GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)主要介紹

GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)是我院研制的即可低溫測(cè)試D33系數(shù),，又可以高溫測(cè)試D33系數(shù)。主要是針對(duì)高低溫壓電陶瓷材料和薄膜材料的測(cè)試,。

二,、主要應(yīng)用領(lǐng)域：無(wú)損檢測(cè)超聲檢測(cè)，醫(yī)療超聲檢測(cè),，航空航天,，石油天然器，汽車物聯(lián)網(wǎng),，,，工業(yè)

GDPT-900A型變溫壓電d33測(cè)量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

1、d33測(cè)量范圍：1PC/N-6000PC/N(1.5PC-30000PC)

2,、力顯示：0.01-4N

3,、電源：電壓220V

4、溫度范圍：溫度-100℃至+500℃

5,、溫控精度：溫度顯示精度0.01℃,，溫度控制精度±0.1℃，溫度漂移優(yōu)于±0.1℃內(nèi),，超調(diào)≤0.1℃,。

6,、升溫斜率：0.00至5.00℃/min，典型值2.00℃/min,。

7,、間隔保溫：0.10至50.00℃/點(diǎn)，保溫5分鐘即可達(dá)到溫度穩(wěn)定狀態(tài),。  

8,、樣品夾具：夾持雙面電極樣品，直徑小于30mm,，厚度小于5mm,。

9、測(cè)量環(huán)境：低溫,、高溫,、空氣等。

10,、電極材料：耐高溫電極,。

11、制冷方式：液氮控制系統(tǒng)

12,、顯示：液晶顯示

13、采集方式：USB2.0高速數(shù)據(jù)

14,、總重量: 15kg左右,。

15、軟件：專用軟件自動(dòng)測(cè)試溫度與壓電系數(shù)的關(guān)系變化

GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)

GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)是一套建立在高溫高壓下的鐵電測(cè)量系統(tǒng),，旨在針對(duì)一些特殊的要求材料需要在高溫下測(cè)量而研發(fā)的一套鐵電測(cè)量系統(tǒng),。該系統(tǒng)不僅僅在溫度上將實(shí)現(xiàn)了高溫測(cè)試，而且在電壓和頻率上進(jìn)行了提高,，對(duì)我們的鐵電材料研究和測(cè)試帶來(lái)更加重要的幫助,，該系統(tǒng)可以測(cè)量鐵電材料的電滯回線，飽和極化Ps,、剩余極化Pr,、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流,、疲勞、保持、I-V和開關(guān)特性等性能的測(cè)試,。

GWTF-300高溫鐵電材料測(cè)量系統(tǒng)技術(shù)指標(biāo)

1.輸出信號(hào)電壓：：0-4000/5000/6000/10000多種可定制

2.輸出信號(hào)頻率：0.2到100Hz（陶瓷,、單晶），1到1kHz(薄膜）

3.電容范圍：電流0到±6mA（陶瓷,、單晶）,，±50mA(薄膜）連續(xù)可調(diào),精度: ≤1%,。

4.電流范圍: 1nA～10A ,精度: ≤1%。

5,、溫度測(cè)量范圍:0-200℃

6. 匹配高溫電致應(yīng)變測(cè)試模塊,、夾具及自動(dòng)采集軟件。

7.測(cè)試速度：測(cè)量時(shí)間《5秒/樣品•溫度點(diǎn)

8. 樣品規(guī)格：塊體材料尺寸：直徑2-100mm,，厚度0.1-10mm,，薄膜：直徑：1-60mm

9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件： 能畫出鐵電薄膜的電滯回線，定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps,、剩余極化Pr,、矯頑場(chǎng)Ec、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能,、鐵電保持性能的測(cè)試,，電阻測(cè)量，漏電流測(cè)量,。

10,、控制方式：計(jì)算機(jī)實(shí)時(shí)控制、實(shí)時(shí)顯示,、實(shí)時(shí)數(shù)據(jù)計(jì)算,、分析與存儲(chǔ)

11、軟件采集：自動(dòng)采集軟件,，分析可以兼容其他相關(guān)主流軟件,。

GWJDN-1000型寬頻高溫介電測(cè)量系統(tǒng)主要技術(shù)參數(shù)

         GWJDN-1000型寬頻高溫介電測(cè)量系統(tǒng)

