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德國ROENALYTIC(宏德)NanoMaster X射線鍍層測厚儀

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  • 型號 NanoMaster
  • 品牌
  • 廠商性質(zhì) 代理商
  • 所在地 深圳市
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更新時間:2023-06-14 13:59:46瀏覽次數(shù):965

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產(chǎn)品簡介

NanoMaster X射線分析儀具有高靈敏度微量分析,??煞治鑫⑿〔考蛫A雜物。真空條件進行現(xiàn)場分析測量,,允許從Na-U所有元素含量檢測,。

詳細介紹

 如需更詳細資料或報價請資詢:
86-755-82444742
86-755-82413857
Web: www.eastco-hk。,。com

德國ROENALYTIC(宏德roentgenanalytik) NanoMasterμXRF鍍層厚度和元素分析儀
NanoMasterμXRF熒光分析/鍍層測厚/元素分析/ROHS / WEEE分析儀
 
全新的μXRF集鍍層,,元材料和ROHS / WEEE于一體的的分析儀器。
 
NanoMaster X射線分析儀具有高靈敏度微量分析??煞治鑫⑿〔考蛫A雜物,。真空條件進行現(xiàn)場分析測量,允許從Na-U所有元素含量檢測,。
 
現(xiàn)代電子設備小型化導致越來越小的元件,,特別是在接觸點。關于成本和環(huán)保等原因的基礎上正變得越來越薄鍍涂層,,下降到納米范圍內(nèi),。這會產(chǎn)生測量不能用常規(guī)涂層厚度分析儀解決的任務。新的NanoMaster提供了解決方案,。此外,,NanoMaster使材料具有較高的檢測精度和體重極限分析。此外,,測量符合WEEER0HS可以執(zhí)行的指導方針,。

NanoMaster的突出特點是:
•帶電子冷卻硅漂移探測器(SDD
HiSpe數(shù)字脈沖處理光譜儀
•形成了各種方案X射線束
•提供光束直徑下降到25微米
•真空樣品室增強的元素范圍,Na-U
XMaster用戶友好的操作軟件
•通用的生產(chǎn),,進貨檢驗和實驗室環(huán)境
•優(yōu)異的價格/性能比,。

規(guī)格參數(shù):
高壓電源:25-50KV1.2mA
X光管:可選光點85*85um微焦管帶薄玻離窗鎢(W)靶管Be窗銠鈀管或Be窗鉬鈀管,。
準直器:四個組合,軟件控制,,0.2mm, 0.4mm, 0.6mm, 0.8mm
樣品臺全自動X 100mm,,Ÿ120mmZ 100mm),軟件控制,步寬1.5um,精度<5um
樣品定位 操縱桿,,自動選位,,激光自動對焦需配合自動樣品臺)  
X-Ray探測器:硅漂移探測器(SDD)25mm²有效面積,,133eV分辨率 Peltier-cooled Si-semiconductor探測器(PIN-Diode),,25mm²有效面積,500um厚,Be入射窗,,260ev分辨率(FWHM@5,9 keV
樣品室測試箱:真空室,,330mm,D350mm
放大倍數(shù): 彩色視頻顯微鏡,放大60-120 X / 90-180X
外型尺寸: H560 cm,,W780 cm,,D455 cm
主電源: 110V/ 230V 60HZ / 50HZ
X - MasteR
 操作系統(tǒng) WINDOWS 2000 / NT/XP
u- MasteR
 測量模式:單層,、雙層,、三層、四層、合金層,,可測元素范圍:Ti-U  
Fun-MasteR
:基本參數(shù)法(FP)校對模組,,可實現(xiàn)標準片校對模式及無標準片校對模式 
Element-MasterR
:定性分析模組,一次zui多可分析20種元素針對合金材料) 
%-MasteR
:定量分析模組,,一次zui多可分析20種元素針對合金材料)   
Liquid-MasteR
:電鍍藥液分析模組針對藥液主成份金屬離子濃度)  
Data-MasteR
:資料統(tǒng)計模組,,zui小值、zui大值,、平均值,、誤差,統(tǒng)計圖表CP,、CPK 
Report-MasteR
:報告編輯模組,,文本格式,Word格式
 
多元合金或貴金屬成色分析:K金,、純金,、純銀、飾銀,、銅材,、鋼材等
多層電鍍厚度分析:Au/Ni/Cu/Fe/Cr/Ni/Cu/Zn
自動計算可測厚度范圍
 
無論是很大的汽車部件、衛(wèi)浴器具,、PCB,,還是很小的半導體支架、接插端子,、金銀首飾,,德國ROENALYTIC宏德公司都一一有理想的儀器去進行測量。德國ROENALYTIC宏德提供的都是高效率,、低成本的測量儀器,,它廣泛應用于各類電鍍工件的鍍層測厚及貴重首飾的成色分析,簡單易用,,維修方便,,是節(jié)省生產(chǎn)成本及保證品質(zhì)的好幫手。
 
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