SB100A/2為原TE100/1及TE100A/1的改進(jìn)型,。

由于金屬塊體材料的電阻和金屬薄膜的電阻很低,，他們的測量采用四端接線法。為了滿足實(shí)際的需要,，本儀器采用四探針法原理來實(shí)現(xiàn)對不同金屬,、半導(dǎo)體、導(dǎo)電高分子材料的電阻及電阻率的測量,?？捎糜诟咝Ｎ锢斫逃龑?shí)驗(yàn)，對導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻 及電阻率的測試及研究,。本產(chǎn)品的電阻測量范圍可達(dá)10^-6—10⁶Ω,。（使用環(huán)境5—40℃，相對濕度<80%,，供電220V  50Hz,，為實(shí)驗(yàn)室環(huán)境使用）

   SB100A/2由SB118直流電壓電流源、PZ158A直流數(shù)字電壓表,、SB120/2四探針樣品測試平臺三部分組成,。

l            SB118直流電壓電流源：是一臺4?位的電壓源及電流源，既可輸出5µV—50V,，5檔可調(diào)電壓,，基本誤差為±（0.1%RD+0.02%FS）又可輸出1nA—100mA，5檔可調(diào)電流,，基本誤差為

±（0.03%RD+0.02%FS）詳見本公司產(chǎn)品TE118,。

l            PZ158A直流數(shù)字電壓表：具有6?位字長，0.1μV電壓分辨力的帶單片危機(jī)處理技術(shù)的高精度電子測量儀器,，可測量0-1000V直流電壓,?；玖砍痰幕菊`差為±（0.002%RD+0.0005%FS），詳見本公司產(chǎn)品PZ158A,。

l            SB120/2四探針樣品測試平臺：該測試平臺是TE120/1測試平臺的改進(jìn)型,。其有底座、支架,、旋動部件,、樣品平臺、四探針及接線板等組成,。由于其整個結(jié)構(gòu)及旋動方式都在原SB120/1的基礎(chǔ)上作了很大的改進(jìn),，故在高校的物理實(shí)驗(yàn)及科學(xué)研究總為導(dǎo)體/半導(dǎo)體/金屬薄膜材料的電阻和電阻率的測試、研究提供了較大的方便,。