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IR孔透過率測試儀

DMS透過率測試儀
 簡介
    IR孔透過率測試儀是一套全波長的0度角透過率檢測儀，能快速準確地測量各類平面光學(xué)元件的透光率,，可用于實時在線檢測,，實現(xiàn)產(chǎn)品全檢。適用于棱鏡,、鍍膜鏡,、膠合鏡、平行平板,、太陽膜,、濾光片等平面光學(xué)元件的檢測。
 IR孔透過率測試儀
特點
     智能化軟件操作：可自定義測量方式和角度,，實時顯示測量樣品關(guān)注波長位置的透/反射率數(shù)據(jù),，自動調(diào)整顯示坐標范圍，高效地進行批量樣品檢測及譜圖對比分析,。
     譜圖管理：可同時記錄多達20個樣品譜圖,，批量保存測量結(jié)果，記錄譜圖測試積分時間,，能對譜圖進行更名,、定義顏色、選擇是否顯示,、加粗等操作,，盡可能地方便了譜圖的管理和分析。
     自定義測量方案：用戶可以自行定義測量的方案,，同時設(shè)置判定標準,，使檢測更快速,，結(jié)果更準確。
     譜圖數(shù)據(jù)處理功能：備有豐富的光學(xué)元件數(shù)據(jù)庫,，可根據(jù)數(shù)據(jù)庫已存標準數(shù)據(jù)對比分析結(jié)果,，用戶可自行對數(shù)據(jù)庫進行添加、修改和刪除,，還可將測量數(shù)據(jù)導(dǎo)入Excel有利于進一步對譜圖進行分析和研究,。
      CIE顏色測量功能：可以計算樣品各種CIE顏色參數(shù)，x,，y，L,，a,，b，飽和度,，主波長等,。
      數(shù)據(jù)報告打印功能：可快速批量打印樣品測量數(shù)據(jù)及譜圖，自定義測量報告出具單位名稱,。
 
技術(shù)參數(shù)
 
         型號DMS（1型）DMS（2型）
 
        探測器Sony線形CCD陣列Hamamatsu背照式2D-CCD
 
        檢測范圍380-1000nm360-1100nm
 
        波長分辨率1nm1nm
 
        信噪比（全信號）250：11000：1
 
        相對檢測誤差﹤0,。5%（400-800nm）﹤0。2%（400-800nm）
 
        單次測量時間﹤1s
 
        樣品尺寸≥Φ1mm
 
       操作系統(tǒng)/接口WindowsXP,，WindowsVista/USB2,。0
 
       電源/功率220V-50HZ/6W