，24小時(shí)接聽技術(shù)問答，前期的技術(shù)溝通和免費(fèi)的來樣驗(yàn)證測(cè)試,，讓您的測(cè)試放心,。

可擴(kuò)展部件：
高壓放大器、激光干涉儀,、AFM,、溫度控制器、薄膜探針冷熱臺(tái),、變溫塊體樣品盒,、塊體變溫爐、薄膜e31測(cè)試平臺(tái),、超導(dǎo)磁體,、PPMS、阻抗分析儀等,。