MC-3000C 0-5000um
MC-3000D 10-9000um
2,、顯示精度: 0.1um
4,、顯示方式 :
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更新時間:2016-12-23 10:42:20瀏覽次數(shù):419
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MC3000A高精度涂層測厚儀0.1um 影響因素的有關說明
a 基體金屬磁性質(zhì)
磁性法測厚受基體金屬磁性變化的影響(在實際應用中,低碳鋼磁性的變化可以認為是輕微的),,為了避免熱處理和冷加工因素的影響,,應使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準;亦可用待涂覆試件進行校準,。
b 基體金屬電性質(zhì)
基體金屬的電導率對測量有影響,,而基體金屬的電導率與其材料成分及熱處理方法有關。使用與試件基體金屬具有相同性質(zhì)的標準片對儀器進行校準,。
c 基體金屬厚度
每一種儀器都有一個基體金屬的臨界厚度,。大于這個厚度,測量就不受基體金屬厚度的影響,。本儀器的臨界厚度值見附表1,。
d 邊緣效應
本儀器對試件表面形狀的陡變敏感。因此在靠近試件邊緣或內(nèi)轉(zhuǎn)角處進行測量是不可靠的,。
e 曲率
試件的曲率對測量有影響,。這種影響總是隨著曲率半徑的減少明顯地增大。因此,,在彎曲試件的表面上測量是不可靠的,。
f 試件的變形
測頭會使軟覆蓋層試件變形,因此在這些試件上測出可靠的數(shù)據(jù),。
g 表面粗糙度
基體金屬和覆蓋層的表面粗糙程度對測量有影響,。粗糙程度增大,影響增大,。粗糙表面會引起系統(tǒng)誤差和偶然誤差,,每次測量時,在不同位置上應增加測量的次數(shù),,以克服這種偶然誤差,。如果基體金屬粗糙,還必須在未涂覆的粗糙度相類似的基體金屬試件上取幾個位置校對儀器的零點,;或用對基體金屬沒有腐蝕的溶液溶解除去覆蓋層后,,再校對儀器的零點。
g 磁場
周圍各種電氣設備所產(chǎn)生的強磁場,會嚴重地干擾磁性法測厚工作,。
h 附著物質(zhì)
本儀器對那些妨礙測頭與覆蓋層表面緊密接觸的附著物質(zhì)敏感,,因此,必須清除附著物質(zhì),,以保證儀器測頭和被測試件表面直接接觸,。
測頭壓力
測頭置于試件上所施加的壓力大小會影響測量的讀數(shù),因此,,要保持壓力恒定,。
測頭的取向
測頭的放置方式對測量有影響。在測量中,,應當使測頭與試樣表面保持垂直,。
MC3000A高精度涂層測厚儀0.1um 主要性能
● 基本測量模式:常規(guī)模式,zui小值模式,,統(tǒng)計模式
● 監(jiān)控測量模式:可進行差值設置,,上下限報警設置
● 可刪除存儲單個數(shù)據(jù),某一組數(shù)據(jù)或全部數(shù)據(jù)
● 可進行零點校準,、兩點校準及系統(tǒng)校準
● 可設置關機方式,,背光開或閉,恢復出廠狀態(tài)
● 可打印存儲值,,也可打印統(tǒng)計值
● 分組存儲數(shù)據(jù)共6組,,每組存100個測量點
●可分組查看存儲測量值
二、MC3000A涂層測厚儀技術參數(shù):
1,、測量范圍: MC-3000A 0-1200um
MC-3000C 0-5000um
MC-3000D 10-9000um
2,、顯示精度: 0.1um
3、欠電壓顯示: 左上角顯示""
4,、顯示方式 : 3位液晶數(shù)字顯示
5,、儲存方式: 手動存儲測量
6、測量誤差: 測量誤差(H為被測覆層厚度):
A: ±[(1~3)%H+1um]
C:±[(2~3)%H+1um]
D: ±(3%H+1um)
重復性:
A:±(0.5%H+1um)
C:±(1%H+1um)
D:±(1%H+2um)
顯示精度:0~99u:0.1 um,; 100~999um:1um,; 1mm~9mm: 0.01mm
7、存 儲 值: 6組每組100個測量點
8,、統(tǒng)計功能: 平均值,、zui大值、zui小值
9,、使用環(huán)境: 溫度0°C ~ 40°C 相對濕度小于90%
10,、電 源: 2節(jié)5號電池,連續(xù)使用時間達200小時
11,、自動關機: 可人工設置關機方式
12、鍵 盤: 6鍵防水,防油鍵盤
13,、尺寸/重量: 146*81*30MM 360克
14,、可選附件: 打印機及通訊打印連線 、微機通訊軟件,、內(nèi)防腐探頭
15,、標準配置: 主機、探頭,、標準樣片,、說明書 、保修卡,、合格證 ,、五號電池、手提箱
MC3000A高精度涂層測厚儀0.1um