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如何保證半導體曲線圖示儀的合理使用
半導體曲線圖示儀是一種用示波管顯示半導體器件各種特性曲線,，并可測量其靜態(tài)參數(shù)的測試儀器,。與其它同類型圖示儀相比,，主要區(qū)別在于采用了微機控制技術(shù),，引入了字符顯示,，光標測量功能,，使半導體管的各種靜態(tài)參數(shù),，包括β（hfe）、Gfs(gm) 均可光標測量,、數(shù)字讀出, 給用戶帶來更多方便,。為保證儀器的合理使用，既不損壞被測晶體管,，也不損壞儀器內(nèi)部線路,，在使用儀器前應注意下列事項：
1.對被測管的主要直流參數(shù)應有一個大概的了解和估計，特別要了解被測管的集電極大允許耗散功率PCM,、大允許電流ICM和擊穿電壓BVEBO,、BVCBO 。
2.選擇好掃描和階梯信號的極性,，以適應不同管型和測試項目的需要,。
3.根據(jù)所測參數(shù)或被測管允許的集電極電壓，選擇合適的掃描電壓范圍,。一般情況下,，應先將峰值電壓調(diào)至零，更改掃描電壓范圍時，也應先將峰值電壓調(diào)至零,。選擇一定的功耗電阻,，測試反向特性時，功耗電阻要選大一些,，同時將X,、Y偏轉(zhuǎn)開關(guān)置于合適擋位。測試時掃描電壓應從零逐步調(diào)節(jié)到需要值,。
4.對被測管進行必要的估算,，以選擇合適的階梯電流或階梯電壓，一般宜先小一點,，再根據(jù)需要逐步加大,。測試時不應超過被測管的集電極大允許功耗。
5.在進行ICM的測試時,，一般采用單簇為宜,，以免損壞被測管。
6.在進行IC或ICM的測試中,，應根據(jù)集電極電壓的實際情況選擇,，不應超過本儀器規(guī)定的大電流。
7.進行高壓測試時,，應特別注意安全,，電壓應從零逐步調(diào)節(jié)到需要值。觀察完畢,，應及時將峰值電壓調(diào)到零,。