關(guān)鍵詞：高溫介電，,，-190℃-1000℃

GWJDN-1000型高溫介電測(cè)量系統(tǒng)（2019款）高溫介電測(cè)量系統(tǒng)應(yīng)用于高溫環(huán)境下材料,、器件的導(dǎo)電、介電特性測(cè)量與分析,，通過配置不同的測(cè)試設(shè)備,，完成不同參數(shù)的測(cè)試。是高溫介電測(cè)試系統(tǒng)測(cè)試裝置,，是國(guó)家科研院所和高等學(xué)府的重要材料測(cè)試設(shè)備,。

一、主要用途：

1,、測(cè)量以下參數(shù)隨溫度（T）,、頻率（f）、電平（V）,、偏壓（Vi）的變化規(guī)律：

2,、測(cè)量電容（C）、電感（L）,、電阻（R）,、電抗（X）,、阻抗（Z）、相位角（￠）,、電導(dǎo)（G）,、電納（B）、導(dǎo)納（Y）,、損耗因子（D）,、品質(zhì)因素（Q）等參數(shù)，

3,、同時(shí)計(jì)算獲得反應(yīng)材料導(dǎo)電,、介電性能的復(fù)介電常數(shù)（εr）和介質(zhì)損耗（D）參數(shù)。

4,、可測(cè)試低溫環(huán)境下材料,、器件的介電性能

5、可以根據(jù)用戶需求,，定制開發(fā)居里溫度點(diǎn)Tc,、機(jī)電耦合系數(shù)Kp、機(jī)械品質(zhì)因素Qm及磁導(dǎo)率μ等參數(shù)的測(cè)量與分析,。系統(tǒng)集低溫環(huán)境,、溫度控制、樣品安裝于一體,；具有體積小,、操作簡(jiǎn)單控溫精度高等特點(diǎn)。

二,、主要技術(shù)參數(shù)：

主要技術(shù)參數(shù)：

1、溫度范圍： 室溫-1000℃

2,、測(cè)溫精度：   0.1℃

3．升溫速度：   1—20℃/min

4,、控溫模式： 程序控制，提供常溫,、變溫,、恒溫、升溫,、降溫等多種組合方式

5,、通訊接口：   RS-485

8、電極材質(zhì)： 鉑銥合金

9,、上電極： 直徑1.6mm球頭電極,，引線帶同軸屏蔽層

10、下電極：直徑26.8mm平面電極,，引線帶同軸屏蔽層

11,、保護(hù)電極：  帶保護(hù)電極,，消除寄生電容、邊界電容對(duì)測(cè)試的影響

12,、電極干擾屏蔽:電極引線帶同軸屏蔽,，樣品平臺(tái)帶屏蔽罩

13、夾具升降控制： 帶程序和手動(dòng)控制,，可更換夾具的電動(dòng)升降裝置

14,、熱電偶 ：熱電偶探頭與樣品平臺(tái)為同一熱沉，測(cè)控溫度與樣品溫度保持一致

15,、無(wú)電極樣品尺寸：直徑小于40mm,，厚度小于8mm

16、帶電極樣品尺寸： 直徑小于26mm,，厚度小于8mm

17,、軟件功能：自動(dòng)分析數(shù)據(jù)，可以分類保存,，樣品和測(cè)量方案結(jié)合在一起,，生成系統(tǒng)所需的實(shí)驗(yàn)方案，輸出TXT,、XLS,、BMP等格式文件

18、測(cè)量方案：    提供靈活,、豐富的測(cè)試設(shè)置功能,，包括頻率譜、阻抗譜,、介電譜及其組合

19,、標(biāo)準(zhǔn)極化樣品：8片（10mm*1.5mm）

20、配套設(shè)備裝置：能夠配合ZJ-3和ZJ-6壓電測(cè)試儀進(jìn)行測(cè)量

21,、配套設(shè)備裝置：可以配置10MM,，20MM，30MM,，40MM壓片夾具

23,、測(cè)試頻率：20HZ-10MHZ

24、測(cè)試電平:100mV—2V

25,、分辨率：1MHZ

26,、輸出阻抗:  100Ω

27、測(cè)試參數(shù)：Cp/Cs,、Lp/Ls,、Rp/Rs、|Z|,、|Y|,、R,、X、G,、B,、θ、D,、Q,、Vac、Iac,、Rdc,、Vdc、Idc

