X射線熒光光譜法測試會受哪方面的影響嗎？,，首先，被測樣品與標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)所含元素組成和含量有較大差異，被測樣品表面有鍍層或經(jīng)化學(xué)處理,，測量時間,樣品的形狀,樣品測量的面積。制樣的好壞,、標(biāo)準(zhǔn)曲線,、參照標(biāo)準(zhǔn)、軟件補償,、X射線熒光光譜儀種類：波長或能量或全反射類型等,。還有溫度、濕度等自然因素
材質(zhì)必須均勻,。你的待測元素不均勻的話,，多的地方和少的地方差別會較大。因為XRF光譜儀入射光線一般較窄,，直徑1-5微米,，也就是說照射到樣品的區(qū)域會很小，所以不均勻樣品檢測會不準(zhǔn)確,，當(dāng)然主要也是看不均勻程度,。
你的交錯規(guī)律排列指的什么？如果是一層高分子,，一層無機物,，在一層高分子一層無機物,，并且每層的厚度一定（比如第一層高分子都是10微米厚）。這樣的可以在一定程度上看成是均勻的,，但是用X熒光光譜儀測量還是有問題,，因為X熒光透過不同物質(zhì)有無限厚（某元素的X熒光透射不出來的厚度，原因是自吸收）的問題,。這樣誤差看你每層的厚度了,，如果每層都很薄，比如幾個微米那么影響會較小,。如果每一層達到幾十比如50微米以上,，那么影響就會較大
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