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上海鼎振儀器設(shè)備有限公司
中級(jí)會(huì)員 | 第10年

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手持式X射線熒光(XRF)分析儀測量鍍層厚度

時(shí)間:2021/2/24閱讀:3662
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我們的客戶使用手持式X射線熒光(XRF)分析儀可以確定合金,、金屬,、土壤其它材料的化學(xué)成分,。但是,,您可否知道我們X射線熒光(XRF)分析儀還可以測量涂層的厚度?配備了涂層方式的分析儀可以測量金屬,、塑料、玻璃,,甚至木材表面的涂層厚度,,且可測量多層涂層的厚度。
 

涂層具有裝飾,、保護(hù)或其他功能性作用,。例如:汽車工業(yè)中使用的涂層可以起到防腐蝕、裝飾,、防磨損,,以及保護(hù)電子器件的作用。同樣,,航空航天工業(yè)使用的涂層有助于減少阻力,,防止出現(xiàn)殘?jiān)槠头e累的污垢,從而可以降低燃料的消耗,。
  工業(yè)產(chǎn)品普遍使用涂層,,因?yàn)榇蠖鄶?shù)涂層都起到了非常重要的作用。鎳具有堅(jiān)韌,、耐用,、延展性好的特性,因而成為一種廣受歡迎的涂料,。根據(jù)ASTM針對(duì)鋼材料產(chǎn)品的優(yōu)質(zhì)表面處理所推薦的標(biāo)準(zhǔn),,烤面包機(jī)、華夫餅機(jī),、烤肉機(jī),,以及類似的電器用品都應(yīng)該使用約10微米的鎳涂層,。鎳還具有防潮的性能,因此爐灶的上表面,、家具,、浴室配件和廚柜也會(huì)使用鎳涂層。另一種廣受歡迎的涂料是鉻,,鉻與鎳的性能相似,,而且,具有更強(qiáng)的抗腐蝕和抗磨損的性能,。
使用涂料的其他常見應(yīng)用包括:
 
 
屏蔽電子器件:導(dǎo)電的涂層用于屏蔽塑料設(shè)備
 
建筑飾面:涂層可以保護(hù)鋼鐵材料免受銹蝕,,避免銅和黃銅材料失去光澤,避免鋅材和鋁材出現(xiàn)污漬
 
太陽能電池:許多太陽能電池覆蓋有薄合金或聚合物涂層
 
工具鋼:鈦制和鎢制硬質(zhì)合金有助于增加防磨性和耐用性
 
電氣布線:鋅涂層和鎳涂層正在取代過去的鎘涂層
 
 
 
如何測量涂層厚度
  準(zhǔn)確的厚度測量結(jié)果有助于制造商提供*的產(chǎn)品,,同時(shí)還可以控制成本,。涂層的厚度應(yīng)該恰到好處;產(chǎn)品的涂層太厚會(huì)增加制造成本,??蛻魧?duì)來料進(jìn)行質(zhì)量控制時(shí),也會(huì)對(duì)涂層進(jìn)行檢測:確保所接收來料使用的是正確的涂層材料,,且涂層的厚度準(zhǔn)確無誤,。
  取決于不同的材料,手持式XRF分析儀可以測量范圍從0.00到約60.00微米的涂層厚度,。分析儀發(fā)出X射線,,X射線撞擊到被測樣本,使樣本發(fā)出熒光,。分析儀探測到返回的X射線,,并使用獲得的數(shù)據(jù)計(jì)算涂層的厚度。
  根據(jù)材料工程師和科學(xué)家協(xié)會(huì)(ASM)的防腐和防磨表面工程要求,,屬于這個(gè)范圍的各種表面工程技術(shù)包括電鍍(機(jī)械,、化學(xué)、電解),、蒸發(fā)(化學(xué)和物理沉積)和粘合(樹脂或漆料),。
 

 

                      分析儀多可檢測三層材料的厚度
 
 
手持式XRF分析儀涂層厚度的優(yōu)勢
  使用一款可以快速、有效地完成無損檢測的工具,,有助于在生產(chǎn)線和野外的工作人員做好產(chǎn)品的質(zhì)量控制工作,。手持式XRF分析儀可以在10秒鐘的短時(shí)間內(nèi)提供檢測結(jié)果,而且通過30秒鐘就能完成的單點(diǎn)校準(zhǔn)可以對(duì)檢測結(jié)果進(jìn)行完善,。手持式XRF分析儀也不會(huì)損壞被測材料,。
  由于手持式分析儀具有小巧、便攜的特性,,因此可以非常方便地檢測較大的樣本,,而使用臺(tái)式分析儀對(duì)這類較大的樣本進(jìn)行檢測時(shí),,可能需要對(duì)樣本進(jìn)行切割,才能將樣本放入分析儀中,。
 

 

                                    鍍層測試結(jié)果界面簡潔明了
                                        分析儀的鍍層模式
元素配置:可分析的元素為原子數(shù)大于鈦的元素,,包括鈦元素。同一種元素不能在多個(gè)涂層中被重復(fù)分析,,包括基底材料,。
可選的實(shí)證單點(diǎn)校準(zhǔn):用戶可以使用一種內(nèi)部認(rèn)證的樣本對(duì)校準(zhǔn)進(jìn)行調(diào)整。
層的數(shù)量:Vanta分析儀的鍍層模式可以多測量3層材料的厚度,,不過各層材料要足夠薄,,以使X射線從底層材料返回到探測器。
基底:可以分析任何基底材料,,只要基底材料中不包含涂層材料中存在的元素,。

 

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