Belec IN-SPECT
Belec IN-SPECT是用于金屬分析的新型緊湊型固定光譜儀。 
臺式儀器以壓縮的方式將復雜的實驗室儀器的大部分功能結合在一起,。
Belec IN-SPECT—產(chǎn)品功能
 
•新5GSO系統(tǒng)提高整體分析效能（第5代光譜儀光學系統(tǒng)）
•先進的探測器,，*展現(xiàn)在光譜學的應用
•結構緊湊
•服務和操作方面人性化設計
•低檢測下限-高精度
•易于操作的Belec Win 21軟件
•開放式火花臺
•富有吸引力的設計

Belec IN-SPECT 標準配置的惰性氣體流動的光學光譜室,，和對分析要求的不斷優(yōu)化使得設備富有吸引力。同時,，Belec IN-SPECT為用戶提供了高性能和準確性,。
連同其它配件一起，設備顯示了一個真正的分析單元,，取代傳統(tǒng)的笨重而龐大的系統(tǒng),。
集成光譜儀，包含先進的5GSO系統(tǒng),，由BELEC工程師設計,，可以在任何類型的光譜線同時應用時也不會出現(xiàn)相互的干擾。
Belec IN-SPECT — 技術數(shù)據(jù)
 
光學
•帕刑-龍格裝置光譜室 
•羅蘭圓直徑300mm
•可用波長145-410 nm
•光柵,，3600線/ mm
•色散率0.9 nm / mm（1次）
•耐沖擊
•恒溫探測器配備波長入射窗口（US許可）
•集成噪聲補償
•寬7μ像素優(yōu)化線分離
•一個基體模塊*校正,，延伸到幾乎多個額外基體模塊
•不限數(shù)量的元素信道
•惰性氣體光譜室?guī)艋到y(tǒng)
•可選配置為：真空光譜室代替惰性氣體交換光譜室
 
光源
•火花發(fā)生器的頻率400 Hz
•單極放電
•通過軟件控制預火花參數(shù)和集成數(shù)據(jù)參數(shù)
•通過軟件控制點火頻率程序
•通過軟件控制放電功率程序
•點火電壓20 kV
 
測量臺
•為精確分析的氬氣流測量臺
•火花測量臺上帶Ø10mm分析口，可選帶Ø4mm分析口的陶瓷或金屬墊片
•可配合線材,、管材和小零件的適配器使用
•低損鎢電極
•氣動試樣夾具
•氬氣流量待機時0.1 l / min,，分析時2 l / min
•免維護
 
電子器件
•10個探測器,，每個3648像素，寬7μ像素
•溫度穩(wěn)定,，精到0.1°C
•每個探測器都有獨立的AD轉(zhuǎn)換器,，安裝在多通道板上，以高速通用USB端口連接
•集成噪聲抑制 - 集成背景補償
•無限數(shù)量的測量信道,，可配置多個基體
 
尺寸
•寬30.5英寸（775毫米）
•高14.9英寸（380毫米）
•深度23.6英寸（600毫米）附加6.1英寸（155毫米）的火花臺

 

 
重量
•分析單元152.1磅 （69kg）附加顯示器和鍵盤
 
電源
•230V / 50Hz或110V / 60Hz
•100 W待機時
•600 W分析時
 
真空系統(tǒng)電源（可選）
•600 W待機時
•1100W分析時
 
計算機硬件
•系統(tǒng)集成工業(yè)計算機系統(tǒng)
•Intel®Core®Duo T7400（2.16 GHz,，4MBL2）
•2 GB DDR2 SD RAM內(nèi)存
•2.5“硬盤＞60 GB
•19“彩色顯示器，其他尺寸也可用
•全尺寸外接鍵盤
•USB 2.0端口
•以太網(wǎng)接口
 
軟件
通用操作系統(tǒng),，例如MS Windows 7
•遠程服務系統(tǒng)（RSS）
•每次測量都會顯示分析值
•可以根據(jù)客戶要求設計不同分析程序
•每個分析程序都有獨立的分析參數(shù)
•自動選擇程序（APF）
•分析計算：背景修正,，曲線位置修正，乘和加相互修正
•以標準類型進行自動修正（類型校準）
•容易同時進行多個程序的重校正（BGR）
•混料分選通過與參考工件的測量數(shù)據(jù)進行比較
•牌號分析是與預設的牌號范圍進行比較
•類型校正和類型測量
•每個分析程序在相對和絕對含量的公差,，可調(diào)整
•可選測量結果的平均和標準偏差
•當數(shù)據(jù)超過校正曲線時,，會有報警信號
•輕松的同時重新校準幾個程序
•通過使用MCDC（多信道漂移校正）延長重校正所需的周期
•自動提示定期重校正
•自動顯示牌號或物料號
•合金牌號數(shù)據(jù)庫可達100.000個或以上（取決于計算機存儲量）
•顯示器上文字的大小可變，以達到清晰度
•自動存儲功能