28,、基本準(zhǔn)確度:   0.05%

29,、顯示:液晶顯示

30、參數(shù)測(cè)量：多功能圖形和參數(shù)測(cè)量

31,、接口方式:   RS232C或HANDLER

HTIM-600C型材料高溫電阻率測(cè)試儀主要技術(shù)參數(shù)

HTIM-600C型材料高溫電阻率測(cè)試儀

關(guān)鍵詞：電阻率,，體電阻，表面電阻,，CNAS

HTIM-600高溫電阻率測(cè)試儀是一款針對(duì)于材料的測(cè)量設(shè)備,，可以出具CNAS整體認(rèn)證的專業(yè)材料高溫測(cè)量設(shè)備，該儀器采用使用方法多樣化,，2000V,，6.4ms的采集系統(tǒng)，實(shí)現(xiàn)了是以往產(chǎn)品300倍的抗干擾功能6.4ms的高速測(cè)量,，作為皮安表使用進(jìn)行低電容檢查,，2×10^19 Ω顯示，0.1fA分辨率標(biāo)配EXT I/O, RS-232C, GP-IB, USB,，自行設(shè)計(jì)的懸浮式電路,，能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量,。可實(shí)現(xiàn)絕緣材料在高溫下電阻和電阻率試驗(yàn)方法標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)開發(fā),，可以直接測(cè)量高溫,、真空、氣氛條件下樣品的電阻和體電阻率,、漏電流等隨溫度,、時(shí)間變化的曲線，高溫絕緣材料電阻率測(cè)試儀系統(tǒng)已經(jīng)在航天航空傳感器領(lǐng)域得到很好的應(yīng)用,。

一,、主要用途：適用于新材料評(píng)估的特性:

1,、用于陶瓷元件的絶縁劣化試驗(yàn)

2、貼片電容的IR測(cè)量

3,、MLCC（多層陶瓷電容器）的絕緣測(cè)量

4,、光伏電池薄膜的絕緣測(cè)量

5、噪音濾波器的絕緣（高阻）測(cè)量

6,、液晶設(shè)備的絕緣測(cè)量

7,、涂層（涂料）的表面電阻率測(cè)量

8、外殼的帶電度的測(cè)量

9,、二極管的微笑泄漏電流測(cè)量

10,、光電耦合器的初級(jí)/次級(jí)絕緣（高電阻）測(cè)量

11、打印機(jī)墨粉輥軸的絕緣測(cè)量

12,、用于針對(duì)半導(dǎo)體廠家的絕緣密封件的評(píng)估試驗(yàn)

13,、用于組裝在貼片機(jī)、分選機(jī),、自動(dòng)化設(shè)備中

一,、產(chǎn)品特點(diǎn)：

1、多種使用方法的超絕緣計(jì),提供CNAS計(jì)量合格證書

2,、能夠作為IR表,、靜電計(jì)等高電阻計(jì)，以及作為皮安表這種微小電流計(jì)來(lái)使用,，使用方法非常豐富的測(cè)量?jī)x器,。

2、能不受測(cè)量環(huán)境影響進(jìn)行穩(wěn)定測(cè)量,，并且運(yùn)用在產(chǎn)線中實(shí)現(xiàn)高速測(cè)量2000V輸出

3,、偏差1/60，抗噪音性能300倍, 通過全新的SM懸浮式電路和三軸連接器的組合,，大幅提高抗噪音性能,。

4、輸出電壓從0.1V到1000V,，能夠以0.1V為單位任意設(shè)置

5,、6.4ms的高速檢查, 高速檢查和50mA的預(yù)充電功能的組合可以實(shí)現(xiàn)高產(chǎn)量的MLCC檢查。

5,、高溫爐膛,，耐高溫、抗氧化的測(cè)試夾具,提供CNAS計(jì)量合格證書

二,、主要技術(shù)參數(shù)：

1,、體積電阻率和表面電阻率測(cè)試范圍10的4次方Ω.cm~10的15次方Ω.cm；

2、測(cè)試電壓：10V,、50V,、100V、250V,、500V,、1000V

3、電極材質(zhì)：600℃不氧化,，三電極尺寸為25mm（被保護(hù)電極直徑）,、38mm（保護(hù)電極內(nèi)徑）、50mm（保護(hù)電極外徑）,，樣品厚度在3mm以內(nèi),；

