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導(dǎo)致納米激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的原因說(shuō)明

閱讀:3583      發(fā)布時(shí)間:2018-5-28
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    納米激光粒度儀是一種光學(xué)的測(cè)量?jī)x器,激光器,、探測(cè)器是其中重要的構(gòu)成,,是重要的光學(xué)元件。采用動(dòng)態(tài)光散射原理和光子相關(guān)光譜技術(shù),,根據(jù)顆粒在液體中的布朗運(yùn)動(dòng)的速度測(cè)定顆粒大小,。小顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度快,大顆粒布朗運(yùn)動(dòng)速度慢,,激光照射這些顆粒,,不同大小的顆粒將使散射光發(fā)生快慢不同的漲落起伏。光子相關(guān)光譜法就根據(jù)特定方向的光子漲落起伏分析其顆粒大小,。

  導(dǎo)致納米激光粒度儀數(shù)據(jù)漂移的原因:

  一,、進(jìn)樣系統(tǒng)的循環(huán)、分散效能波動(dòng)

  這個(gè)環(huán)節(jié)導(dǎo)致的數(shù)據(jù)漂移比較隱蔽,,所以容易被忽視,。樣品循環(huán)系統(tǒng)使用的介質(zhì)特性、介質(zhì)流速(干法儀器而言則是氣壓和氣流量),、超聲分散設(shè)備的工況,、水泵轉(zhuǎn)速這幾個(gè)要點(diǎn)會(huì)明顯影響測(cè)試數(shù)據(jù),需要細(xì)心關(guān)注,。應(yīng)對(duì)這些問(wèn)題的主要辦法或者方法如下:

  關(guān)注測(cè)試用水的質(zhì)量,,特別是那些以自來(lái)水為介質(zhì)的用戶。

  干法儀器用戶則需定期檢查和維護(hù)保養(yǎng)空壓機(jī),,空氣過(guò)濾裝置,,收塵裝置。分散樣品的高壓空氣質(zhì)量,。

  關(guān)注超聲分散設(shè)備功率輸出是否正常,。

  觀察進(jìn)樣器的運(yùn)轉(zhuǎn)情況,發(fā)現(xiàn)有轉(zhuǎn)速波動(dòng)情況,,及時(shí)維護(hù),。

  二,、鏡頭和測(cè)試窗口玻璃污染

  光學(xué)儀器的鏡頭污染是常見(jiàn)故障。激光粒度儀作為粉體檢測(cè)設(shè)備,,常常會(huì)面對(duì)多塵環(huán)境,,測(cè)試窗口鏡片則是會(huì)直接接觸粉體樣品的光學(xué)器件。聚焦透鏡或者準(zhǔn)直透鏡等光學(xué)鏡片受到使用環(huán)境中的浮塵污染或者發(fā)生霉菌污染,,會(huì)使純凈的測(cè)量光束產(chǎn)生雜散光,。這些雜散光會(huì)混入樣品的散射光中干擾測(cè)試;測(cè)量窗口鏡片上的污染物則會(huì)直接產(chǎn)生較強(qiáng)的散射光。

  因此,,光學(xué)鏡片污染是激光粒度儀測(cè)試結(jié)果漂移的首要元兇,。應(yīng)對(duì)辦法主要是盡量讓儀器處于干燥無(wú)塵的工作環(huán)境。經(jīng)常按照操作規(guī)程清洗鏡片,,光學(xué)鏡片的清潔,。

  三、激光光路偏移

  激光器是會(huì)發(fā)熱的器件,,工作周期內(nèi),,它們會(huì)周而復(fù)始的發(fā)熱-降溫-發(fā)熱。任何物體都會(huì)有熱脹冷縮現(xiàn)象,,幾何尺寸會(huì)隨溫度變化而變化,。而激光粒度儀光路裝配精度要求非常高,隨著儀器使用周期延長(zhǎng),,光路幾乎不可避免的會(huì)出現(xiàn)偏移現(xiàn)象,。光路偏移,會(huì)導(dǎo)致測(cè)量光束光能衰減,、探測(cè)器排布角度發(fā)生漂移,,從而導(dǎo)致測(cè)量數(shù)據(jù)漂移。

  應(yīng)對(duì)這個(gè)問(wèn)題主要靠?jī)x器從儀器設(shè)計(jì)上盡量減少出現(xiàn)光路偏移的可能性,,同時(shí)定期校準(zhǔn)光路也是非常重要的辦法,。

  四、測(cè)量參數(shù),、測(cè)量條件變動(dòng)

  分析模型、樣品測(cè)量參數(shù),、測(cè)試環(huán)境(例如濕度,、測(cè)試介質(zhì)溫度等)都有可能影響測(cè)試數(shù)據(jù)。我們首先要測(cè)試的分析模型,、樣品測(cè)量參數(shù)(特別是樣品折射率)選擇正確,。測(cè)試環(huán)境的影響,視不同樣品和儀器工作環(huán)境不同,,影響也差別很大,,很難簡(jiǎn)單舉例說(shuō)明,。需要具體情況具體分析。

  五,、光電探測(cè)器及其放大電路參數(shù)漂移

  這類問(wèn)題應(yīng)該屬于儀器制造質(zhì)量水平問(wèn)題,,,一般來(lái)說(shuō)任何電子電路和光電探測(cè)器都有工況漂移問(wèn)題,,差別只是漂移量不同,。這類問(wèn)題通常儀器用戶自己是無(wú)法解決的,需要儀器對(duì)儀器進(jìn)行專門(mén)的電路工況系數(shù)校準(zhǔn),。某些高水平的儀器,,能夠自行校準(zhǔn)自身電路工況漂移。

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