納米顆粒跟蹤分析儀

納米顆粒跟蹤分析儀

Zetaview所具備的單一顆粒跟蹤技術(shù),，結(jié)合經(jīng)典微電泳技術(shù)和布朗運動成為現(xiàn)代的分析手段,。自動校準(zhǔn)和自動聚焦功能，讓用戶眼見為實,，更加直觀人性化,。通過子體積的掃描，來自于數(shù)以千計的顆粒的zeta電位和粒徑柱狀圖的結(jié)果就可以計算出來,。此外,，顆粒濃度也可以通過視頻計數(shù)分析得到。

Zetaview的特點 - 全自動和無源穩(wěn)定性

自動校準(zhǔn)程序會持續(xù)工作,，即便是樣品池被取出后,。防震動設(shè)計提高了視頻圖像的穩(wěn)定性。通過掃描多個子體積并進(jìn)行平均,，就可以得到可靠的統(tǒng)計結(jié)果,。有3種測量模式可供選擇：粒徑，zeta電位和濃度,。樣品池通道集成在一個插入式的盒子中,，盒子可提供溫度控制以及同管理單元的耦合。

• 自動掃描,，zui多可達(dá)100個子體積,；

• 自動聚焦；

• 小巧,，便于攜帶,；

• 防震動；

• 光源從紫外線到紅光,；

• 插入式樣品池,；

理論

平移擴(kuò)散常數(shù)可通過直接觀測待測顆粒的布朗運動計算得到。通過測試電泳遷移率,，可以得到zeta電位,。

納米粒子跟蹤分析（NTA）和動態(tài)光散射（DLS）

所有的光散射儀器，包括粒子跟蹤技術(shù),，都存在一個問題：當(dāng)顆粒大小低于100nm時,，靈敏度會迅速的降低。動態(tài)光散射技術(shù)的zui低檢測限是0.5nm,，對于納米顆粒跟蹤分析,，其zui低檢測限是10nm。通常,，DLS和NTA的主要區(qū)別就在于濃度范圍,。對于DLS，當(dāng)樣品濃度太低時,，zetaview可以非常圓滿的完成檢測任務(wù),。相反，對于高濃度的樣品,，DLS方法會非常的適合,。

測量范圍

測量范圍依賴于樣品和儀器。對于金樣品,，顆粒跟蹤技術(shù)的檢測下限為10nm,；相應(yīng)的，如果樣品的散射能力較弱,，則檢測下限會變得更大,。假如樣品穩(wěn)定，不會沉淀或漂浮,，zeta電位測量的粒徑上限為50微米,，對于粒徑測量為3微米。

源于視頻分析的顆粒計數(shù)

顆粒濃度可通過視頻分析得到,，并歸一化處理,，散射體積對粒徑?？蓹z測的zui小濃度為10⁵粒子/cm³,，zui大為10¹⁰粒子/cm³。對于200nm的顆粒，zui大體積濃度為1000ppm,。

準(zhǔn)確度和精度

Zeta電位：準(zhǔn)確度5mv,，精度4mv，重現(xiàn)性5mv,；

粒度測試（對于100納米的標(biāo)準(zhǔn)乳膠顆粒）：準(zhǔn)確度6nm,，精度4nm，重現(xiàn)性4nm,；

濃度測試（100納米的顆粒,，濃度10Mio粒子/ml）：準(zhǔn)確度0.8 Mio/ml，精度0.5Mio/ml,，重現(xiàn)性1Mio/ml,；

只要相機(jī)設(shè)置正確，樣品處理適當(dāng),，則以上所有的數(shù)據(jù)均有效,。

方法

Zetaview激光散射顯微鏡對于低于1微米衍射極限100倍的納米粒子是非常敏感的。

技術(shù)參數(shù)