精科智創(chuàng)TDZT-04C型鐵電測(cè)試儀近代物理學(xué)科設(shè)備
精科智創(chuàng)TDZT-04C型鐵電測(cè)試儀近代物理學(xué)科設(shè)備之一,,關(guān)于壓電材料,鐵電材料的功能更加豐富,,體現(xiàn)出來(lái)不同類型的參數(shù),,也是物理教學(xué)的重要設(shè)備之一。
TDZT-04C 型鐵電性能綜合測(cè)試系統(tǒng)是最新一代鐵電材料參數(shù)測(cè)試儀適用于鐵電薄膜,、鐵電體材料(既可塊體材料)的電性能測(cè)量,,可測(cè)量鐵電薄膜電滯回線、I—V特性及開關(guān)特性,,可精確地測(cè)出具有非對(duì)稱電滯回線鐵電薄膜的Pr值,。可測(cè)鐵電體材料的電滯回線及I—V特性,。
主要技術(shù)指標(biāo):
1.輸出信號(hào)電壓::薄膜:0~±10V 陶瓷,、材料:0~±2000V
2.輸出信號(hào)頻率:薄膜材料1-1000HZ,陶瓷:0-1Hz
3.電容范圍:1000nf~ 100nf, 精度: ≤1%,。
4.電流范圍: 1nA~10A ,精度: ≤1%,。
5、測(cè)試樣品:0-20mm 5個(gè)
6,、高壓樣品池:2個(gè),,一個(gè)封閉式:8CM*6CM 一個(gè)開放式:8CM*5CM
7,、三維移動(dòng)薄膜測(cè)試平臺(tái):直立式探針一套,角度式探針一套
8,、電流:1-10倍放大,,信號(hào):1-20倍。.數(shù)據(jù)結(jié)口:USB或BNC接口,。
9. 數(shù)據(jù)采集分析軟件: 能畫出鐵電薄膜的電滯回線,,定量得到鐵電薄膜材料的飽和極化Ps、剩余極化Pr,、矯頑場(chǎng)Ec,、漏電流等參數(shù);可以進(jìn)行鐵電薄膜材料的鐵電疲勞性能、鐵電保持性能的測(cè)試,,電阻測(cè)量,,漏電流測(cè)量。
10.可以配合ZJ-3和ZJ-6型壓電測(cè)試儀操作系統(tǒng)
(空格分隔,最多3個(gè),單個(gè)標(biāo)簽最多10個(gè)字符)
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