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韓國Micro PioneerX射線鍍層測厚儀產(chǎn)品介紹

X 螢光射線膜厚分析儀是利用 XRF 原理來分析測量金屬厚度及物質(zhì)成分,，可用於材料的涂層 / 鍍層厚度,、材料組成和貴金屬含量檢測。  

XRF-2000 系列分為以下三種：  
1. H-Type :密閉式樣品室,，方便測量的樣品較大,，高度約100mm以下。  
2. L-Type : 密閉式樣品室,，方便測量 樣品較小,，高度約30mm以下。  
3. PCB-Type : 開放式樣品室,，方便大面積的如大型電路板高度約30mm以下的量測 ,。   
韓國Micro PioneerX射線鍍層測厚儀應(yīng)用 : 
測量鍍金、涂層,、薄膜,、元素的成分或者是厚度，其可偵測元素的范圍： Ti（22）~U（92 ）,。   
行業(yè) :  
五金類,、螺絲類、 PCB 類,、連接器端子類行業(yè),、電鍍類等。   
特色 : 
  非破壞,，非接觸式檢測分析,，快速精準(zhǔn)。 
  可測量高達(dá)六層的鍍層 （五層厚度   底材 ） 并可同時分析多種元素,。 
  相容Microsoft微軟作業(yè)系統(tǒng)之測量軟體,，操作方便，直接可用Office軟體編輯報告 ,。 
  全系列*設(shè)計樣品與光徑自動對準(zhǔn)系統(tǒng),。 
  標(biāo)準(zhǔn)配備: 溶液分析軟體 ，可以分析電鍍液成份與含量,。 
準(zhǔn)直器口徑多種選擇,，可根據(jù)樣品大小來選擇準(zhǔn)值器的口徑。  
  移動方式：全系列全自動載臺電動控制,，減少人為視差 ,。  
  *2D與3D或任意位置表面量測分析。 
  雷射對焦，配合彩色CCD擷取影像使用point and shot功能,。 

標(biāo)準(zhǔn)ROI軟體 搭配內(nèi)建多種專業(yè)報告格式,，亦可將數(shù)據(jù)、圖形,、統(tǒng)計等作成完整報告 ,。 

光學(xué)2 0X 影像放大功能，更能精確對位,。  

單位選擇： mils ,、 uin 、 mm ,、 um ,。 
  優(yōu)於美製儀器的設(shè)計與零件可 靠度以及擁有價格與零件的*優(yōu)勢。  
  儀器正常使用保固期一年,，強(qiáng)大的專業(yè)技術(shù)支援及良好的售后服務(wù),。 
  測試方法符合 ISO 3497 、 ASTM B568 及 DIN 50987,。 

韓國Micro Pioneer 還推出一款元素分析及測厚兩用的XRF-2000R型號

Micro Pioneer XRF-2000R X光鍍層測厚儀及ROHS元素分析儀

是在XRF-2000系列測厚儀的基礎(chǔ)上增加了元素分析及有害物質(zhì)檢測的功能,，

其物點為：高分辨率，固態(tài)探測器; 可分析超薄樣品

分析有害物質(zhì),，元素分析分之 ppm - 100％, 符合RoHS / WEEE標(biāo)準(zhǔn)測試以及ELV指令優(yōu)化的應(yīng)用;

可測量多層鍍層厚度及錫鉛成分分析,；

電鍍?nèi)芤悍治觯?/p>

定性分析超過30種元素,能夠測量液體，固體,，粉末,，薄膜和不規(guī)則形狀,；

貴金屬元素含量和分析（金,，銀，鉑,，和珠寶）,；

自動過濾器，多準(zhǔn)直儀（五個準(zhǔn)直器,，從0.1mm-3.0mm）和全自動XYZ移動樣品臺,；

性價比*的元素分析及鍍層測厚雙功能分析儀器

儀器尺寸：W610mm D670mm H490mm, 重量：75Kg （net）                              

可測量樣器大小：W550mm D550mm H30mm                      

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李瑞軀

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