由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低，他們的測量采用四端接線法,。為了滿足實際的需要,，本儀器采用四探針法原理來實現(xiàn)對不同金屬,、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子材料的電阻及電阻率的測量,?？捎糜诟咝Ｎ锢斫逃龑嶒灒瑢?dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究,。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10-5—106Ω,。 SB100A/3型四探針導(dǎo)體/半導(dǎo)體電阻率測量儀是由SB118/1型精密電壓電流源以及SB120/2四探針樣品平臺二臺儀器構(gòu)成。 l SB118型精密直流電壓電流源 （詳見該產(chǎn)品使用說明書） 直流電流源 a) 電流輸出范圍：1nA~200mA,，輸出電壓不小于5V,； b) 量程：分五檔，20μA,、200μA,、2mA、20mA,、200mA,； c) 電流輸出的基本誤差：0.03%RD±0.02%FS（20±2℃）；其中50~200mA為0.05%RD±0.02%FS,。 直流電壓源 a) 電壓輸出范圍：5μV~50V，負(fù)載電流不小于10mA（20mV以上）,； b) 量程：分五檔,，20mV、200mV,、2V,、20V、50V,，每檔均有粗調(diào)和細(xì)調(diào),； c) 電壓輸出的基本誤差：0.05%RD±0.02%FS（20±2℃）。 數(shù)字電壓表（4?LED）利用電壓源部分“取樣"端可對被測電壓進(jìn)行測試 a) 測量量程 20mV,，200mV,，2V，20V,，200V b) zui高分辨力 可達(dá)1µV c) 基本誤差為 0.03%RD±0.02%FS （20±2?C） l SB120/2四探針樣品平臺（詳見該產(chǎn)品使用說明書） 為被測薄膜樣品,，利用四探針測量方式測量導(dǎo)體/半導(dǎo)體樣品的電阻和電阻率，提供了方便,。 | 
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