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分享一下手持式合金分析儀的基體效應(yīng)
手持式合金分析儀中的基體效應(yīng):在實(shí)際工作中,，被測(cè)樣品的成分通常由多種元素組成,，除被測(cè)元素外的元素統(tǒng)稱為基體。在被測(cè)樣品中,，其基體成分發(fā)生變化(這種變化一是元素的變化,，二是含量的變化)，直接影響被測(cè)元素特征x射線強(qiáng)度的測(cè)量,。換句話說,，被測(cè)元素含量相同，由于其基體成分不同,，被測(cè)元素特征x射線強(qiáng)度不同,，這就是基體效應(yīng)?；w效應(yīng)是x射線熒光定量分析的主要誤差來源之一,。
基體效應(yīng)是不可避免的客觀事實(shí)，其物理本質(zhì)是刺激(吸收)和散射引起特征x射線強(qiáng)度的變化,，除了待測(cè)元素外,，基體成分中接近待測(cè)元素的元素對(duì)刺激源的放射線和待測(cè)元素的特征x射線產(chǎn)生光電效應(yīng)的概率遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于輕元素(地質(zhì)樣品中常見的主要造巖元素)，即這些相鄰元素對(duì)刺激源發(fā)射的x射線和待測(cè)元素的特征x射線的吸收系數(shù)遠(yuǎn)遠(yuǎn)高于輕元素,。
為了便于描述,，假設(shè)樣品中有待測(cè)量元素A、相鄰元素B,、C和輕元素,。B元素的原子序數(shù)大于A元素的原子序數(shù)，B元素可以被放射源釋放的輻射激發(fā)產(chǎn)生B元素的特征,。X射線BK,，BKX輻射可以激發(fā)A元素;C元素的原子序數(shù)小于待測(cè)元素A的原子序數(shù)，可以被A元素特征X輻射激發(fā)產(chǎn)生C元素特征X輻射;輕元素的原子序數(shù)遠(yuǎn)離A,、B,、C元素的原子序數(shù)，激發(fā)的概率很小,，可以忽略不計(jì),，所以對(duì)待測(cè)元素A特征X輻射強(qiáng)度的影響如下:
1、放射源釋放的輻射刺激待測(cè)元素A,，產(chǎn)生特征X輻射AK線稱為光電效應(yīng),。
2,、AKX線在樣品出射時(shí)遇到C元素激發(fā)C元素特征X射線CK，而A元素特征X射線強(qiáng)度降低,，稱為吸收效應(yīng),。
3、放射源刺激B元素,，BKX線刺激A元素,，增加A元素特征X射線計(jì)數(shù)，稱為增強(qiáng)效應(yīng),，也稱為二次熒光,。
4、放射源刺激元素C和元素B,，降低刺激元素A的概率,。
5、放射源放射線與輕元素相互作用產(chǎn)生康普頓效應(yīng),，可發(fā)生一次康普頓效應(yīng),，也可發(fā)生多次康普頓效應(yīng)，發(fā)生康普頓效應(yīng)后,，部分射線能量損失可激發(fā)元素A,、B、C,，也可不起作用,，稱為康普頓效應(yīng)。
上面只描述了一個(gè)簡(jiǎn)單的圖像,，事實(shí)上,，X射線的吸收，增強(qiáng),，散射過程要復(fù)雜得多,。如果待測(cè)元素與標(biāo)準(zhǔn)基體成分不一致，必然會(huì)使分析結(jié)果產(chǎn)生較大的誤差,。它是吸收效應(yīng),，增強(qiáng)效應(yīng)，散射效應(yīng)的影響,，統(tǒng)稱為基體效應(yīng)。