3、測(cè)量精度：①電阻≤1010Ω時(shí),，精度±5％,；電阻>1010Ω時(shí)，精度±10%,；②電壓＜100V時(shí),，精度±5%，電壓≥100V時(shí),，精度±2％,；

2、溫度范圍;室溫~600℃,；

3,、控溫精度：溫度≤300℃，精度±1℃,，溫度＞300℃,，精度±2℃；控溫設(shè)備需有測(cè)溫口,；（能夠通過計(jì)量CNAS認(rèn)證）

4,、測(cè)試軟件：①可設(shè)置連續(xù)升溫測(cè)試，得到不同溫度下體積電阻率,、表面電阻率具體值,，直接得到體積電阻率-溫度曲線、表面電阻率-溫度曲線,；

5,、溫度精度：可設(shè)置在某一具體溫度點(diǎn)測(cè)試，得到體積電阻率,、表面電阻率在不同時(shí)間點(diǎn)的具體值，直接得到體積電阻率-時(shí)間曲線、表面電阻率-時(shí)間曲線,；

5,、電腦要求：windows10 系統(tǒng)，內(nèi)存16G以上,，CPU四核,；

6、升溫速率0℃/min~ 10℃/min（不做計(jì)量要求）,；

7,、能通氮?dú)猓瑴y(cè)試時(shí)在高溫和氮?dú)猸h(huán)境下測(cè)試,；

9,、符合GB/T31838、GB/T10581,、GB/T1410標(biāo)準(zhǔn),；

10、排氣口有過濾裝置,；

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀技術(shù)參數(shù)

HTRT-1000型導(dǎo)電材料高溫電阻率測(cè)試儀

關(guān)鍵詞：電阻率,，導(dǎo)電，合金高溫

電阻率表征技術(shù)是典型的金屬,、合金相變行為研究手段,，比如在先進(jìn)鋼中的碳運(yùn)動(dòng)行為分析、或是合金析出動(dòng)力學(xué)研究,、以及形狀記憶合金的預(yù)相變行為表征的方面,。電阻率對(duì)這些相變行為則非常敏感，應(yīng)用電阻率手段研究合金析出動(dòng)力學(xué)行為也是非常重要的手段,，是一種可以對(duì)合金時(shí)效析出過程全時(shí)段實(shí)現(xiàn)監(jiān)控的手段,。同時(shí)，通過電阻率的演化規(guī)律,，可以清晰的判斷GP區(qū),、析出孕育時(shí)間、析出結(jié)束（析出量大）和熟化過程等不同的階段,。對(duì)于所有析出強(qiáng)化合金,，電阻率數(shù)據(jù)都可以提供重要的工藝指導(dǎo)。此外,，預(yù)相變過程中出現(xiàn)納米疇并導(dǎo)致模量軟化和弛豫內(nèi)耗行為,，特別是在相變初期，用電鏡觀察很難實(shí)現(xiàn),，而納米疇的出現(xiàn)卻表現(xiàn)為電阻率的升高,，因此通過電阻率演化可以清晰的表征納米疇出現(xiàn)的溫度和疇面積的演化過程。

HTRT-1000本系統(tǒng)主要由高精度高穩(wěn)定度的小電流源、高精度AD采樣芯片以及嵌入式芯片,，上位機(jī)智能管理分析軟件,、真空多段溫控加熱設(shè)備組成的金屬電阻率智能存儲(chǔ)分析儀器。測(cè)試金屬樣品根據(jù)測(cè)試工藝要求任意設(shè)定加熱,、降溫曲線,，通過過程中電阻率的精密測(cè)量，完成對(duì)金屬內(nèi)部結(jié)構(gòu)變化如相變,、碳化物,、固溶度等特性的分析。

一,、用途：

1,、棒材、管材,、異型材金屬導(dǎo)電性能測(cè)量

2,、金屬材料研究

3、碳系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

4,、金屬氧化物系導(dǎo)電材料的電阻率和電導(dǎo)率測(cè)量

5,、石墨烯金屬材料的導(dǎo)電性能測(cè)試

二、器成套組成： 

1.溫度控制箱：任意設(shè)定多段加熱,、保溫曲線,，加熱范圍:室溫至1000℃?？販鼐?plusmn;1oC,。

2.真空加熱爐管：采用石英真空管實(shí)現(xiàn)真空密閉狀態(tài)，達(dá)到6*10-2Pa,。

3.控制信號(hào)盒：高精度的恒流源200uA-10mA,通過計(jì)算機(jī)通信控制實(shí)現(xiàn)連續(xù)可調(diào)（或定制）,，測(cè)量到1uΩ。

