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上海長(zhǎng)肯試驗(yàn)設(shè)備(集團(tuán))有限公司

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當(dāng)前位置:上海長(zhǎng)肯試驗(yàn)設(shè)備(集團(tuán))有限公司>>直讀光譜儀>>光電直讀光譜儀>> CKQEM-034全譜直讀光譜儀

全譜直讀光譜儀

參  考  價(jià):面議
具體成交價(jià)以合同協(xié)議為準(zhǔn)

產(chǎn)品型號(hào):CKQEM-034

品       牌:其他品牌

廠商性質(zhì):生產(chǎn)商

所  在  地:上海市

更新時(shí)間:2025-03-18 17:50:42瀏覽次數(shù):3385次

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應(yīng)用領(lǐng)域 電子/電池,綜合
全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù),,采用全數(shù)字化技術(shù),,替代龐大的光電倍增管(PMT)模擬技術(shù),采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源,、CMOS檢測(cè)器,,高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng),使儀器具有較高的性能,、較低檢出線,、長(zhǎng)期的穩(wěn)定性和重復(fù)性。

全譜直讀光譜儀采用標(biāo)準(zhǔn)的設(shè)計(jì)和制造工藝技術(shù),,采用全數(shù)字化技術(shù),,替代龐大的光電倍增管(PMT)模擬技術(shù),采用真空光室設(shè)計(jì)及全數(shù)字激發(fā)光源,、CMOS檢測(cè)器,,高速數(shù)據(jù)讀出系統(tǒng),使儀器具有較高的性能,、較低檢出線,、長(zhǎng)期的穩(wěn)定性和重復(fù)性。

  全譜直讀光譜儀 應(yīng)用領(lǐng)域:冶金,、鑄造,、機(jī)械、科研,、商檢,、汽車(chē)、石化,、造船,、電力、航空,、核電,、金屬和有色冶煉、加工和回收工業(yè)中的各種分析,。

   檢測(cè)基體:鐵基,、銅基、鋁基,、鎳基,、鈷基,、鎂基、鈦基,、鋅基,、鉛基、錫基,、銀基,。

   主要技術(shù)參數(shù):

   

      波長(zhǎng)范圍:170nm~580nm

                   焦距:   400mm

             探測(cè)器:高性能CCD陣列

             光源類型:數(shù)字光源,高能預(yù)燃技術(shù)(HEPS

             放電頻率:100-1000Hz

             放電電流:400A

             工作電源:220VAC 50/60Hz

             儀器尺寸:720*860*500

             儀器重量:約100kg(不含真空系統(tǒng))

             檢測(cè)時(shí)間:依據(jù)樣品類型而定,,一般25S左右

             電極:鎢材噴射電

             光學(xué)恒溫:34℃± 0.3

             氬氣要求:99.999

             氬氣進(jìn)口壓力:0.5MPa

             氬氣流量:激發(fā)流量約3.5L/min

             工作溫度:10℃~35

             工作濕度:20%~85

             分析間隙:真空軟件自動(dòng)控制,、監(jiān)測(cè)

   技術(shù)特點(diǎn):

1、高性能光學(xué)系統(tǒng)

1》光學(xué)系統(tǒng)激發(fā)時(shí)產(chǎn)生的弧焰由透鏡直接導(dǎo)入真空光學(xué)室,,實(shí)現(xiàn)光路  直通,,有效的降低光路損耗;

2》高性能光學(xué)系統(tǒng)設(shè)計(jì)及采用高精度的光學(xué)元件可精確測(cè)定非金屬元素中C,、P,、SN以及各種元素含量,;  

3》測(cè)定結(jié)果準(zhǔn)確,,重現(xiàn)及長(zhǎng)期穩(wěn)定性。

2,、自動(dòng)光路校準(zhǔn)

1》自動(dòng)光路校準(zhǔn),,光學(xué)系統(tǒng)自動(dòng)進(jìn)行譜線掃描,確保接收的正確性,,免除繁瑣的波峰掃描工作,;

2》儀器自動(dòng)識(shí)別特定譜線與原存儲(chǔ)線進(jìn)行對(duì)比,確定漂移位置,,找出分析線當(dāng)前的像素位置進(jìn)行測(cè)定,。

3、單板式透鏡設(shè)計(jì)

1》真空光學(xué)系統(tǒng)采用*的入射窗與真空隔離,,可在真空系統(tǒng)工作狀態(tài)下進(jìn)行操作,,光學(xué)透鏡采用單板式透鏡結(jié)構(gòu),日常清洗維護(hù)方便快捷,。

2》在日常工作中儀器無(wú)需維護(hù),,也沒(méi)有消耗品及更換零部件。

4,、真空室一體化

1》*的光室結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),,使真空室容積更小,抽真空速度不到普通光譜儀的一半。

