顯微鏡圖像法能同時觀察顆粒的形貌及直觀地對顆粒的幾何尺寸進(jìn)行測量，經(jīng)常被用來作為對其他測量方法的一種校驗或標(biāo)定,。該類儀器由顯微鏡,、CCD 攝像頭(或數(shù)碼相機(jī))、圖形采集卡,、計算機(jī)(圖像分析儀)等部分組成,。
它的基本工作原理是將顯微鏡放大后的顆粒圖像通過CCD攝像頭和圖形采集卡傳輸?shù)接嬎銠C(jī)中，由計算機(jī)對這些圖像進(jìn)行邊緣識別等處理,，計算出每個顆粒的投影面積,，根據(jù)等效投影面積原理得出每個顆粒的粒徑，再統(tǒng)計出所設(shè)定的粒徑區(qū)間的顆粒的數(shù)量,，就可以得到粒度分布,。
顆粒圖像法有靜態(tài)、動態(tài)兩種測試方法：
靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng),，配合高清晰攝像機(jī),，將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上，配合相關(guān)的計算機(jī)軟件可進(jìn)行顆粒大小,、形狀,、整體分布等屬性的計算,。
動態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊,，解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣,、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷,。
優(yōu)點：可以直接觀察顆粒的形貌,，可以地得到球型度、長徑比等特殊數(shù)據(jù),，適合分布窄（和小粒徑的比值小于10：1）的樣品,。
缺點：器材價格昂貴，試樣制備繁瑣,，代表性差,，操作復(fù)雜，速度慢,，不宜分析粒度范圍寬的樣品,，無法分析小于1微米的樣品，顯微鏡或電鏡不適合用于產(chǎn)品的質(zhì)量控制,，但可作為一個非常有價值的輔助手段,，與激光衍射法或動態(tài)光散射法相結(jié)合來進(jìn)行顆粒表征。
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