4.計(jì)算機(jī)：通信控制溫控儀加熱曲線,，實(shí)時(shí)接收當(dāng)前溫度值并存儲(chǔ)顯示,。結(jié)合溫度值顯示電阻率-溫度曲線。同時(shí)存儲(chǔ)過程的測(cè)試條件信息,，測(cè)試過程的數(shù)據(jù),。完成數(shù)據(jù)庫(kù)的基本管理、查詢,、打印等功能,。

5.   低溫裝置：低溫實(shí)驗(yàn)可延伸-150℃，完成高低溫實(shí)驗(yàn)功能,。

6.   app遠(yuǎn)程監(jiān)控：手機(jī)app完成對(duì)實(shí)驗(yàn)設(shè)備主要參數(shù)的監(jiān)控,，不必守在爐子旁邊也能了解實(shí)驗(yàn)?zāi)壳暗臓顟B(tài),。 

7.適用于科研單位、高等院校對(duì)金屬材料的導(dǎo)電性能,、微結(jié)構(gòu)變化,、相變信息等測(cè)試。

三,、基本技術(shù)參數(shù)

1、控溫范圍,；-150 ℃-1000 ℃,，精度：-150 ℃-1000 ℃，精度±1 ℃

2,、測(cè)量范圍：電  阻：1×10-6～1×10-1 Ω   ,， 分辨率：1×10-7Ω

電阻率：1×10-7～1×10-2 Ω-mm， 分辨率：1×10-8

3,、 材料尺寸：200mm*5mm*1mm,500mm*5mm*1mm,1000mm*5mm*1mm

4,、 四線探針；0.5 mm-0.7mm   

5,、夾具：針對(duì)不同的樣品可以設(shè)計(jì)不同的夾具

6,、外形尺寸：主   機(jī)  1300mm（長(zhǎng)）×800 mm（寬）×500mm（高）

7、凈   重：≤60kg

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測(cè)試儀

BKTEM-T1型熱電賽貝系數(shù)測(cè)試儀以測(cè)定半導(dǎo)體材料,、金屬材料及其他熱電材料(Bi2Te3, PbTe, Skutterudites等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率.

應(yīng)用范圍：1,、精確地測(cè)定半導(dǎo)體材料、金屬材料及其他熱電(Bi2Te3,PbTe,Skutterudites康銅,、鎳,、鎢等金屬，Te,、Bi2Te3,、ZrNiSn、ZnAgSb,、NiMoSb,、SnTe、FeNbSb,、CuGaTe2,、GeTe、Ag1-xCuS,、Cu2ZnSnSe4等)的Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率,、電阻率。

3,、塊體和薄膜材料測(cè)均可以測(cè)試,。

4,、試樣與引線的接觸是否正常V-1裝置可以自動(dòng)檢出。

5,、擁有自分析軟件,，獨(dú)立分析，過程自動(dòng)控制,，界面友好,。

6、國(guó)內(nèi)高等院校材料系研究或是熱電材料生產(chǎn)單位,。

7,、汽車和燃油、能源利用效率,、替代能源領(lǐng)域,、熱電制冷.
  8、很多其他工業(yè)和研究領(lǐng)域-每年都會(huì)誕生新的應(yīng)用領(lǐng)域

技術(shù)指標(biāo)要求

測(cè)量溫度：   室溫-600℃

同時(shí)測(cè)試樣品數(shù)量：  1個(gè)

測(cè)量功能：   材料賽貝克系數(shù)和電阻率Seebeck系數(shù)及電導(dǎo)率

控溫精度：   0.5K

測(cè)量原理：   塞貝克系數(shù)：靜態(tài)直流電,；電阻系數(shù)：四端法

測(cè)量精度：   塞貝克系數(shù)：＜±7％,；電阻系數(shù)：＜±10％

樣品尺寸; 塊體方條形：2-3×2-3 mm×10-23mm長(zhǎng)，薄膜材料：≥50 nm

熱電偶導(dǎo)距:  ≥6 mm

電   流,； 0 to 160 mA

加熱電極相數(shù)/電壓：        單相,，220V，