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XRF歸納之X射線熒光光譜儀工作原理
XRF歸納之X射線熒光光譜儀工作原理
【摘要】
X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象,。一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成。
XRF測試作為常用測試之一,，但仍有許多同學(xué)不太了解其工作原理,，本篇文章由科學(xué)指南針科研服務(wù)平臺給大家介紹X射線熒光光譜儀工作原理,。
X射線熒光是原子內(nèi)產(chǎn)生變化所致的現(xiàn)象。一個穩(wěn)定的原子結(jié)構(gòu)由原子核及核外電子組成,。其核外電子都以各自*的能量在各自的固定軌道上運行,，內(nèi)層電子（如K層）在足夠能量的X射線照射下脫離原子的束縛，釋放出來,，電子的逐放會導(dǎo)致該電子殼層出現(xiàn)相應(yīng)的電子空位。這時處于高能量電子殼層的電子（如：L層）會躍遷到該低能量電子殼層來填補相應(yīng)的電子空位,。由于不同電子殼層之間存在著能量差距,，這些能量上的差以二次X射線的形式釋放出來，不同的元素所釋放出來的二次X射線具有特定的能量特性,。這一個過程就是我們所說的X射線熒光(XRF),。元素的原子受到高能輻射激發(fā)而引起內(nèi)層電子的躍遷，同時發(fā)射出具有一定特殊性波長的X射線,，根據(jù)莫斯萊定律,，熒光X射線的波長λ與元素的原子序數(shù)Z有關(guān),，其數(shù)學(xué)關(guān)系如下：
λ=K(Z-S)-2
式中K和S是常數(shù)。而根據(jù)量子理論,，X射線可以看成由一種量子或光子組成的粒子流,，每個光具有的能量為：
E=hν=hC/λ
式中，E為X射線光子的能量，單位為keV,；h為普朗克常數(shù),；ν為光波的頻率；C為光速,。因此，只要測出熒光X射線的波長或者能量,，就可以知道元素的種類,，這就是熒光X射線定性分析的基礎(chǔ)。將樣品中有待分析的各種元素利用X射線轟擊使其發(fā)射其特征譜線,經(jīng)過狹縫準(zhǔn)直,使其近似平行光照射到分光晶體上,對己知其面間距為d的分光晶體點陣面上的輻射加以衍射,。依據(jù)布拉格定律,適用公式nλ=Zdsinθ。
對于晶體的每一種角位置,只可能有一種波長的輻射可被衍射,而這種輻射的強度則可用合適的計數(shù)器加以測量,。分析樣品時,鑒定所發(fā)射光譜中的特征譜線,就完成了定性分析;再將這些譜線的強度和某種適當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)的譜線強度進(jìn)行對比,就完成了定量分析,。
以上僅為科學(xué)指南針平臺的自我總結(jié),，故此分享給大家，希望可以幫助大家對測試更了解,，如有測試需求,，可以和科學(xué)指南針聯(lián)系，我們會給與您最準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)和好的服務(wù)體驗,，惟祝科研工作者可以更輕松的工作,。