2》真空室一體化設(shè)計(jì)及高精密的加工,,使真空保持的更加持久,。

5、真空防返油技術(shù)

1》多級(jí)隔離的真空防返油技術(shù),,采用真空壓緊,、擋板閥保證真空泵不工作時(shí)間真空光室與真空*隔離。

2》中間增加了真空濾油裝置,,確保真空泵中油不進(jìn)入真空室,,保障CCD檢測(cè)器及光學(xué)元件在可靠環(huán)境中工作。

6,、開(kāi)放式激發(fā)臺(tái)

1》開(kāi)放式激發(fā)臺(tái)機(jī)靈活的樣品夾設(shè)計(jì),,以滿足客戶現(xiàn)場(chǎng)的各種形狀大小的樣品分析。

2》配合使用小樣品夾具,,線材分析可達(dá)到1.5mm

7,、噴射電極技術(shù):

1》采用噴射電極技術(shù),,使用鎢材料電極,在激發(fā)狀態(tài)下,,電極周?chē)鷷?huì)形成氬氣噴射氣流,,這樣在激發(fā)過(guò)程中激發(fā)點(diǎn)周?chē)粫?huì)與外界空氣接觸,提高激發(fā)精度,。

2》配上*氬氣氣路設(shè)計(jì),,大大降低了氬氣使用量,也降低客戶使用成本,。

8,、集成氣路模塊

1》激發(fā)臺(tái)采用散熱性能好的合金材料制作,不僅堅(jiān)固,、耐用而且清潔方便,。

2》供氣系統(tǒng)采用集成氣路模塊,電極自吹掃功能,,為激發(fā)創(chuàng)造了良好的環(huán)境,。

9、全數(shù)字化激發(fā)光源:

1》全數(shù)字激發(fā)光源,,采用等離子激發(fā)光源,,超穩(wěn)定能量釋放在氬氣環(huán)境中激發(fā)樣品。

2》全數(shù)字激發(fā)脈沖,,確保激發(fā)樣品等離子體超高分辨率和高穩(wěn)定率輸出,。

3》滿足各種不同材料的激發(fā)要求。

10、高速數(shù)據(jù)采集:

1》儀器采用高性能CCD器件,,紫外鍍膜技術(shù)及高性能FPGA,、DSP及ARM處理器。
《2》具有高速數(shù)據(jù)采集分析功能,,并能自動(dòng)實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)控制光室溫度,、真空度、氬氣壓力,、光源,、激發(fā)室等模塊的運(yùn)行狀態(tài)。

11,、以太數(shù)據(jù)傳輸:

《1》計(jì)算機(jī)和光譜儀之間使用以太網(wǎng)卡和TCP/IP協(xié)議,,避免電磁干擾,光纖老化的弊端,,同時(shí)計(jì)算機(jī)和打印機(jī)*外置,,方便升級(jí)和更換。

2》完備的網(wǎng)絡(luò)系統(tǒng),。

3》可以遠(yuǎn)程監(jiān)控儀器狀態(tài),,多通路操控系統(tǒng)控制和監(jiān)控所有的儀器參數(shù)。

12,、預(yù)制工作曲線:

1》根據(jù)元素和材質(zhì)對(duì)應(yīng)的分析程序而稍有差異,,激發(fā)和測(cè)試參數(shù)儀器出廠時(shí)已經(jīng)調(diào)節(jié)好,根據(jù)分析程序可自動(dòng)選擇測(cè)試條件,。

2》長(zhǎng)期以來(lái)工廠積累了大量的經(jīng)驗(yàn)以及全面的標(biāo)樣庫(kù),,儀器出廠時(shí)工廠預(yù)制工作曲線,使用戶拿到儀器后可投入使用,。

3》技術(shù)規(guī)格中附有分析范圍(并可根據(jù)用戶提供標(biāo)樣免費(fèi)繪制或延長(zhǎng)工作曲線),。

13、分析速度快捷:

1》分析速度快捷,,為客戶節(jié)約了寶貴的時(shí)間,,20秒內(nèi)可測(cè)完所有通道的元素成分。

2》針對(duì)不同的分析材料,,通過(guò)設(shè)置預(yù)燃時(shí)間及測(cè)量時(shí)間,,使儀器短時(shí)間達(dá)到分析效果。

14,、多基體分析

1》光路設(shè)計(jì)采用羅欄園結(jié)構(gòu),,CCD上下交替排列,保證接收全部的譜線,,不增加硬件設(shè)施,,即可實(shí)現(xiàn)多基體分析。

2》便于根據(jù)生產(chǎn)的需要增加基體及材料種類和分析元素。

3》相比光電倍(PMT)光譜儀可大大減低使用成本及使用范圍,。

















































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